HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的負(fù)載校正

Hqst盈盛（華強(qiáng)盛）電子導(dǎo)讀：上一節(jié)給大家分享了惠普公司的HP4263B型儀器HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的開(kāi)路校正，這節(jié)和大家分享HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的負(fù)載校正

一、HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x負(fù)載校正準(zhǔn)備

負(fù)載校正在正式檢測(cè)元件之前進(jìn)行。

進(jìn)行負(fù)載校正需要有一個(gè)預(yù)先精確測(cè)量好了的可作參考標(biāo)準(zhǔn)的元件。最好選擇阻抗值比較穩(wěn)定的電阻或電容作為標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載。在負(fù)載校正操作過(guò)程中，需要先向HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x輸入標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的值。輸完標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載值后，將標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載連接到夾具上。按下負(fù)載校正鍵后，液晶屏上顯示的將是標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載值。

從夾具上取走標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載，換上待檢測(cè)的元件，液晶屏上顯示的將是消除了夾具及其連線影響的待檢測(cè)元件的真實(shí)值。

二、HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x負(fù)載校正原理

下面以檢測(cè)電阻為例來(lái)說(shuō)明負(fù)載校準(zhǔn)的過(guò)程。檢測(cè)時(shí)，選用復(fù)阻抗表示待測(cè)元件值，并且主參數(shù)選為R、次參數(shù)選為X。R代表電阻本身的阻值，X代表其電抗。進(jìn)行負(fù)載校正操作之前，先將作為標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的電阻接到夾具上。

標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載校準(zhǔn)的過(guò)程如下：

第一步，將輸入標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的實(shí)數(shù)和虛數(shù)部分輸入到內(nèi)部微機(jī)內(nèi)存的指定存儲(chǔ)單元中。

第二步，測(cè)出標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載加上夾具及其連線的阻抗值，并把測(cè)到數(shù)據(jù)的實(shí)數(shù)和虛數(shù)部分存到另外兩個(gè)存儲(chǔ)單元中。

第三步，算出校正系數(shù)。

以ZsT、RsT和XsT依次表示已輸入的標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的阻抗、電阻和電抗，則有關(guān)系式：

ZsT=RsT+jXsT ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??(3,3.3)

以Z1、R1和X1依次表示測(cè)到的標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載加上夾具及其連線的阻抗、電阻和電抗，則有關(guān)系式：

Z1= R1+jZ1? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?(3.3.4)

以式(3.3.3)作分母，以式(3.3.4)作分子做除法運(yùn)算。運(yùn)算得到的商就是校正系數(shù)k，即

(3,3.5)

校正系數(shù)k是個(gè)復(fù)數(shù)，將此復(fù)數(shù)存入內(nèi)存的[R]和[X]兩個(gè)單元中。

第四步，開(kāi)始檢測(cè)其他待測(cè)元件

完成上述三步后，從夾具上取走標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載，換上其他待測(cè)元件。每進(jìn)行一次對(duì)其他待測(cè)元件測(cè)量，都要對(duì)測(cè)到的被測(cè)元件加上夾具及其連線的阻抗除以校正系數(shù)k。除得的商就是經(jīng)過(guò)校正后的被測(cè)元件的真實(shí)值。最后把被測(cè)元件的真實(shí)值顯示在液晶屏上。

在未進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載校準(zhǔn)之前，保存校正系數(shù)的兩個(gè)存儲(chǔ)單元中的值為：[R]=1.0000Ω，[X]=0.0000Ω。其校正系數(shù)k=1，一個(gè)復(fù)數(shù)除以實(shí)數(shù)1，不會(huì)有任何變化，等于沒(méi)有校正，因而，在未進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載校準(zhǔn)之前，直接檢測(cè)待測(cè)元件，得到數(shù)據(jù)將是待測(cè)元件加上夾具及其連線的阻抗值。

三、HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的三種檢測(cè)校正原理解析

HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的三種檢測(cè)校正與彈簧稱物校正的類比

用彈簧稱物與HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x檢測(cè)元件很相似。用彈簧稱物時(shí)，在未加載待稱物之前，需要檢查指針是否指在0點(diǎn)，如果偏離0點(diǎn)就要將指針調(diào)到0點(diǎn)。HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的短路校正和開(kāi)路校正，相當(dāng)于將彈簧秤的指針調(diào)到0點(diǎn)。

HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的負(fù)載校正相當(dāng)于用標(biāo)準(zhǔn)重量的物體對(duì)彈簧秤的刻度進(jìn)行校正。例如，標(biāo)準(zhǔn)重量為1kg的物體被稱成1.1kg，則校正系數(shù)為1.1。在稱其他物體時(shí)要對(duì)稱出的結(jié)果除以1.1之后，才能獲得物體真實(shí)重量。

以上就是惠普公司的HP4263B型LCR測(cè)量?jī)x的負(fù)載校正

接下來(lái)石門盈盛電子工程技術(shù)將分幾節(jié)開(kāi)始介紹：耐壓強(qiáng)度/絕緣電阻檢測(cè)儀的工作原理及其注意事項(xiàng)

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審核編輯：湯梓紅