WD4000國產(chǎn)晶圓幾何形貌量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵
2024-03-15 09:22:08
起振。2.觀察波形：
使用示波器觀察晶振兩端的波形。起振時，應(yīng)能看到清晰、整齊的波形。
若波形異常或完全沒有波形，這可能表示晶振不起振。3.測試頻率：
使用頻率計(jì)數(shù)器測試晶振的輸出腳或輸入腳頻率
2024-03-06 17:22:17
我使用的是CY8C4025AXI-S412,請問在什么情況下外部晶振會自動跳轉(zhuǎn)到內(nèi)部晶振？能再跳轉(zhuǎn)回外部晶振嗎？
2024-03-06 06:04:19
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)是通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷?？杉嫒莶煌馁|(zhì)
2024-02-21 13:50:34
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2024-01-09 09:08:07
如何判斷有源晶振的工作電壓？從晶振的表面能看的出來嗎？
求高手幫忙
2024-01-09 06:00:34
WD4000半導(dǎo)體量檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反應(yīng)表面
2024-01-03 10:02:59
后，這些芯片也將被同時加工出來。
材料介質(zhì)層參見圖3，芯片布圖上的每一層圖案用不同顏色標(biāo)示。對應(yīng)每一層的圖案，制造過程會在硅晶圓上制做出一層由半導(dǎo)體材料或介質(zhì)構(gòu)成的圖形。本文把這些圖形層稱之為材料介質(zhì)
2024-01-02 17:08:51
TC-Wafer是將高精度溫度傳感器鑲嵌在晶圓表面，對晶圓表面的溫度進(jìn)行實(shí)時測量。通過晶圓的測溫點(diǎn)了解特定位置晶圓的真實(shí)溫度，以及晶圓整體的溫度分布，同還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度
2023-12-21 08:58:53
WD4000晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV
2023-12-20 11:22:44
中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
請問AD9956如果選擇直接用外部晶振時鐘，對晶振的頻率有要求嗎？一定要400M，還是只要不超過400M就可以，比如20M。謝謝！
2023-12-13 08:55:39
我在使用AD7768的過程中，clk_sel拉高，使用外部晶振或者LVDS，使用LVDS的時候采樣正常，但是用無源晶振的時候晶振無法起振，是不是除了clk_sel拉高之外還需要什么設(shè)置才會使用外部晶振
2023-12-11 08:22:54
設(shè)計(jì)時，AD2S1210的時鐘輸入采用8.192MHZ的有源晶振，選擇晶振時對有源晶振的功率有什么要求？？？一個有源晶振能不能給兩個AD2S1210芯片提供時鐘輸入？？？感謝！
2023-12-07 07:07:43
我們在使用AD9361的過程中發(fā)現(xiàn)，使用無源晶振會比使用有源晶振具備更好的帶外抑制，請問這是什么原因?qū)е碌?，要如何做調(diào)整，我們最終需要使用有源晶振。兩者輸出頻譜的效果如下：
有源晶振，偏離中心
2023-12-06 07:45:51
晶圓測溫系統(tǒng)tc wafer晶圓表面溫度均勻性測溫晶圓表面溫度均勻性測試的重要性及方法 在半導(dǎo)體制造過程中，晶圓的表面溫度均勻性是一個重要的參數(shù)
2023-12-04 11:36:42
上海伯東代理美國 inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱通過可設(shè)計(jì)的孔徑, 端口直接集成到拉伸測試裝置. 將溫度測試與拉伸測試相結(jié)合, 進(jìn)行材料拉伸高低溫試驗(yàn). 溫度范圍 -185°C 至 500°C, 符合 ASTM, MIL-STD 測試要求.
2023-12-01 14:13:21
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什么是超導(dǎo)體？ 超導(dǎo)體是指在低溫下具有零電阻和完全電磁排斥的材料。它們具有許多特殊的電磁性質(zhì)，使得它們在許多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。本文將詳細(xì)介紹超導(dǎo)體的基本原理、關(guān)鍵特性以及常見的應(yīng)用。 超導(dǎo)的原理可以
2023-11-29 16:15:45600 請問像AD8233一樣的晶圓封裝在PCB中如何布線，芯片太小，過孔和線路都無法布入，或者有沒有其他封裝的AD8233
2023-11-14 07:01:48
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌自動檢測機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2023-11-06 10:47:07
外部晶振斷電內(nèi)部晶振是不是迅速起電
2023-11-03 08:02:15
51 單片機(jī)晶振電路原理是什么？
2023-10-31 07:39:00
晶振的作用是啥？只是為了提供時鐘周期嗎？
2023-10-25 07:19:37
WD4000半導(dǎo)體晶圓表面三維形貌測量設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓮V泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示
2023-10-23 11:05:50
WD4000半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08:24
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三維形貌 、單層膜厚 、多層膜厚 。使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09:00
2.4TFT屏幕上怎么畫實(shí)心圓？
2023-10-16 09:12:27
stm32有內(nèi)部晶振，為什么還要用外部晶振？
2023-10-13 06:19:46
GD32的晶振和STM32的晶振連接有什么不同的地方
2023-10-11 07:58:05
超導(dǎo)體電阻是絕對為零嗎？ 對于超導(dǎo)體電阻為零的問題，要從超導(dǎo)體的特性和理論來進(jìn)行全面分析。首先，我們需要了解什么是超導(dǎo)體？ 超導(dǎo)體（Superconductor），是指在低溫下電阻為零（或近似于
2023-09-19 15:56:521302 PFA花籃（PFA wafer Cassette） 又名 清洗花藍(lán) ，鐵氟龍卡匣 ， 鐵氟龍晶舟盒 ，鐵氟龍晶圓盒為承載半導(dǎo)體晶圓片/硅片
2023-08-29 08:57:51
計(jì)算機(jī)模擬和計(jì)算等手段來精確測量參數(shù)。
無論是研究材料性質(zhì)、表面形貌，還是進(jìn)行質(zhì)量控制和判別等方面，白光干涉儀都具有廣泛的應(yīng)用前景。
SuperViewW1白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，測試各類
2023-08-21 13:46:12
超導(dǎo)若能實(shí)現(xiàn)工程應(yīng)用，意味著人類能源儲存和傳輸效率產(chǎn)生顛覆性改變；而超導(dǎo)材料的應(yīng)用，也意味著在計(jì)算機(jī)芯片乃至可控核聚變等領(lǐng)域，都有著更加光明的前景。
2023-08-07 11:08:12646 開展了廣泛實(shí)驗(yàn)，試圖復(fù)現(xiàn)韓國團(tuán)隊(duì)的研究結(jié)果。然而，韓國團(tuán)隊(duì)制造的樣品是否真的滿足“常溫常壓”超導(dǎo)體特性，目前存在很大爭議，因?yàn)檎撐暮鸵曨l不足以證明。 由韓國超導(dǎo)體專家組成的韓國超導(dǎo)低溫學(xué)會表示，某研究所制造的LK-99材料不足以證明
2023-08-04 17:00:02323 
超導(dǎo)體不僅在臨界溫度下具有零電阻特性，而且在一定的條件下具有常規(guī)導(dǎo)體完全不具備的電磁特性，因而在電氣與電子工程領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價值。一般情況下都是將超導(dǎo)材料加工成線材及塊狀材料等形態(tài)，應(yīng)用于相關(guān)
2023-08-04 10:32:323573 據(jù)韓聯(lián)社8月3日報(bào)道，由國內(nèi)
超導(dǎo)體專家組成的韓國
超導(dǎo)低溫學(xué)會表示，一個研究所制造的lk-99
材料沒有出現(xiàn)“邁斯納效果”，不足以證明是常溫常壓
超導(dǎo)體。學(xué)會還要求該研究所提供驗(yàn)證所需的樣品，但得到的回答是：“由于投稿的論文
正在審查中，因此可以在審查結(jié)束后的2、4周內(nèi)收到?！?/div>
2023-08-04 09:35:31322 大量能源情況下，創(chuàng)造超強(qiáng)磁場。 就目前而言，很多材料并不限于特定的元素或材料類型都在一定的特殊環(huán)境下可以實(shí)現(xiàn)超導(dǎo)現(xiàn)象，比如在極低溫或極高壓環(huán)境狀態(tài)下出現(xiàn)。 常見的超導(dǎo)體有哪些 超導(dǎo)體可以分為化學(xué)材料超導(dǎo)體、合金
2023-08-03 16:58:315296 都還在實(shí)驗(yàn)室里面待著了，我們這里重點(diǎn)給大家講解下超導(dǎo)體的應(yīng)用有哪些？ 所謂的超導(dǎo)體就是電阻接近零的導(dǎo)體，超導(dǎo)體的另一個重要特征是完全抗磁性。但是目前科學(xué)界發(fā)現(xiàn)的超導(dǎo)材料，都是指在某一溫度下，電阻為零的導(dǎo)體。
2023-08-02 18:25:353454 最近有一個重磅消息震驚科學(xué)界，尤其是材料研究領(lǐng)域，Aigtek安泰電子小編今天就帶你一探究竟！近日，有韓國科學(xué)家團(tuán)隊(duì)宣稱發(fā)現(xiàn)了全球首個室溫超導(dǎo)材料——“改性鉛磷灰石晶體結(jié)構(gòu)（LK-99）”。 這一
2023-08-02 18:10:43530 
#室溫超導(dǎo)材料距離商業(yè)化尚遠(yuǎn)：實(shí)驗(yàn)結(jié)果從實(shí)驗(yàn)室走到商業(yè)化應(yīng)用放量都需要一定的時間，低溫超導(dǎo)現(xiàn)象從1910s被發(fā)現(xiàn)，到八十年代才成熟應(yīng)用在醫(yī)療核磁共振領(lǐng)域；而高溫超導(dǎo)材料在八十年代末被發(fā)現(xiàn)，因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">材料制備工藝復(fù)雜，直到35年后才進(jìn)入市場化應(yīng)用。
2023-08-02 15:16:56423 超導(dǎo)材料是指各種金屬化合物或合金，可以在沒有電阻的情況下導(dǎo)電/充電，也不會散發(fā)熱量、聲音或能量，是一類在極低溫下表現(xiàn)出超導(dǎo)現(xiàn)象的材料。常用的超導(dǎo)材料包括鎵、鎘、鋁、釩、鋅、鎢、釷、鉛、鈦和鑭。這些
2023-07-31 18:03:44492 超導(dǎo)體是指在某一溫度下具有零電阻和完全磁通排斥效應(yīng)的導(dǎo)體。這一特性使他們有別于所有其他導(dǎo)電材料，當(dāng)電流流過時不會損失能量也不會發(fā)熱。若使用超導(dǎo)體制造變壓器、發(fā)電機(jī)、電動機(jī)、限流器以及儲能系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)
2023-07-31 14:13:32454 
晶圓測溫系統(tǒng)，晶圓測溫?zé)犭娕迹?b class="flag-6" style="color: red">晶圓測溫裝置一、引言隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展，晶圓制造工藝對溫度控制的要求越來越高。熱電偶作為一種常用的溫度測量設(shè)備，在晶圓制造中具有重要的應(yīng)用價值。本文
2023-06-30 14:57:40
不同封裝的晶振，有什么差別沒有
2023-06-26 06:09:47
芯片功能測試常用5種方法有板級測試、晶圓CP測試、封裝后成品FT測試、系統(tǒng)級SLT測試、可靠性測試。
2023-06-09 16:25:42
我有一塊STM32U575的板子，沒焊外部高速晶振，本來上面標(biāo)著16兆晶振，四個腳的，我在淘寶上買了一些32M的晶振。
淘寶上寫著匹配晶振8pF,我忘買了，搞了兩個4.7pF的晶振，用STM32CubeMX生成代碼，就是讓一個燈閃。
可是燈一直不閃。我想會不會是匹配晶振的原因。請高手指教，謝謝！
2023-06-02 16:42:20
低溫測試條件怎么制定，低溫測試標(biāo)準(zhǔn)有那些，常規(guī)的低溫測試那些產(chǎn)品需要做。
2023-05-27 11:08:31579 航空材料高低溫拉力試驗(yàn)機(jī)是專門用于測試航空材料在高溫和低溫環(huán)境下的拉力性能的設(shè)備。這些試驗(yàn)機(jī)通常具有特殊的設(shè)計(jì)和功能，以滿足航空領(lǐng)域?qū)?b class="flag-6" style="color: red">材料性能測試的特殊需求。配上相應(yīng)的工裝，可做常溫下拉伸、壓縮
2023-05-19 09:22:17333 
請教一下，有部分工程師使用的0402以上阻容件封裝焊盤呈子彈頭設(shè)計(jì)（焊盤內(nèi)測導(dǎo)圓），這樣設(shè)計(jì)走什么優(yōu)缺點(diǎn)呢？
2023-05-11 11:56:44
半導(dǎo)體大規(guī)模生產(chǎn)過程中需要在晶圓上沉積集成電路芯片，然后再分割成各個單元，最后再進(jìn)行封裝和焊接，因此對晶圓切割槽尺寸進(jìn)行精準(zhǔn)控制和測量，是生產(chǎn)工藝中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。
2023-05-09 14:12:38
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫
2023-05-08 11:29:03649 
半導(dǎo)體大規(guī)模生產(chǎn)過程中需要在晶圓上沉積集成電路芯片，然后再分割成各個單元，最后再進(jìn)行封裝和焊接，因此對晶圓切割槽尺寸進(jìn)行精準(zhǔn)控制和測量，是生產(chǎn)工藝中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。
2023-04-28 17:41:49
JY-V620是一款集天線、放大器、控制器、紅外感應(yīng)于一體的半導(dǎo)體電子貨架RFID讀寫器，工作頻率134.2kHz，兼容TI系列玻璃管標(biāo)簽。工作時讀寫器通過紅外感應(yīng)FOUP晶圓盒，觸發(fā)天線讀取
2023-04-23 10:45:24
有著明顯優(yōu)勢。接下來我們介紹Firstohm的SFP系列晶圓電阻。SFP系列穩(wěn)定功率型晶圓電阻，具有較強(qiáng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)可抵抗振動和熱沖擊，低溫度系數(shù)和公差，長時間使用穩(wěn)定性高，承受功率的能力好。耐高壓能力
2023-04-20 16:34:17
高低溫沖擊試驗(yàn)是一種測試材料承受極端溫度變化的試驗(yàn)方法。高低溫沖擊試驗(yàn)通常用于測試電子元件、汽車零部件和航空航天部件等工業(yè)制品的可靠性和耐久性。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求，高低溫沖擊試驗(yàn)應(yīng)在符合環(huán)境溫度要求的加熱
2023-04-07 11:22:42477 
晶圓GDP2604003D負(fù)壓救護(hù)差壓3Kpa壓力傳感器裸片XGZGDP2604 型壓力傳感器晶圓產(chǎn)品特點(diǎn)：測量范圍-100…0～1kPa…1000kPa壓阻式原理表壓或絕壓形式***的穩(wěn)定性、線性
2023-04-06 15:09:45
wafer晶圓GDP703202DG恒流1mA表壓2Mpa裸片壓力傳感器die產(chǎn)品概述：GDP0703 型壓阻式壓力傳感器晶圓采用 6 寸 MEMS 產(chǎn)線加工完成，該壓力晶圓的芯片由一個彈性膜及集成
2023-04-06 14:48:12
SIM->UIDL：923029061我如何使用這些來派生一個唯一的 32 位 UID。（其他制造商芯片的經(jīng)驗(yàn)是，出廠值通常包括批號和/或晶圓序列號+晶圓上的位置，和/或 ROM 編程日期戳，和/或唯一
2023-03-31 06:40:48
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