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SCAN921224 具有 IEEE 1149.1 測試訪問的 20 MHz-66MHz 10 位解串器

數(shù)據(jù):

描述

SCAN921023將10位寬并行LVCMOS /LVTTL數(shù)據(jù)總線轉換為帶有嵌入式時鐘的單個高速總線LVDS串行數(shù)據(jù)流。 SCAN921224接收總線LVDS串行數(shù)據(jù)流,并將其轉換回10位寬的并行數(shù)據(jù)總線,并恢復并行時鐘。這兩款器件均符合IEEE 1149.1標準測試訪問端口和邊界掃描架構,并集成了定義的邊界掃描測試邏輯和測試訪問端口,包括測試數(shù)據(jù)輸入(TDI),測試數(shù)據(jù)輸出(TDO),測試模式選擇( TMS),測試時鐘(TCK)和可選的測試重置( TRST )。 IEEE 1149.1功能為設計人員或測試工程師提供了對背板或電纜互連的訪問,以及驗證差分信號完整性以增強其系統(tǒng)測試策略的能力。這對器件還具有高速BIST模式,可以快速驗證串行器和解串器之間的互連。

SCAN921023通過背板或電纜傳輸數(shù)據(jù)。單差分對數(shù)據(jù)路徑使PCB設計更容易。此外,減少的電纜,PCB走線數(shù)量和連接器尺寸極大地降低了成本。由于一個輸出串行傳輸時鐘和數(shù)據(jù)位,因此可以消除時鐘到數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)到數(shù)據(jù)的偏移。當不使用任何一個器件時,掉電引腳通過降低電源電流來節(jié)省功耗。在串行器啟動時,您可以選擇激活同步模式或允許解串器使用同步到隨機數(shù)據(jù)功能。通過使用同步模式,解串器將在指定的鎖定時間內建立對信號的鎖定。此外,嵌入式時鐘確保每12位周期在總線上進行轉換。這消除了由于充電電纜條件導致的傳輸錯誤。此外,您可以將SCAN921023輸出引腳置于TRI-STATE以實現(xiàn)高阻態(tài)。 PLL可鎖定20 MHz至66 MHz之間的頻率。

特性

  • IEEE 1149.1(JTAG)兼容和全速BIST測試模式
  • 從PLL鎖定到隨機數(shù)據(jù)模式的時鐘恢復
  • 確保每個數(shù)據(jù)傳輸周期的轉換
  • 芯片組(Tx + Rx)功耗< 500 mW(典型值)@ 66 MHz
  • 單個差分對消除了多通道偏移
  • 流通引腳排列,便于PCB布局
  • 660 Mbps串行總線LVDS數(shù)據(jù)速率(66 MHz時鐘)
  • 1字節(jié)Data Plus 2控制位的10位并行接口
  • 同步模式和LOCK指示燈
  • 可編程邊沿觸發(fā)時鐘
  • 電源關閉時接收器輸入的高阻抗
  • 27Ω負載的總線LVDS串行輸出
  • 小型49引腳NFBGA封裝

所有商標均為其各自所有者的財產。

參數(shù) 與其它產品相比?其他接口

?
Operating Temperature Range (C)
Package Group
Package Size: mm2:W x L (PKG)
Pin/Package
SCAN921224 SCAN921260
-40 to 85 ? ? -40 to 85 ? ?
NFBGA ? ? NFBGA ? ?
49NFBGA: 49 mm2: 7 x 7(NFBGA) ? ? 196NFBGA: 225 mm2: 15 x 15(NFBGA) ? ?
49NFBGA ? ? 196NFBGA ? ?

方框圖 (1)

技術文檔

數(shù)據(jù)手冊(1)
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