A0040A 光噪聲分析儀
Keysight Technologies and SYCATUS
以功率譜密度形式捕獲并顯示光頻率噪聲 1/f 噪聲、白噪聲和洛倫茲線寬分析 ITLA等數(shù)字相干傳輸系統(tǒng)的評(píng)估 選配RIN / 激光線寬測試功能
SYCATUS提供的光頻率噪聲測試方案-A0040A光噪聲分析儀。A0040A以功 率譜密度形式來分析光頻率噪聲。
隨著數(shù)字相干傳輸方案的演進(jìn)，激光源的光譜純度成為重要的關(guān)注指標(biāo)。另外， ITLA等的激光源面臨著頻率波動(dòng)問題，這是由電路的集成化或者復(fù)雜控制方 案導(dǎo)致的EMI引起的。
激光線寬測試是評(píng)估激光源光譜純度的傳統(tǒng)。但是激光線寬不足以分析光頻率 噪聲的成分。 在數(shù)字相干傳輸系統(tǒng)中基于DSP的頻偏補(bǔ)償受到帶寬限制，因此光頻率噪聲的頻譜 分析顯得格外重要。
A0040A通過集成SYCATUS的技術(shù)和是德科技的X系列信號(hào)分析儀，以功率譜 密度形式展現(xiàn)光頻率噪聲的特性。
A0040A 光噪聲分析儀是個(gè)以功率譜密度形式來分析光頻率噪聲的解決方案。
A0040A可以分析數(shù)字相干傳輸系統(tǒng)激光器的1/f噪聲，白噪聲和洛倫茲線寬
A0040A能夠檢測出由Dither和EMI引起的寄生噪聲，這是ITLA開發(fā)中必要的測試項(xiàng)目。
A0040A提供高速，簡便而又穩(wěn)定的測量與操作，而且不需要參考激光源和頻率調(diào)諧。
