E8364B
Agilent E8364B PNA系列網(wǎng)絡分析儀 10MHz-50GHz
主要技術指標
104 dB的動態(tài)范圍，<0.006 dB的跡線噪聲
26微秒/點的測量速度，32個通道，16,001點
的晶片上、夾具內、波導和天線測量的TRM/LRM校準
混頻器轉換損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD和脈沖射頻
安捷倫E8364B矢量網(wǎng)絡分析儀隸屬于PNA系列網(wǎng)絡分析儀平臺，是為滿足通用網(wǎng)絡分析需求而設計的。其*的功能可以幫助您迅速、簡便、地完成工作。
104 dB的動態(tài)范圍及<0.006 dB的軌跡噪聲
26 μs/點的測量速度，32條測量通道，每條通道多16,001點
支持TRM/LRM校準，提供的晶片、夾具和波導測量
混頻轉換損耗、反射波損耗、隔離與群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD及脈沖RF
是德科技（安捷倫）E8364B 的特點：
高動態(tài)范圍：測試端口 20 GHz 時為 127 dB
快速測量速度：4.5 至 26 微秒/點
高穩(wěn)定性：0.05 dB/攝氏度
的校準能力和廣泛的電子校準件模塊
混頻器和脈沖測量的高級應用
單端和平衡測量
32 個測量通道，無限軌跡，每通道 16,001 個點
連接 Open Windows XP、6 個 USB 連接器、LAN 和 GPIB
Keysight (Agilent) E8364B 的功能：
攪拌機測量：
轉換損耗/增益、幅度和相位
輸入匹配、輸出匹配和 LO 匹配
隔離壓縮
兩個具有 +13 dBm 功率和 < 60 dBc 諧波的內部獨立合成器消除了對外部合成器或組件的需要。
高級糾錯
獲得的矢量混頻器校準，用于測量*群延遲
用于匹配校正幅度測量的標量混頻器校準 (SMC)
固定中頻的速度明顯加快（比使用外部源快 20 到 30 倍）
易于配置的多級轉換器測量
LO 源控制和 LO 功率校準
調音臺IMD
簡單的兩步 SMC 校準提供匹配校正轉換損耗、誤差校正輸入和輸出匹配
嵌入式 LO 的軟件調諧
使用增益壓縮應用程序進行簡單、快速和準確的 AM-AM 和 AM-PM 壓縮測量，在 20 GHz 時具有 38 dB 功率掃描范圍，+13 dBm 輸出功率
使用 < 60 dBc 的源諧波準確測試諧波。無需外部過濾器。
使用位于耦合器后面的雙源和內部組合器的和簡單的 IMD，提供高度和穩(wěn)定的測量。無需外部組合器。
具有精度的源校正噪聲系數(shù)測量
用于測量優(yōu)化的集成源衰減器和接收器衰減器
使用 PNA–X 通過單一連接執(zhí)行上述有測量。
脈沖射頻測量：
寬帶和窄帶檢測
多達四個內部脈沖發(fā)生器
多兩個內部脈沖調制器
脈沖寬度窄至 33 ns
脈沖到脈沖
脈沖點、平均脈沖和脈沖輪廓功能
無需外部元件
基本測量：
插入損耗、增益、回波損耗、隔離、群延遲、壓縮、幅度和相位
連接器化、夾具內或晶圓上
快速準確
可靠且可重復
實惠
晶圓上測量：
用于測量的 TRL 校準等級
集成多端口網(wǎng)絡分析儀的差分測量功能
用于器件表征的功率控制和去嵌入算法
與晶圓上校準軟件兼容以獲得完整的解決方案
差分測量：
單端、平衡、混合模式
S參數(shù)
成比例和非成比例測量
模式轉換分析
真模式刺激測量
多端口測量：
針對您的設備優(yōu)化的多端口配置，包括全交叉
用于快速、多端口校準的快速短路開路負載直通 (QSOLT)
N 端口校準可確保準確性和易于測量
PNA 固件的測試儀控制部分
32個獨立通道，測量速度快
