E8364C
Agilent E8364C 網(wǎng)絡(luò)分析儀是 Agilent PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀（高性能網(wǎng)絡(luò)分析儀）的一部分，具有滿足您關(guān)鍵需求的高準確度。Agilent E8364C 具有 10 MHz 至 50 GHz 的寬頻率范圍，并具有 2 個端口和 4 個接收器。具有四個接收器的集成 S 參數(shù)測試裝置可實現(xiàn)真正的 TRL 校準。TRM/LRM 校準、晶圓上、夾具內(nèi)、波導(dǎo)和天線測量都是該網(wǎng)絡(luò)分析儀功能的一部分。
帶有觸摸屏（1024x768 分辨率）的大型 8.4 LCD 前面板顯示器集成到儀器中。增強的 Windows 圖形用戶界面。具有無需鼠標即可簡單操作的硬鍵和軟鍵。
選項 14 提供可選的可配置測試裝置。
Agilent E8364C 網(wǎng)絡(luò)分析儀的特性和規(guī)格包括：
< 26 微秒/點測量速度
測量通道：32個獨立測量通道
每次掃描的測量點數(shù)：用戶可定義從 2 到 20,001
高達 50 GHz 的系統(tǒng)動態(tài)范圍：10 Hz IF 帶寬時為 104 dB 標準
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
混頻器轉(zhuǎn)換損耗、回波損耗、隔離度和絕對群延遲
跡線噪聲：< 0.006 dB rms 在 1 kHz IF 帶寬標準和選項 14
標稱功率：-12 dBm 標準，-17 dBm，選項 14 和 UNL
頻率分辨率：1赫茲
相位噪聲：-50 dBc，1 kHz 偏移標稱值
測試端口本底噪聲：< -114 dBm 10 Hz IF 帶寬標準
IF 帶寬范圍：1 Hz 至 40 kHz，標稱
射頻連接器 2.4 毫米公頭（50 歐姆）
VGA 視頻輸出 - 15 針迷你 D-Sub
接口：
GPIB-兩個端口：專用控制器和專用講者/聽者
前面板上的 USB-1 端口和后面板上的 4 個端口
LAN-10/100 BaseT 以太網(wǎng)；8 針配置自動選擇
是德科技提供各種具有不同測量頻率范圍、性能和功能的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，能夠滿足用戶不同的測量需求。這份選型指南概括介紹了是德科技所有的網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品，提供了同類產(chǎn)品間的比較，以幫助您選擇適合的解決方案。 此外，資料中還介紹了網(wǎng)絡(luò)分析儀的典型應(yīng)用、各種測量需求以及是德科技網(wǎng)絡(luò)分析儀如何滿足這些需求
有源器件評估和測試測量挑戰(zhàn)是德科技網(wǎng)絡(luò)分析儀可以表征和測試放大器、混頻器和變頻器等有源元器件。 它們可輕松進行放大器的常規(guī)參數(shù)測量，例如增益、增益和相位壓縮、隔離度、回波損耗和群時延。 諧波失真分析有助于了解放大器的非線性特性，需要將接收機調(diào)諧到與信號源不同的頻率上。 由于頻率轉(zhuǎn)換器件（例如混頻器和變頻器）的輸入頻率和輸出頻率不同，因此對其進行準確測量有很大的挑戰(zhàn)性。 用于測試這些器件的網(wǎng)絡(luò)分析儀必須具有頻率偏置模式（FOM），才能測量這種輸入頻率和輸出頻率不同的器件。使用其他儀器和信號調(diào)節(jié)器件進行雙音以及更大輸入/輸出功率的測試，或者是進行其他類型的測量（例如噪聲系數(shù)、EVM 和相位噪聲測量）通常會要求測試系統(tǒng)包含多個工作站，從而復(fù)雜程度大幅增加。是德科技解決方案對于有源元器件的矢量網(wǎng)絡(luò)分析，是德科技提供了廣泛、靈活和價格經(jīng)濟的測試解決方案。 是德科技 VNA具有準確度超高的線性和非線性表征功能。 除了性能高的優(yōu)勢以外，結(jié)合使用多款測量應(yīng)用軟件，顯著簡化設(shè)置，縮短測試時間并提高測量準確度。
關(guān)鍵特性和測量
S 參數(shù)測量：增益、匹配和隔離度
頻偏測量（FOM）
準確的信號源輸出功率和絕對功率測量：信號源和接收機校準、功率傳感器失配校正、接收機電平調(diào)節(jié)
增益壓縮、AM-AM 和 AM-PM 轉(zhuǎn)換：功率掃描，信號源和接收機校準
直流偏置：內(nèi)置直流偏置源/直流源控制/內(nèi)置偏置三通
功率附加效率：直流輸入和/或直流電表控制
可進行大功率/脈沖配置，包括可配置的測試儀、大輸出功率、信號源和接收機衰減器、內(nèi)置脈沖發(fā)生器、外部脈沖發(fā)生器控制、內(nèi)置脈沖調(diào)制器
變頻器測量：變頻增益/損耗/相位/群時延：信號源和接收機校準、標量/矢量混頻器校準、幅度和相位校準
LO 驅(qū)動/測量：第二個內(nèi)置信號源、外部射頻源控制、3 端口校準和測量、LO 功率校準、嵌入式LO 相位噪聲測量
混頻器拓撲：掃描射頻、掃描/固定 LO（固定 IF/掃描 IF）、雙級變頻器、配有內(nèi)置 LO 的變頻器
諧波失真：信號源和接收機校準、較低的信號源諧波、接收機衰減器
互調(diào)失真（IMD）：第二個內(nèi)置信號源或外部信號源控制、內(nèi)置合路器、掃描 IMD
相位噪聲、AM 噪聲和殘余噪聲測量
噪聲系數(shù)測量
頻譜分析
有源熱參數(shù)：實際工作條件下的放大器測試，消除系統(tǒng)間的相關(guān)性問題
差分和 I/Q 器件測量
使用調(diào)制激勵進行的 EVM、ACPR 和 NPR 測量
對放大器和變頻器進行調(diào)制失真分析（如 EVM、ACPR、NPR）和矢量校正
非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析（NVNA）：波形分析、X 參數(shù)
一次連接實現(xiàn)多種測量
