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EIA STANDARD TP-48A
METALLIC COATING THICKNESS MEASUREMENT OF C CONTACTS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS
EIA/ECA-364-48-A
This EIA standard has been superseded by the following ASTM specifications
Description
EIA-364-48 test method
ASTM equivalent
Microsection – Optical
Method A
ASTM B-487
Microsection – SEM
ASTM B-748
Bata backscatter
Method B
ASTM B-567
X-ray fluorescence
Method C
ASTM B-568
Eddy current
Method D
ASTM B-244
Coulometry
Method E
ASTM B-504
Weight gain
Method F
ASTM B-767
EIA/ECA-364-48A
(Revision of EIA-364-48)
MARCH 2006
ELECTRONIC COMPONENTS, ASSEMBLIES & MATERIALS
ASSOCIATION
THE ELECTRONIC COMPONENTS SECTOR OF THE ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE
METALLIC COATING THICKNESS MEASUREMENT OF C CONTACTS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS
EIA/ECA-364-48-A
This EIA standard has been superseded by the following ASTM specifications
Description
EIA-364-48 test method
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Microsection – Optical
Method A
ASTM B-487
Microsection – SEM
ASTM B-748
Bata backscatter
Method B
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X-ray fluorescence
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Method E
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Method F
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EIA/ECA-364-48A
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