建筑節(jié)能檢測設(shè)備技術(shù)要求 DB37/T 723－2007 第

建筑節(jié)能檢測設(shè)備技術(shù)要求 DB37/T 723－2007 第二部分：圍護(hù)結(jié)構(gòu)現(xiàn)場實體檢測
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了建筑圍護(hù)結(jié)構(gòu)現(xiàn)場實體檢測部分所需檢測設(shè)備的技術(shù)要求、試驗方法和檢驗規(guī)則，以及標(biāo)志、包裝、運輸和貯存要求等內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于鉆芯檢測設(shè)備、建筑圍護(hù)結(jié)構(gòu)熱阻檢測儀及其輔助設(shè)備（簡稱熱阻檢測儀）和建筑門窗動風(fēng)壓性能檢測儀（簡稱動風(fēng)壓檢測儀），其它相同功能的建筑節(jié)能檢測設(shè)備可參考本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 191 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 2421 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第一部分：總則
GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）
GB 50411-2007 建筑節(jié)能工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范