地面用薄膜光伏組件設計鑒定和定型 GB/T 18911-20

地面用薄膜光伏組件設計鑒定和定型 GB/T 18911-2002/IEC 61646:1996

本標 準 規(guī) 定了地面用薄膜光伏組件設計鑒定和定型的要求，該組件是在GB/T 4797.1 -1984和
IEC 60721-2-1第1修正案：1987中所定義的一般室外氣候條件下長期使用。本標準制定時是以非晶
硅薄膜組件技術(shù)為主，但同樣適用于其他薄膜光伏組件。鑒于其他新技術(shù)的特殊性能，有可能需要對該
試驗程序做修訂。
本試 驗 程 序主要依據(jù)GB/T 9535-1998《地面用晶體硅光伏組件設計鑒定和定型》而制定，針對
非晶硅薄膜組件的特殊性能作了一些必要的修改。光老煉用于區(qū)別光致衰減與其他衰減機制，并將試
驗程序后期的最大功率作為薄膜組件長期工作性能估計。為區(qū)別熱循環(huán)和濕一熱試驗中可能產(chǎn)生的退
火效應，組件在這些試驗之前需進行退火。對于不采用非晶硅的其他薄膜形成技術(shù)，諸如光老煉和退火
的預處理可能不同或可能證明是不需要。因為所有類型的薄膜組件易受潮引起侵蝕，故須增加一個濕
漏電流試驗。
本試 驗 程 序的目的是在盡可能合理的經(jīng)費和時間內(nèi)確定組件的電性能和熱性能，表明組件能夠在
規(guī)定的氣候條件下長期使用。通過此試驗的組件的實際使用壽命期望值將取決于組件的設計以及它們
使用的環(huán)境和條件。
本 標 準 不適用于帶聚光器的組件。
2 規(guī)范性引用文件
下 列 文 件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨
后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用
于本標準。
GB /T 2 421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：總則（idtI EC6 0068-1:1988、第1修正案：
1992)
GB /T 2 423.3 -1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
（eqv IEC 60068-2-3：1984）
GB /T 2 423.29 -1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U：引出端及整體安
裝件強度（idtIEC 60068-2-21:1992)
GB /T 2 829-2002 周期檢驗計數(shù)抽樣程序及表（適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗）
GB /T 4 797.1- 1984 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度與濕度（neqI EC 60721-2-1:1982)
GB /T 6 495.1- 1996 光伏器件第1部分：光伏電流一電壓特性的測量（(idtI EC6 0904-1:1987)
GB /T 6 495.3- 1996 光伏器件第3部分：地面用光伏器件的測試原理及標準光譜輻照度數(shù)據(jù)
(idt IEC 60904-3：1989)
GB /T 6 495.4 ---19 96 晶體硅光伏器件I-V實測特性的溫度和輻照度修正方法（idtI EC 60891:
1987、第1修正案：1992)
GB /T 9 535-1998 地面用晶體硅光伏組件設計鑒定和定型(eqvI EC 61215:1993)
GB / T 2423.2 -2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫