低頻頻率特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)方案解析

摘要：傳統(tǒng)的頻率特性測(cè)試儀不僅價(jià)格昂貴，且得不到相頻特性，更不能保存頻率特性圖和打印頻率特性圖，也不能與計(jì)算機(jī)接口，給使用者帶來了諸多不便。而本文采用DDS技術(shù)作為掃頻信號(hào)源；同時(shí)采用了集成模擬芯片AD8302對(duì)幅度和相位進(jìn)行檢測(cè)，用DSP芯片TMS320VC5409和CPLD芯片EPM7128進(jìn)行測(cè)量控制和數(shù)據(jù)處理，人杌接口部分是利用單片機(jī)AT89C51實(shí)現(xiàn)，并配有打印機(jī)接口和串行通信接口。系統(tǒng)基本達(dá)到了全數(shù)字化，這有利于縮小儀器的體積，減輕重量，降低成本，并能較好的顯示幅頻特性和相頻特性曲線。
　　關(guān)鍵詞：DDS；DSP；CPLD；頻率特性
　　在現(xiàn)代電子測(cè)量中掃頻測(cè)量占有重要地位，頻率特性測(cè)試儀運(yùn)用掃頻技術(shù)可以對(duì)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行快速的動(dòng)態(tài)測(cè)量，得到被測(cè)網(wǎng)絡(luò)傳輸特性的實(shí)時(shí)測(cè)量結(jié)果。以往的模擬掃頻儀大多是用LC電路構(gòu)成的掃頻振蕩器，其體積龐大，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，價(jià)格昂貴，而且只能顯示幅頻特性曲線，不能得到相頻特性曲線，給使用者帶來諸多不便。隨著電子科技的飛速發(fā)展，數(shù)字化、網(wǎng)絡(luò)化、信息化，傳統(tǒng)的頻率特性測(cè)試儀已經(jīng)無法完全滿足科研人員的需要。因此，對(duì)于數(shù)字化、智能化高性能頻率特性測(cè)試儀的需求量日益增大。
　　1 系統(tǒng)總體方案設(shè)計(jì)
　　頻率特性測(cè)試系統(tǒng)一般包含測(cè)試信號(hào)源、被測(cè)網(wǎng)絡(luò)、檢波及顯示3個(gè)部分。本系統(tǒng)根據(jù)所要完成的測(cè)試功能及技術(shù)指標(biāo)，該系統(tǒng)應(yīng)由掃頻源、幅度相位測(cè)量電路、控制及運(yùn)算部分、人機(jī)接口單元幾部分組成。系統(tǒng)總體方框圖如圖1所示。
　　
　　信號(hào)源電路由信號(hào)發(fā)生電路和信號(hào)調(diào)理電路兩部分組成。在本系統(tǒng)中信號(hào)發(fā)生電路采用DDS技術(shù)（即直接數(shù)字頻率合成技術(shù)）實(shí)現(xiàn)，用于產(chǎn)生頻率、持續(xù)時(shí)間等均可控的掃頻信號(hào)，并能夠滿足一般用戶對(duì)頻率范圍的要求；信號(hào)調(diào)理電路主要是對(duì)信號(hào)中的噪聲進(jìn)行抑制并對(duì)輸出信號(hào)的功率起到控制作用。
　　增益相位檢測(cè)電路是為了檢測(cè)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)兩端的幅度差和相位差。先對(duì)被測(cè)網(wǎng)絡(luò)兩端的信號(hào)進(jìn)行預(yù)處理后對(duì)其進(jìn)行模擬鑒幅和鑒相，然后把幅度差和相位差的模擬量由ADC轉(zhuǎn)化為數(shù)字量，送給控制及數(shù)據(jù)處理電路進(jìn)行分析處理。
　　控制及數(shù)據(jù)處理電路要完成邏輯控制、數(shù)據(jù)處理和與人機(jī)接口部分通信3個(gè)主要功能，由DSP和CPLD組成。主要用于控制整個(gè)系統(tǒng)的協(xié)調(diào)工作，并對(duì)測(cè)量及人機(jī)接口部分來的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。
　　圖形顯示及接口電路負(fù)責(zé)接收各種指令和顯示測(cè)量結(jié)果，例如，測(cè)量時(shí)掃頻信號(hào)所需要的起始頻率、終止頻率、頻率問隔、單頻點(diǎn)持續(xù)時(shí)間、信號(hào)功率等參數(shù)，以及測(cè)量完成后顯示特性曲線時(shí)顯示方式的設(shè)置，如：刻度大小選擇、文字標(biāo)注方式、坐標(biāo)選擇等。