如何使用MCP651輸入失調(diào)評估板的詳細中文資料概述

　　本文檔介紹了如何使用 MCP651 輸入失調(diào)評估板。本手冊的內(nèi)容編排如下：

　　? 第 1 章“產(chǎn)品概述”——有關(guān) MCP651 輸入失調(diào)評估板的重要信息。

　　? 第 2 章“安裝與操作”——介紹 MCP651 輸入失調(diào)評估板的初始設(shè)置。其中列有所需的工具，并介紹了如何設(shè)置評估板以及如何連接實驗室設(shè)備。然后，演示了該評估板的使用方法。

　　? 第 3 章“可能進行的修改”——介紹如何針對 SOIC-8、PDIP-8 等封裝內(nèi)的其他 Microchip 單運放對評估板進行修改。

　　? 附錄 A“原理圖與布線圖”——介紹 MCP651 輸入失調(diào)評估板的原理圖與布線圖。

　　? 附錄 B“物料清單（BOM）”——列有用于組裝 MCP651 輸入失調(diào)評估板的部件。同時還列出了ESD包裝內(nèi)隨電路板提供的可拆部件、替換元件以及未組裝元件。

　　MCP651 輸入失調(diào)評估板為測量各種工作條件下 MCP651 輸入失調(diào)評估板運放的輸入失調(diào)電壓提供簡易的方法。測得的輸入失調(diào)電壓（VOST）包括數(shù)據(jù)手冊中指定的輸入失調(diào)電壓（VOS），以及受以下因素影響產(chǎn)生的變化量：電源電壓（PSRR）、共模電壓（CMRR）、輸出電壓（AOL）、隨溫度產(chǎn)生的輸入失調(diào)電壓漂移（ΔVOS/ΔTA）以及 1/f 噪聲。

　　MCP651 輸入失調(diào)評估板在室溫（25°C 左右）條件下的效率最高。其他溫度下的測量應在烘箱中進行，其中的氣流速度已降至最低。