翻新器件想魚(yú)目混珠？工程師請(qǐng)自帶慧眼

對(duì)于電子設(shè)備制造企業(yè)，買(mǎi)到翻新器件是一件令人惱火、糾結(jié)、無(wú)奈的事情。后果難料卻又束手無(wú)策，防不勝防。經(jīng)過(guò)本人研究、與器件特性資深研究人士交流、經(jīng)器件翻新業(yè)內(nèi)資深人士言傳身教等等手段，總結(jié)四法傳授鑒別翻新器件。
　　1.光學(xué)檢測(cè)
　　工具是放大鏡，可以選用10-20倍光學(xué)放大鏡，或用高倍電子顯微鏡（光學(xué)放大*電子放大）。
　　將器件的背面，有焊錫的一面，也是與PCB板相接的一面，放置于放大鏡下，觀察其表面是否有有機(jī)焊劑揮發(fā)物，現(xiàn)象就是臟乎乎的，跟吃飯時(shí)濺到衣服上的油點(diǎn)類(lèi)似，總之就是沒(méi)那么平整干凈。而且多個(gè)器件的臟污圖象對(duì)比，臟點(diǎn)的位置不一致。
　　2.測(cè)管腳電容
　　工具為L(zhǎng)CR電橋，很便宜的。
　　兩塊互不連通的金屬，之間填充有絕緣介質(zhì)，就構(gòu)成了一個(gè)電容。我們?cè)陔娐分谐Ｕf(shuō)的分布電容就是這個(gè)形成機(jī)理。
　　現(xiàn)在的器件里，半導(dǎo)體的特性，都會(huì)產(chǎn)生分布電容，但是隨著時(shí)間的推移、隨著器件日久年深的工作，兩金屬間的絕緣特性會(huì)因?yàn)殡妷旱某掷m(xù)加壓或環(huán)境影響而導(dǎo)致變差，從而影響到分布電容的大小。據(jù)此容值判定器件的狀態(tài)很有參考價(jià)值。
　　一個(gè)批次里，抽取多個(gè)器件，隨意隨機(jī)抽取2個(gè)管腳，測(cè)試其之間的電容特性，將抽取的多個(gè)器件相同二管腳的電容測(cè)量結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，不同器件之間±1nF的偏差波動(dòng)可以理解，差得多了就要小心了。如果一個(gè)批次里測(cè)出的結(jié)果很離散，都在±7～8nF甚至更多之間離散分布，那就肯定是不對(duì)勁了。
　　3.做分布曲線(xiàn)
　　工具為萬(wàn)用表或電橋。
　　方法是從一批供貨器件里，隨機(jī)抽取幾十個(gè)，越多越好啦，一般最少不要少于20個(gè)，然后用萬(wàn)用表隨機(jī)測(cè)試任二管腳之間的阻抗，或者用電橋測(cè)任二管腳之間的電容，總之選個(gè)好測(cè)的參數(shù)，將多個(gè)器件的該參數(shù)做成分布圖（如下圖1）。分布特性如曲線(xiàn)①特征的為新器件，如曲線(xiàn)②特征的則重點(diǎn)懷疑為翻新器件。此為定性測(cè)量。一般新器件的參數(shù)一致性會(huì)非常好。如果分布曲線(xiàn)里出現(xiàn)兩個(gè)如曲線(xiàn)①特征的波峰，則可能是兩個(gè)批次的器件，兩個(gè)批次的時(shí)間差距較大。
　　
　　圖1
　　4.IV曲線(xiàn)
　　工具：IV曲線(xiàn)測(cè)試儀，電路板及元器件故障檢測(cè)分析儀（T40-II）
　　方法是從一批供貨器件里，隨機(jī)抽取一些，數(shù)量幾個(gè)到幾十個(gè)均可，如果有確定的正品新器件做參照物的話(huà)，抽樣數(shù)量也可以很少（抽測(cè)樣品1-2個(gè)都是可以的）。將懷疑器件的IV曲線(xiàn)與正品樣品的曲線(xiàn)做對(duì)比，重合的就是新器件，不重合的則可能是舊器件翻新來(lái)的。
　　如果沒(méi)有對(duì)比正品樣品，就拿多個(gè)器件來(lái)做曲線(xiàn)對(duì)比，同一型號(hào)器件的同一管腳的曲線(xiàn)重合度很高，則說(shuō)明批次一致性很好，則是正品新器件，反之，則是翻新器件。
　　以上方法皆來(lái)自于江湖，且皆為定性測(cè)試，很難定量，但其參考價(jià)值和實(shí)用性不必懷疑。別問(wèn)我為什么說(shuō)這些，到底有什么企圖心，我叫雷鋒，職業(yè)是醫(yī)生，我的患者對(duì)象是故障器件和電路板。
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