非常規(guī)X射線能量探測技術

x射線探測器最初是一種無能量分辨能力的蓋革計數器，現在己發(fā)展了多種類型、不同用途，并具有極高分辨率的各種X射線探測器。特別是最近幾年，隨著半導體技術、太空探測和超導材料研究的進步，x射線能量探測器技術取得了顯著的進展。半導體探測器于1949年首次以錯單晶制成，Si

（Li）探測器于1962年問世，1967年出現了離子植入型Si二極管、二維探測器和高純Ge探測器。20世紀60-70年代的主要進步表現在材料處理技術和電子脈沖處理器的發(fā)展上。大約20年即1987年后，各種Si基探測器和集成電路得到廣泛的研究和迅速發(fā)展，制造技術日益成熟。

最初開發(fā)的單晶硅探測器采用表面勢壘，即使一個小的指印都會損壞Au涂層，致使探測器不穩(wěn)定。

超純si的勢壘具有約100 kVcm（勢壘）的近乎本征電阻特性，故應用前景廣泛。但由于B在Si中的偏析，天然B對Si的污染很難去除。故需要反復的晶層凈化工藝才能實現單晶硅的本征電阻特性。應用1i漂移技術可以克服需要反復進行晶層凈化的復雜工藝過程，制成具有近乎本征硅特性并具有一定厚度的Si（Li）探測器，其顯著特點是它可以補償任何局部受體密度，這一技術使得Si（Li）探測器迅速成為能量探測器領域的主要探測工具之一。但需要低溫抑制Li漂移引起的噪聲，以避免分辨率下降。

在此期間還出現了采用在前后觸點分別植入B和P離子的p-n結探測器，并成功地應用于獲取物體的二維圖像。至20世紀80年代末，一種si0，氧化物鈍化工藝應用于制造Si半導體探測器，用以保護表面敏感區(qū)。場效應管（FET）的引入也是該時期的一個重要技術進展。