測(cè)試連接器與電纜的EMC方法說(shuō)明

　　EMC測(cè)試從連接器電纜開(kāi)始，EMC測(cè)試是衡量電子產(chǎn)品EMC性能優(yōu)劣的首要依據(jù)，各種標(biāo)準(zhǔn)不但規(guī)定了各類電子產(chǎn)品的測(cè)試等級(jí)，而且還規(guī)定了測(cè)試方法和手段。因此，EMC設(shè)計(jì)及FMC問(wèn)題的分析必須建立在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的EMC測(cè)試基礎(chǔ)上。表1 和表2是一無(wú)線基站產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于無(wú)線基站設(shè)備EMC測(cè)試項(xiàng)目要求表，其中表1為騷擾測(cè)試項(xiàng)目表，表2為抗擾度測(cè)試項(xiàng)目表，這是作者在寫(xiě)作過(guò)程中，隨意從現(xiàn)有的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中挑選出現(xiàn)的。

　　EMC測(cè)試的直接對(duì)象是電纜及其電纜直接相連的端口，對(duì)于騷擾測(cè)試來(lái)說(shuō)電子產(chǎn)品的騷擾是從電纜傳導(dǎo)出來(lái)的，或是從電纜輻射出來(lái)的，即使是輻射發(fā)射測(cè)試，往往大部分的問(wèn)題出現(xiàn)在產(chǎn)品的電纜或互連線上。對(duì)于抗擾度測(cè)試，干擾也是主要從電纜注入的，即使是ESD測(cè)試和輻射抗擾度測(cè)試，其主要的問(wèn)題通常還是性為電纜在測(cè)試中成為了接收天線而接收了輻射干擾并通過(guò)電纜和接口引人設(shè)各內(nèi)部。設(shè)想一下一個(gè)沒(méi)有任何電纜（包括沒(méi)有電源線）的產(chǎn)品其對(duì)EMC的要求也會(huì)大大降低。在實(shí)際中也會(huì)經(jīng)常發(fā)現(xiàn)，當(dāng)將設(shè)備上的外拖電纜取下來(lái)時(shí)，設(shè)各就可以丿頁(yè)利通過(guò)試驗(yàn)，在現(xiàn)場(chǎng)中遇到電磁干擾現(xiàn)象時(shí)，只要將電纜拔下來(lái)，故障現(xiàn)象就會(huì)消失。這是因?yàn)殡娎|不但是一根高效的接收和輻射天線，而且也是干擾與騷擾進(jìn)出的通道。另外，電纜中的導(dǎo)線平行傳輸?shù)木嚯x最長(zhǎng)，因此導(dǎo)線之間存在較大的分部寄生電容和寄生互感，這會(huì)導(dǎo)致導(dǎo)線之間發(fā)生信號(hào)的串?dāng)_。