GB/T 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測量

1 :范圍

GB/T 2424 的本部分規(guī)定了一項(xiàng)統(tǒng)一的、可再現(xiàn)的方法，以確認(rèn)其在有散熱性/非散熱性試驗(yàn)樣品負(fù)載并且工作空間內(nèi)有空氣循環(huán)條件下,符合 GB/T 2423.1 和 GB/T 2423.2 氣候試驗(yàn)規(guī)定的要求。本方法主要適用于用戶進(jìn)行常規(guī)的試驗(yàn)箱性能監(jiān)測。

2 規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分.試驗(yàn)方法，試驗(yàn) A.低溫(GB/T 2423.1-

2001,IEC 60068-2-1:1990,IDT)

GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫(IEC 60068-2-2:1974,IDT)

GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則(EC 60068-3-1.1974 和

IEC 60068-3-1A.1978.IDT)

GB/T 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(EC 60068-3-5.2001.IDT

GB/T 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)(IEC 60068-3-6.2001.IDT)

GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分.分度表(GB/T 16839.1-1997.EC 60584-1.1995. IDT

IEC 60751工業(yè)鉑電陽溫度計(jì)傳感器

3 術(shù)語及定義

下列術(shù)語及定義適用于本部分。

3.1

試驗(yàn)規(guī)范testspecification

適用于有/無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)程序,適合于各種尺寸的試驗(yàn)箱。注:表1匯總了 GB/T 2423.1 及 GB/T 2423.2 的試驗(yàn)條件。

3.2

確認(rèn)方法(方法1)confirmation method(procedure 1)

為了確定試驗(yàn)箱的性能是否符合 GB/T 2423.1 試驗(yàn) A 和/或 GB/T 2423.2 試驗(yàn)B的要求而規(guī)定的進(jìn)行連續(xù)測量的方法。

3.3

日常監(jiān)測方法(方法 2) routine monitoring method (procedure 2)為了保證試驗(yàn)箱的性能正堂而規(guī)定的連續(xù)或間隔測量的方法。