資料介紹
遠(yuǎn)離吸收光的其它波長(zhǎng)的入射光。由于光源發(fā)出的光經(jīng)過單色器時(shí)有可能從單色器艙內(nèi)及其它光學(xué)元件表面發(fā)生反射,從光學(xué)元件表面以及大氣中的灰塵也可以發(fā)生散射,這些都會(huì)產(chǎn)生雜散光。雜散光的存在會(huì)對(duì)比爾定律產(chǎn)生偏移。另:一般指超出眼睛網(wǎng)膜視線之光線。
雜散光的來源編輯產(chǎn)生雜散光的原因很多,其最主要的原因大致有以下9個(gè)方面:1. 灰塵沾污光學(xué)元件(如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等);2. 光學(xué)元件被損傷,或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷(如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等);3.準(zhǔn)直系統(tǒng)內(nèi)部或有關(guān)隔板邊緣的反射;4.光學(xué)系統(tǒng)或檢測(cè)器沒有作適當(dāng)?shù)钠帘?,“室光”直接進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng);5.熱輻射或熒光引起的二次發(fā)射;6.狹縫的缺陷;7.光束孔徑不匹配;8.光學(xué)系統(tǒng)的相差;9.單色器內(nèi)壁黑化處理不當(dāng)。以上9個(gè)方面中,光柵是雜散光的主要來源。它產(chǎn)生的雜散光占總雜散光約80%。[1]
雜散光的重要性編輯雜散光是紫外可見分光光度計(jì)非常重要的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)。它是紫外可見分光光度計(jì)分析誤差的主要來源,它直接限制被分析測(cè)試樣品濃度的上限。當(dāng)一臺(tái)紫外可見分光光度計(jì)的雜散光一定時(shí),被分析的試樣濃度越大,其分析誤差就越大。ASTM認(rèn)為:“雜散光可能是光譜測(cè)量中主要誤差的來源。尤其對(duì)高濃度的分析測(cè)試時(shí),雜散光更加重要”。有文獻(xiàn)報(bào)道,在紫外可見光區(qū)的吸收光譜分析中,若儀器有1%的雜散光,則對(duì)A為2.0的樣品測(cè)試時(shí),會(huì)引起2%的分析誤差。因此,認(rèn)真研究雜散光,以便減少或降低雜散光對(duì)光譜分析的影響,是光譜儀器研制者和使用者們必須高度重視的問題。
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