混合SRRs和CSRRs清除微帶相控陣天線掃描盲點說明

　　基于特異材料特性設計出了一種由SRRs與CSRRs構成的混合結構。該結構具有在兩個垂直的方向阻礙電磁渡傳播的特性，將其加載在無限微帶天線陣列中，能夠有效地清除相控陣天線的掃描盲點。該研究成果表明該特異材料在高性能微帶天線陣列設計中具有良好的應用潛能。

　　帶相控陣天線具有結構緊湊、重量輕、體積小、成本低、易于共形，以及能與微波集成電路（MIC，mi—crowave integrated circuit）和光集成電路（PIC，photo—electric integrated circuits）技術兼容等眾多優(yōu)點，目前已得到了廣泛的運用¨。然而，由于微帶相控陣天線單元之間出現(xiàn)互耦，導致微帶相控陣天線掃描在某一特定角度上時，能量幾乎為全反射，致使微帶相控陣在掃描到某一特定角度形成了掃描盲點。
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　　盲點效應是影響微帶相控陣天線性能的嚴重問題之一。由于它出現(xiàn)在柵瓣之前，有的甚至出現(xiàn)在離側射方向不遠的角度上，這樣勢必會大大縮小微帶相控陣天線的掃描區(qū)域，導致整個陣列掃描性能的下降。迄今為止，人們已探索出各種清除掃描盲點的有效方法。例如：天線子陣技術H J、EBG技術哺J、缺陷地技術∞o和磁性特異材料技術。但是目前的方法仍然存在一定的局限性：加載天線子陣不適用于高介電常數(shù)基板的微帶天線；加載EBG需要占據較大的單元空間；利用缺陷地將引起較強的后向輻射；磁性特異材料的機械穩(wěn)定性不強，難以實現(xiàn)在實際工程上的應用。

　　本文基于混合裂口環(huán)諧振器（SRRs，split ringresonators）和互補裂口環(huán)諧振器（CSRRs，comple—mentary split ring resonators）特異材料能夠在特定的頻率范圍內阻礙兩個方向傳播的特性，將其加載在無限微帶陣列中、抑制單元間的互耦效應，清除相控陣的掃描卣點效果良好。不儀如此，由T該結構設計簡單．易于共形、機械穩(wěn)定性強，在高Pl：能微帶相控陣研究與設計中具有較好的參考價值。