基于微處理器件8031電路板的TPS開發(fā)研究

通過對以微處理8031 為控制中心的電路板分析，提出了一種基于各類微處理器電路
板的測試程序集(TPS)開發(fā)的新方案，從而達(dá)到對這類電路板進(jìn)行故障診斷的目的。該方案成功的實現(xiàn)了對帶微處理器件8031 電路板的故障診斷，解決了TPS 開發(fā)中一個較為棘手的問題。研究表明，該方案能夠在自動測試設(shè)備現(xiàn)有條件下完成對此類電路板的故障檢測工作。
TPS(Test Programme Set)測試程序集，是基于自動測試設(shè)備(ATE)上完成的程序開發(fā)，
完成對電路板的自動測試與故障診斷。自動測試設(shè)備它提供給用戶可視化的測試流程開發(fā)環(huán)境和可定制的功能控件，結(jié)合人工智能技術(shù)，提高了電路板測試程序的開發(fā)效率，降低了程序開發(fā)的難度。TPS 開發(fā)與執(zhí)行作為自動測試設(shè)備的一個功能模塊,主要實現(xiàn)儀器的連接，激勵數(shù)據(jù)的加載，響應(yīng)數(shù)據(jù)的采集和存儲[1]，結(jié)構(gòu)如圖1 所示。其中TPS 的開發(fā)提供用戶控制儀器的界面，TPS 腳本的執(zhí)行完成對儀器操作，并實現(xiàn)測試設(shè)備與硬件平臺之間的數(shù)據(jù)交換。
從已經(jīng)完成的TPS開發(fā)來看，使用這種方式，自動測試設(shè)備(ATE)能對電路板進(jìn)行故障
檢測。但是目前所完成的TPS開發(fā)，基本上都是針對各種不帶微處理器的模擬或數(shù)字信號電路板進(jìn)行故障檢測。
然而，對于帶微處理器件的電路板進(jìn)行故障檢測存在一定的難度，目前國內(nèi)對這類電路
板TPS開發(fā)研究還不夠。本文將介紹一種帶8031微處理器電路板的TPS開發(fā)的方法，從而得出同類電路板故障檢測的通用方法。