硬件測(cè)試的種類有哪些

　　硬件產(chǎn)品測(cè)試的 7 大種類

　　信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

　　時(shí)序測(cè)試

　　功能測(cè)試

　　性能測(cè)試

　　容錯(cuò)測(cè)試

　　長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試

　　一致性測(cè)試

　　信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

　　信號(hào)質(zhì)量測(cè)試是很底層與直接的一項(xiàng)測(cè)試，需要對(duì)硬件板卡本身有相當(dāng)?shù)牧私獠拍苓M(jìn)行。另外，板卡中的部分功能模塊需要通過(guò)軟件使其工作起來(lái)之后才有相應(yīng)的信號(hào)，才能進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試。所以這項(xiàng)測(cè)試需要測(cè)試人員具有一定的技術(shù)基礎(chǔ)，在測(cè)試時(shí)與硬件、軟件開(kāi)發(fā)人員緊密合作。

　　而由于這項(xiàng)測(cè)試是底層的、直接的，一旦發(fā)現(xiàn)問(wèn)題就是嚴(yán)重的硬件問(wèn)題，所以需要提前關(guān)注、特別關(guān)注。

　　測(cè)試可能需要使用到高帶寬的示波器。

　　時(shí)序測(cè)試

　　對(duì)于時(shí)序，相較于信號(hào)質(zhì)量來(lái)說(shuō)更加體現(xiàn)了硬件開(kāi)發(fā)人員的設(shè)計(jì)成果。這也是一項(xiàng)需要在早期就進(jìn)行的測(cè)試。注意檢查時(shí)序關(guān)系、實(shí)際時(shí)序與設(shè)計(jì)目標(biāo)的差異等等。所有核心部件的時(shí)序都要進(jìn)行檢查測(cè)試。

　　需要使用到示波器和邏輯分析儀。

　　功能測(cè)試

　　功能測(cè)試是最顯而易見(jiàn)的測(cè)試項(xiàng)，不過(guò)還是要注意測(cè)試的全面性，不要遺漏任何需求提及的、板卡實(shí)際提供的功能項(xiàng)。測(cè)試項(xiàng)一般可以按照板卡上設(shè)計(jì)提供的器件、接口來(lái)進(jìn)行羅列。例如 eMMC、DDR、KEY、LED、溫度傳感器、ETH、USB 等等。

　　性能測(cè)試

　　部分功能測(cè)試可能會(huì)包含性能測(cè)試。但由于其特殊性與重要性，還是要作為一項(xiàng)單獨(dú)列出。一般關(guān)注硬件的最高性能極限是否滿足要求，例如 USB 接口的最大傳輸帶寬。但也有部分性能指標(biāo)是一個(gè)范圍值，包括最大值和最小值，比如正常工作溫度范圍。

　　容錯(cuò)測(cè)試

　　容錯(cuò)測(cè)試需要驗(yàn)證硬件板卡在異常的、極端的條件下的處理與自我恢復(fù)情況。當(dāng)然，這個(gè)異常與極端條件是硬件本來(lái)的設(shè)計(jì)就包含了的，不能強(qiáng)行以極端條件測(cè)試板卡使其損壞，這樣的測(cè)試沒(méi)有意義。我們的測(cè)試用例還是要根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的目標(biāo)來(lái)進(jìn)行設(shè)計(jì)。