掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過(guò)程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問(wèn)題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12
462 
[size=13.3333px]顯微鏡倍率如何計(jì)算？很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡
2020-02-06 13:09:57
如何確認(rèn)顯微鏡的放大倍率很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算
2020-03-23 13:59:06
`顯微鏡放大倍數(shù)是怎么得出來(lái)的很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算
2020-04-26 14:57:38
物鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)部件，利用光線使被檢物體第一次成象，因而直接關(guān)系和影響成象的質(zhì)量和各項(xiàng)光學(xué)技術(shù)參數(shù)，是衡量一臺(tái)顯微鏡質(zhì)量的首要標(biāo)準(zhǔn)。
2019-09-29 10:22:32
顯微鏡成像原理圖我知道目鏡的作用相當(dāng)于放大鏡,但放大鏡成的像是物相同側(cè)而顯微鏡當(dāng)中的物鏡將物體放大后,所成的像應(yīng)在顯微鏡管內(nèi).如果目鏡的原理和放大鏡一樣,那它的像豈不是朝人眼反方向放大(物相同側(cè)
2019-07-24 08:18:44
電子顯微術(shù)(Reflection Electron Microscopy,REM)穿透式電子顯微鏡是利用電子穿透樣品而產(chǎn)生繞射來(lái)成像，其圖像是樣品表面在其法線方向的投影，并不帶有表面的訊息。而反射式
2009-03-10 09:09:08
有沒(méi)有電子顯微鏡維護(hù)維修人員？
2012-09-17 16:31:38
最近搞了一個(gè)電子顯微鏡，渣渣。放大倍數(shù)為500倍，看不了什么細(xì)菌哈。但是還是可以看見(jiàn)一些人眼所不及的東西。我拿出來(lái)給大家分享下，你們說(shuō)想看什么東西的顯微效果，我這里只要有的話，我就盡量滿足。拍了之后
2016-06-02 13:35:52
生理測(cè)量熒光染料成像膜片鉗技術(shù)TIRFM全內(nèi)反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：SEM:掃描電子顯微鏡TEM:透射電子顯微鏡STEM:掃描透射電子顯微鏡微電子/加工技術(shù)精密測(cè)量：分析天平熒光染料成像顯微
2018-09-02 16:35:11
和共聚焦3D顯微形貌檢測(cè)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測(cè)與表面質(zhì)量檢測(cè)方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測(cè)方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
`1.設(shè)備型號(hào)TF20 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡，配備能譜儀 2.原理透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡(jiǎn)稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子
2020-01-15 23:06:28
雙筒顯微鏡已成為過(guò)去！Aven Cyclops 單筒數(shù)字顯微鏡 (243-1349-ND) 具有 1080p HDMI 輸出，使技術(shù)人員可以在自己的監(jiān)視器上輕松地對(duì)標(biāo)志、焊點(diǎn)和 PCB 進(jìn)行光學(xué)檢查
2018-10-31 15:48:05
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應(yīng)用范圍正在不斷擴(kuò)大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。因此，對(duì)更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
Piezoresponse力顯微鏡 - 應(yīng)用說(shuō)明
2019-10-31 09:12:31
所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大約等于其使用光源的波長(zhǎng)（~1?m）。1940 掃描電子顯微鏡（SEM）為了改良傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡的不足，于1940 年左右發(fā)展出掃描電子顯微鏡（SEM），利用
2009-03-10 09:51:51
相機(jī)上成像。
為什么激光共聚焦顯微鏡成像質(zhì)量更好？
**1、激光共聚焦顯微鏡采用了激光掃描技術(shù)。**與傳統(tǒng)顯微鏡的廣譜光源相比，激光掃描技術(shù)能夠精確定位和聚焦在樣品的特定區(qū)域，從而提高成像的分辨率
2023-08-22 15:19:49
們脫坑一個(gè)幫助，文筆不好，大家見(jiàn)諒！一：掃描電子顯微鏡由于透射電鏡是TE進(jìn)行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內(nèi)。為此需要通過(guò)各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡可以接受的程度。能否直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，成為科學(xué)家追求的...
2021-07-29 07:49:43
），因此成像具有三維立體感； 2． 像是直立的，便于操作和解剖，這是由于在目鏡下方的棱鏡把像倒轉(zhuǎn)過(guò)來(lái)的緣故； 3． 雖然放大率不如常規(guī)顯微鏡，但其工作距離很長(zhǎng) 4． 焦深大，便于觀察被檢物體的全
2009-07-07 09:33:07
在生物體中，不同的纖維蛋白，如膠原蛋白、彈力纖維、張力纖維、肌肉纖維等結(jié)構(gòu)顯示出明顯的各向異性?？梢栽跍y(cè)定之前，使用偏光顯微鏡得到這些纖維中分子排列的詳細(xì)情況。
2019-09-12 09:10:47
力，是微觀表面結(jié)構(gòu)、表面分析的重要分析工具，可應(yīng)用于多種材料表面檢測(cè)。iST宜特檢測(cè)擁有兩岸少數(shù)可分析12吋wafer的AFM實(shí)驗(yàn)室，保存您完整晶圓以便后續(xù)進(jìn)行其他實(shí)驗(yàn)。 外加其他功能顯微鏡，分析
2018-11-13 09:48:43
先進(jìn)電子顯微鏡成像技術(shù)揭露垂直共振腔面射雷射的制程細(xì)節(jié)
2021-02-22 07:36:15
、Decap芯片開(kāi)封2、IC芯片電路修改3、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測(cè)試鍵生長(zhǎng)5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 15:38:33
很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算的？ 也許有人會(huì)說(shuō)這不是很簡(jiǎn)單
2020-02-11 09:57:12
、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體；滿足無(wú)毒，無(wú)放射性，無(wú)污染，無(wú)磁，無(wú)水，成分穩(wěn)定要求。制備原則：表面受到污染的試樣，要在
2020-02-05 15:15:16
，微區(qū)形貌觀察2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體
2020-02-06 13:13:24
掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？有什么優(yōu)點(diǎn)？
2021-10-28 06:39:54
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進(jìn)行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
`捷克泰思肯MIRA3-LM捷克泰思肯MIRA3-LM電子顯微鏡更多信息請(qǐng)移步深圳瑞盛科技或關(guān)注瑞騰租賃RIYTEN，有需求可聯(lián)系TEL：*** ，QQ：434413525 。MIRA3LM是一種
2019-05-17 10:50:32
了掃描隧道顯微鏡，可以拍攝表面單個(gè)原子圖像，它速度至少比現(xiàn)有顯微鏡的速度快100倍。掃描隧道顯微鏡可以使用量子穿越隧道或電子通過(guò)隧道穿越障礙的能力，測(cè)量針型探測(cè)器和一個(gè)傳導(dǎo)表面之間的距離。 科研人員通過(guò)增加一
2013-06-19 17:22:54
攝像頭圖傳做維修用電子顯微鏡http://www.dt830.com/forum.php?mod=viewthread&tid=3909(出處: 儀表愛(ài)好者)`
2020-02-18 16:23:18
檢測(cè)顯微鏡—上海應(yīng)捷檢測(cè)顯微鏡在觀察物體時(shí)能產(chǎn)生正立的三維空間影像。立體感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，又具有長(zhǎng)工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。落射式同軸照明視頻顯微鏡操作
2009-07-07 09:36:14
共聚焦顯微鏡在我國(guó)是80年代后期才發(fā)展起來(lái)的，盡管時(shí)日還尚短，但應(yīng)用范圍卻已經(jīng)非常廣泛。共聚焦顯微鏡在熒光顯微鏡的基礎(chǔ)上添加了激光掃描裝置，使用紫外光或激光激發(fā)熒光探針獲取細(xì)胞內(nèi)部或組織內(nèi)部結(jié)構(gòu)
2014-04-03 11:47:05
穿透式電子顯微鏡TEM穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，影像分辨率可達(dá)0.1奈米的原子等級(jí)
2018-08-21 10:23:10
的三維空間影像。立體感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，又具有長(zhǎng)工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。操作方便、直觀、檢定效率高，適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷(印刷
2009-07-07 09:35:25
`掃描電子顯微鏡是介于透鏡和光鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，其優(yōu)點(diǎn)在于可直接利用樣品材料表面的物理特性進(jìn)行微觀成像，掃描電子顯微鏡具有較高的放大倍數(shù)且放大倍數(shù)連續(xù)可調(diào)，高分辨率；大景深，二次電子成像
2017-12-06 09:45:42
` 設(shè)備型號(hào)：Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測(cè)器及可控的樣品
2020-01-16 22:02:26
在20世紀(jì)70年代起出現(xiàn)了國(guó)產(chǎn)的連續(xù)變倍體視顯微鏡，由于明顯優(yōu)于間隔變倍類型的體視顯微鏡，從此在體視顯微鏡領(lǐng)域占據(jù)了主導(dǎo)地位。連續(xù)變倍體視顯微鏡有兩種基本形式：一是有一組主物鏡中間像平面平行于物鏡
2020-04-16 08:27:24
Metal層做逆向分析，在以光學(xué)顯微鏡(50x~1500x)或電子顯微鏡拍攝(更大倍率)，檢視是否有Metal Leakage或Burn Out、Metal Short等異常，且可利用電子顯微鏡做VC
2018-08-21 09:44:22
)，掃描電子顯微鏡(SEM)，透射電子顯微鏡(SEM)、VC定位技術(shù)。一、無(wú)損失效分析技術(shù)1.外觀檢查，主要憑借肉眼檢查是否有明顯缺陷，如塑脂封裝是否開(kāi)裂，芯片引腳是否接觸良好。X射線檢查是利用X射線的透視
2020-05-18 14:25:44
熒光顯微鏡上海應(yīng)捷儀器有限公司是集光學(xué)儀器、儀器配件、及計(jì)算機(jī)圖像處理軟件和顯微鏡測(cè)量軟件等的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)為一體的企業(yè)。擁有光機(jī)電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開(kāi)發(fā)的豐富經(jīng)驗(yàn)
2009-07-07 09:31:08
按細(xì)分的原理不同，讀數(shù)顯微鏡通常分為直讀式、標(biāo)線移動(dòng)式和影象移動(dòng)式3種。
2019-10-22 09:12:09
可以方便的連接視屏和計(jì)算機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)和靜動(dòng)態(tài)的圖像觀察、保存和編輯、打印結(jié)合各種軟件能進(jìn)行更專業(yè)的金相、測(cè)量、互動(dòng)教學(xué)領(lǐng)域的需要。倒置金相顯微鏡利用光學(xué)平面成像的方法，對(duì)各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行鑒別
2016-08-31 10:23:21
（HB5282 結(jié)構(gòu)鋼和不銹鋼電阻點(diǎn)焊和縫焊質(zhì)量檢驗(yàn)，HB5276熔深檢測(cè)顯微鏡鋁合金電阻點(diǎn)焊和縫焊質(zhì)量檢驗(yàn)）焊接質(zhì)量檢測(cè)的系統(tǒng)，焊接熔深顯微鏡該系統(tǒng)配備樣品焊點(diǎn)切割，預(yù)磨，拋光，化學(xué)處理單元，熔深
2011-04-01 10:09:30
的顯微鏡（HB5282 結(jié)構(gòu)鋼和不銹鋼電阻點(diǎn)焊和縫焊質(zhì)量檢驗(yàn)，HB5276熔深檢測(cè)顯微鏡鋁合金電阻點(diǎn)焊和縫焊質(zhì)量檢驗(yàn)）焊接質(zhì)量檢測(cè)的系統(tǒng)，焊接熔深顯微鏡該系統(tǒng)配備樣品焊點(diǎn)切割，預(yù)磨，拋光，化學(xué)處理單元，熔深
2011-04-11 11:47:35
` 金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，它是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，該儀器配用攝像裝置，可攝取金相圖譜，并對(duì)圖譜進(jìn)行測(cè)量分析，對(duì)圖象進(jìn)行編輯、輸出、存儲(chǔ)
2019-04-26 15:31:07
電子顯微原理與技術(shù)【教學(xué)內(nèi)容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構(gòu)造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過(guò)程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復(fù)型技術(shù)5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 VT6000系列高清工業(yè)電子顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-02-03 11:13:55
電子顯微鏡基本知識(shí)(英文版-All you wanted to know about):Nobody knows for certain whoinvented the microscope.
2009-12-25 16:09:070 本文以物鏡磁透鏡穩(wěn)流電源為例，介紹了透射電子顯微鏡透鏡穩(wěn)流電源的結(jié)構(gòu)和工作原理。透鏡穩(wěn)流電源由前置高精度穩(wěn)壓電源模塊、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、低漂移電壓比較放大器、高精度
2010-02-23 11:38:3821 掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn)與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305128 電子顯微術(shù)(Electron Microscopy,EM)
電子顯微術(shù)可分為靜態(tài)式和掃描式。靜態(tài)式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包
2009-03-10 09:02:582506 20世紀(jì)80年代中期,在數(shù)字化電子顯微鏡商品化之前,模擬式電鏡發(fā)展到了相當(dāng)高的水平,很多操作被先轉(zhuǎn)換成指令,通過(guò)接口電路與單板機(jī)的識(shí)別處理后,發(fā)出控制指令,由各種功能電路來(lái)實(shí)現(xiàn)
2011-04-09 11:21:5464 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 （Advantest） 宣布已開(kāi)發(fā)出全新光罩缺陷檢驗(yàn)掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)E5610，不僅可檢測(cè)光罩基材中超細(xì)微缺陷，還能加以分類。 E5610承襲Advantest一貫的高穩(wěn)定性、全自動(dòng)影像擷
2012-11-26 09:22:231386 ，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬(wàn)～百萬(wàn)倍，用于觀察超微結(jié)構(gòu)，即小于0.2微米、光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的結(jié)構(gòu)，又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。
2017-12-12 15:04:04128876 照明系統(tǒng)包括電子槍和聚光鏡2個(gè)主要部件，它的功用主要在于向樣品及成像系統(tǒng)提供亮度足夠的光源��電子束流，對(duì)它的要求是輸出的電子束波長(zhǎng)單一穩(wěn)定，亮度均勻一致，調(diào)整方便，像散小。
2017-12-12 15:40:2258266 /神經(jīng)系統(tǒng)科學(xué)：??電子生理測(cè)量??熒光染料成像??膜片鉗技術(shù)??TIRFM全內(nèi)反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：??SEM:掃描電子顯微鏡??TEM:透射電子顯微鏡??STEM:掃描透射電子顯微鏡
2018-08-28 11:29:504929 本書系統(tǒng)地介紹了透射電子顯微鏡圖像襯度的形成原理和實(shí)驗(yàn)分析枝術(shù)。第一章簡(jiǎn)要論述電子衍射原理和行射譜的分析方法。第二、三章敘述成象的運(yùn)動(dòng)學(xué)和動(dòng)力學(xué)理論。以后各章詳細(xì)介紹從電鏡照片來(lái)分析各種微觀組織的方法。
2019-03-11 08:00:000 中國(guó)科學(xué)院電工研究所聯(lián)合中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、國(guó)家納米科學(xué)中心共同構(gòu)建了國(guó)內(nèi)首臺(tái)可溯源計(jì)量型掃描電子顯微鏡，實(shí)現(xiàn)了微納米器件及標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的納米精度計(jì)量功能以及對(duì)樣品納米結(jié)構(gòu)掃描成像的量值溯源，可有效減少電子束掃描成像過(guò)程中放大倍率波動(dòng)和掃描線圈非線性特征在納米尺度測(cè)量中產(chǎn)生的誤差。
2019-06-26 16:33:384272 和臺(tái)積電的制程工藝差多少呢？ 一位加拿大博主拿來(lái)電子顯微鏡，專門對(duì)比了英特爾的14nm+++和臺(tái)積電的7nm，對(duì)應(yīng)產(chǎn)品為i9-10900K和銳龍9 3950X。結(jié)果比較有意思，雖然兩者命名差距很大，但從電子顯微鏡中看，兩者差別很小。 英特爾14nm+
2020-10-26 14:50:225060 
半導(dǎo)體逆向工程和IP服務(wù)公司ICmasters已使用透射電子顯微鏡（TEM）對(duì)Apple的A14仿生芯片系統(tǒng)（SoC）進(jìn)行了初步檢查。SemiAnalysis撰寫的一份有見(jiàn)地的報(bào)告揭示了蘋果這顆
2020-11-04 14:33:114375 透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱TEM），可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想
2020-12-03 15:37:2536845 主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發(fā)射電子，經(jīng)過(guò)聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品
2020-12-03 15:52:2934702 透射電子顯微鏡中主要有三種光闌：光闌。在雙系統(tǒng)中，該光闌裝在第二下方。作用：限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1011557 新一代儀器提升數(shù)據(jù)可靠性，控制圖像畸變≤1% 2021年3月17日，上?！茖W(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技（以下簡(jiǎn)稱：賽默飛）宣布推出Talos F200E掃描透射電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱
2021-03-18 10:35:093056 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323 隨著半導(dǎo)體制程向著更小、更復(fù)雜的方向發(fā)展，半導(dǎo)體廠商需要更多可復(fù)現(xiàn)的、大批量的透射電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱：TEM）分析結(jié)果。
2021-04-20 14:24:301779 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過(guò)加速
2021-06-21 09:42:417788 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-08-06 14:57:341325 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-11-26 17:46:001205 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過(guò)加速
2021-09-18 10:49:167640 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2022-04-01 22:06:564889 透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源，利用電子束與物質(zhì)的相互作用，對(duì)物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析的一種儀器。
2022-07-27 15:47:1312493 原沸石是非結(jié)晶的，如粉末 X 射線衍射 (XRD) 圖案所示。掃描電子顯微鏡 (SEM) 和透射電子顯微鏡 (TEM) 圖像顯示，原沸石是大小約為5-20nm的不規(guī)則無(wú)定形納米顆粒。
2022-08-17 16:14:122116 。 在失效分析中，SEM有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景，其在確定失效分析模式、查找失效成因方面發(fā)揮著舉足輕重的作用。 No.2 工作原理 掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學(xué)顯微鏡大數(shù)百倍。由于圖像景深大，因此掃描得出的電子像富有立體感，具有三
2022-08-18 08:50:392727 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術(shù)中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273077 為了支持半導(dǎo)體制造商的自動(dòng)化需求，先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25500 透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)
2023-05-31 09:20:40782 
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30573 
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過(guò)對(duì)該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:152347 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419 。對(duì)于此類場(chǎng)景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足，為解決客戶痛點(diǎn)，國(guó)儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?！备咚賿呙?b class="flag-6" style="color: red">電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 ，為電池研發(fā)提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。然而，受可見(jiàn)光波長(zhǎng)的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問(wèn)題 1931年問(wèn)世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬(wàn)倍，達(dá)到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323 
散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測(cè)工程師對(duì)客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點(diǎn)制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151373 
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱STEM），是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512517 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬(wàn)倍的電子顯微鏡，讓我們對(duì)生物體的生命活動(dòng)規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來(lái)完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797 本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理，未來(lái)這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12227 
中國(guó)近年來(lái)向著科技自立自強(qiáng)的方向邁出了堅(jiān)定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡(jiǎn)稱博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:09766 
數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無(wú)涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來(lái)獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當(dāng)電子顯微鏡啟動(dòng)時(shí)，第一
2024-01-09 11:18:33165 1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國(guó)電鏡”新品發(fā)布會(huì)，正式發(fā)布首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分剖析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子外表的研討。因電子束穿透樣品后，再用掃描電鏡成像縮小而得名，它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿，可以直接取得一個(gè)樣本的投影。
2024-02-01 18:22:15609
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論