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電子發(fā)燒友網(wǎng)>光電顯示>顯示光電>掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用

掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用

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高速標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)接口的發(fā)展,如通用串行總線(USB)和功能強(qiáng)大微控制器的許多設(shè)備,如集成通信接口,計(jì)數(shù)器/計(jì)時(shí)器,數(shù)字輸入/輸出,模數(shù)(ADC)/數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)允許以相對(duì)較低的成本更容易地開發(fā)具體的科學(xué)應(yīng)用。
2023-12-01 16:10:25277

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2023-12-29 15:57:12462

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掃描電子顯微鏡的工作原理是什么?有什么優(yōu)點(diǎn)?

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PCB失效可能是這些原因?qū)е碌?/a>

[原創(chuàng)]穿隧掃瞄顯微鏡(scanning tunneling microscopy,簡(jiǎn)稱STM)的工作原理

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一站式失效分析!

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壓電效應(yīng)課件

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2008-11-24 14:08:34

基于IC設(shè)計(jì)的后續(xù)修改

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捷克泰思肯MIRA3-LM電子顯微鏡

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產(chǎn)生類似問題。另外,由于高溫應(yīng)力單一及受周圍的因素影響所限,試驗(yàn)的時(shí)間一般較長(zhǎng),都在1000h以上。試驗(yàn)過程最好有檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè),以便及早發(fā)現(xiàn)失效樣品。也可以通過切片后用掃描電子顯微鏡來(lái)檢查
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活性電子束探測(cè)技術(shù)對(duì)現(xiàn)有失效分析過程的補(bǔ)充

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激光二極管的最新應(yīng)用

技術(shù)是在掃描電子顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種基于熱聲效應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。當(dāng)掃描電子顯微鏡的探測(cè)電子束對(duì)樣品進(jìn)行掃描成像時(shí),入射的電子會(huì)把入射的能量部分轉(zhuǎn)化成熱能,從而使樣品表面及亞表面層的溫度升高
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2021-01-09 10:19:52

簡(jiǎn)述掃描電鏡在電子元器件中的應(yīng)用

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Applied的在線SEM測(cè)量系統(tǒng)提供3-D成像功能

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應(yīng)用聲明缺陷評(píng)估工具為0.18微米晶圓廠設(shè)定了步伐

加利福尼亞州圣克拉拉市 - 應(yīng)用材料公司今天表示其SEMVision缺陷檢查系統(tǒng)已經(jīng)過驗(yàn)證國(guó)際Sematech生產(chǎn)0.18微米芯片。據(jù)Applied介紹,該行業(yè)聯(lián)盟已指定掃描電子顯微鏡(SEM)系統(tǒng)作為第一個(gè)能夠自動(dòng)檢查和分類晶圓廠缺陷的批量生產(chǎn)工具。
2019-08-12 16:23:39995

Mentor,KLA-Tencor提供模板以簡(jiǎn)化OPC光掩模計(jì)量

用于KLA-Tencor關(guān)鍵尺寸(CD)掃描電子顯微鏡(SEM)工具的新計(jì)量模板,以減少設(shè)置時(shí)間并幫助在過程監(jiān)控應(yīng)用中收集數(shù)據(jù)。
2019-08-13 10:31:174877

Mulith將激進(jìn)光學(xué)技術(shù)擴(kuò)展到原位計(jì)量

Mulith聲稱其基于激光的計(jì)量工具提供的分辨率優(yōu)于掃描電子顯微鏡(SEM),同時(shí)不需要昂貴的發(fā)射源,靜電透鏡,磁物鏡,復(fù)雜的熱傳導(dǎo)方法和真空系統(tǒng)。最重要的是,它不會(huì)損壞晶圓并首次提供原位功能。
2019-08-13 11:17:512327

日本電子株式會(huì)社:推出新型肖特基場(chǎng)發(fā)射(FE)掃描電子顯微鏡JSM-F100

電子槍與低像差聚光透鏡的進(jìn)一步整合帶來(lái)更高的亮度。低加速電壓下具有足夠的探頭電流,支持從高分辨率成像到高速元素映射的各種功能。
2019-08-05 10:27:146677

透射電子顯微鏡掃描電子顯微鏡的區(qū)別

主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間,電子源在樣品上方發(fā)射電子,經(jīng)過聚光鏡,然后穿透樣品后,有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束,最后投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品
2020-12-03 15:52:2934702

聚焦離子束顯微鏡FIB-SEM的詳細(xì)介紹

聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后,通過結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置,納米操縱儀,各種探測(cè)器及可控的樣品臺(tái)等附件成為一個(gè)集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體
2021-09-18 10:52:094437

SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應(yīng)用

PCB失效原因越來(lái)越多,在以前看起來(lái)難以發(fā)現(xiàn)的問題,現(xiàn)在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來(lái)。本文介紹了在PCB生產(chǎn)過程中利用SEM&EDS發(fā)現(xiàn)的三個(gè)較為經(jīng)典的案例,介紹了該技術(shù)在實(shí)際解決問題過程中的關(guān)鍵作用。
2021-10-20 15:26:524796

聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)材料分析

一、FIB設(shè)備型號(hào):Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束顯微鏡 (FIB-SEM) 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后,通過結(jié)合相應(yīng)的氣體
2021-11-06 09:43:132785

服裝材料纖維靜電紡絲掃描電子顯微鏡照片

審核編輯人:鄢夢(mèng)凡
2021-12-22 16:34:17764

一種強(qiáng)有力的各向異性濕法化學(xué)刻蝕技術(shù)

%,1011%,1012%和1013%。用場(chǎng)效應(yīng)掃描電子顯微鏡觀察垂直的1010%平面看起來(lái)非常光滑?;罨転?1千卡/摩爾,表明反應(yīng)速率有限的蝕刻。
2022-04-14 13:57:511214

具有內(nèi)置AES的FPGA保護(hù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

編程狀態(tài)探測(cè)也用于攻擊基于反熔絲的 FPGA。技術(shù)包括聚焦離子束 (FIB) 技術(shù)和掃描電子顯微鏡 (SEM)。
2022-06-15 09:05:011054

一種穿過襯底的通孔蝕刻工藝

掃描電子顯微鏡(SEM)來(lái)確定缺陷密度和通孔尺寸。使用光學(xué)顯微鏡、SEM和俄歇電子能譜(AES)完成對(duì)蝕刻后去除的分析。通過一系列評(píng)估,來(lái)自通用化學(xué)公司的化學(xué)物質(zhì)被確定為能有效地同時(shí)去除光刻膠掩模
2022-06-23 14:26:57516

一種簡(jiǎn)單的原沸石晶種合成單晶分級(jí)ZSM-5沸石

原沸石是非結(jié)晶的,如粉末 X 射線衍射 (XRD) 圖案所示。掃描電子顯微鏡 (SEM) 和透射電子顯微鏡 (TEM) 圖像顯示,原沸石是大小約為5-20nm的不規(guī)則無(wú)定形納米顆粒。
2022-08-17 16:14:122116

掃描電子顯微鏡(SEM)在失效分析中的應(yīng)用

No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束,轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等,對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392727

掃描電子顯微鏡(SEM )工作介紹

掃描電子顯微鏡(SEM Scanning Electron Microscope)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,在光電技術(shù)中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273077

重磅!凱雷投資集團(tuán)將收購(gòu)TESCAN

HOLDING)的多數(shù)股權(quán)。交易條款沒有披露。? TESCAN成立于1991年,總部位于捷克共和國(guó)布爾諾,是掃描電子顯微鏡、聚焦離子束掃描電子顯微鏡,X射線顯微CT和4D掃描透射電子顯微鏡的全球領(lǐng)先開發(fā)商和供應(yīng)商。其產(chǎn)品被科學(xué)家用于先進(jìn)材料分析,覆蓋各種大型和不斷增長(zhǎng)的研發(fā)和工業(yè)終端市場(chǎng)。
2022-12-25 01:22:041319

重磅!凱雷投資集團(tuán)將收購(gòu)TESCAN

HOLDING)的多數(shù)股權(quán)。交易條款沒有披露。? TESCAN成立于1991年,總部位于捷克共和國(guó)布爾諾,是掃描電子顯微鏡、聚焦離子束掃描電子顯微鏡,X射線顯微CT和4D掃描透射電子顯微鏡的全球領(lǐng)先開發(fā)商和供應(yīng)商。其產(chǎn)品被科學(xué)家用于先進(jìn)材料分析,覆蓋各種大型和不斷增長(zhǎng)的研發(fā)和工業(yè)終端市場(chǎng)。
2023-01-09 12:55:36435

節(jié)省設(shè)計(jì)低延遲、高精度信號(hào)鏈的時(shí)間

高級(jí)診斷的最佳質(zhì)量圖像要求掃描電子顯微鏡(SEM)或計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)機(jī)器等醫(yī)學(xué)成像設(shè)備具有速度和低噪聲。
2023-02-03 15:49:11465

?“剛?cè)帷辈?jì)界面應(yīng)力調(diào)制提高聚合物鈉電池循環(huán)穩(wěn)定性

) 進(jìn)一步表征(圖 1b)顯示 NMCO 的層間距約為 0.57 nm,這與 XRD 結(jié)果一致。NMCO 樣品是球形顆粒,尺寸約為 1-3 μm,如掃描電子顯微鏡 (SEM) 圖像所示(圖 1c)。
2023-03-09 11:29:40498

硫化物基全固態(tài)電池中納米硅復(fù)合負(fù)極的電化學(xué)和力學(xué)機(jī)理研究

近日,美國(guó)東北大學(xué)Hongli Zhu教授、Juner Zhu教授,以及康涅狄格大學(xué)Hongyi Xu教授等人使用原位X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)光譜、掃描電子顯微鏡(SEM)、以及X射線納米
2023-03-21 11:15:52755

新型鉀鹽添加劑調(diào)控碳酸酯基電解液溶劑化實(shí)現(xiàn)鋰負(fù)極的有效保護(hù)

采用掃描電子顯微鏡(SEM,圖1e-g)和原位光學(xué)顯微鏡(圖1h-i)研究了在基準(zhǔn)電解液(BE:1 M LiPF6, EC/EMC 3:7, v/v)中,不添加和添加KFPB添加劑時(shí)沉積Li的形貌變化。含有0.03 M KFPB添加劑的BE被命名為KFPB-BE。
2023-04-07 11:13:371126

失效分析和可靠性測(cè)試:為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備

對(duì)所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對(duì)掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測(cè)計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要,現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和測(cè)量?jī)x器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39928

喜報(bào)!國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì),高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel)、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像,同時(shí)
2023-04-12 11:38:30573

AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

近日,蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要,蔡司
2023-07-04 15:39:24249

SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù),一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:061997

EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

EM科特(EmCrafts)Cube系列桌面式掃描電鏡,是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身,Cube系列占地面積小,便攜性能好,可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433

邀請(qǐng)函 | 國(guó)儀量子邀您參加慕尼黑上海分析生化展

、電子順磁共振波譜儀、掃描電子顯微鏡、氣體吸附分析儀、量子測(cè)控等系列產(chǎn)品參展。誠(chéng)邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀!國(guó)儀量子展位號(hào):2.2B301深耕產(chǎn)業(yè),多領(lǐng)域解決方案報(bào)告會(huì)議期
2023-07-06 10:03:56316

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究,人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419

國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

。對(duì)于此類場(chǎng)景,常規(guī)掃描電鏡效率嚴(yán)重不足,為解決客戶痛點(diǎn),國(guó)儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000?!备咚?b class="flag-6" style="color: red">掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:23453

蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47363

季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息;尤其在低的加速電壓下,可在避免樣品損傷的同時(shí),快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44377

CD-SEM是怎樣測(cè)線寬呢?CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別?

CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy,中文翻譯過來(lái)是:特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231440

Sandbox混合計(jì)量圖像處理工具可簡(jiǎn)化新工藝配方的實(shí)驗(yàn)

使用,使用機(jī)器學(xué)習(xí)(ML)算法從掃描電子顯微鏡( SEM )和透射電子顯微鏡(TEM)數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓,從而減少工程師的手動(dòng)測(cè)量任務(wù)。 工藝技術(shù)變得越來(lái)越復(fù)雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達(dá)數(shù)十億美元,而且越來(lái)越復(fù)雜和昂貴:公司需要進(jìn)行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17530

你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎

掃描電子顯微鏡是一種電子光學(xué)儀器,廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢測(cè)等領(lǐng)域。自20世紀(jì)60年代以來(lái),掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來(lái),發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30360

一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

1. 工作原理 掃描電子顯微鏡電子束為光源,以光柵式掃描方式將精細(xì)聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產(chǎn)生的電子然后被收集和處理,以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393858

高端新品發(fā)布!國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)

10月26日,2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X,開啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471164

國(guó)儀量子帶您全景回顧2023全國(guó)電鏡年會(huì)

在會(huì)議期間重磅發(fā)布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X,標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)高端電鏡發(fā)展進(jìn)入全新階段。顯微學(xué)人以振興電
2023-11-01 08:25:46523

鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項(xiàng)

鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大,抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52176

一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率

EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù),全稱電子背散射衍射。它通過測(cè)量反射電子的角度和相位差來(lái)確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比,EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率,可以獲得亞微米級(jí)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48367

漲知識(shí)了,掃描電子顯微鏡的用途原來(lái)這么多

掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng),可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料,迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù),在采礦業(yè),可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19464

蔡司掃描電鏡Sigma系列:掃描電子顯微鏡的用途原來(lái)這么多

掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng),可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料,迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù),在采礦業(yè),可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235

蔡司掃描電子顯微鏡的工作原理及主要特點(diǎn)

蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量
2023-12-07 11:49:36284

掃描電鏡的原理、優(yōu)勢(shì)、應(yīng)用領(lǐng)域你都知道嗎?

? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu),是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛,甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對(duì)掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37511

亞納米級(jí)高分辨率掃描電子顯微鏡

蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡的分辨率取得了重大進(jìn)步,已進(jìn)入亞納米級(jí),這在很大程度上歸功于硬件的改進(jìn),如更亮的場(chǎng)發(fā)射電子源,更好的電子光學(xué)設(shè)計(jì)(如單色器、像差矯正和減速技術(shù)等),更高效的探測(cè)器
2024-01-03 16:43:59144

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無(wú)涂層的鉆頭的切削刃口情況,圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況;圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298

掃描電鏡為什么分辨率高,景深大,立體感強(qiáng)?

掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”??梢哉f,幾乎每一個(gè)研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來(lái)介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像,類似于光學(xué)
2024-01-17 09:39:56146

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