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柵極電阻RG對IGBT開關(guān)特性的影響

2011年08月10日 11:16 本站整理 作者:佚名 用戶評論(0
關(guān)鍵字:RG(2)柵極電阻(3)IG(3)

  1 前言

  用于控制、調(diào)節(jié)和開關(guān)目的的功率半導(dǎo)體器件需要更高的電壓和更大的電流。功率半導(dǎo)體器件的開關(guān)動作受柵極電容的充放電控制。而柵極電容的充放電通常又受柵極電阻的控制。通過使用典型的+15V控制電壓(VG(on)),IGBT導(dǎo)通,負輸出電壓為-5V~-15V時,IGBT關(guān)斷。IGBT的動態(tài)性能可通過柵極電阻值來調(diào)節(jié)。柵極電阻影響IGBT的開關(guān)時間、開關(guān)損耗及各種其他參數(shù),從電磁干擾EMI到電壓和電流的變化率。因此,柵極電阻必須根據(jù)具體應(yīng)用的參數(shù)非常仔細地選擇和優(yōu)化。

  2 柵極電阻RG對IGBT開關(guān)特性的影響

  IGBT開關(guān)特性的設(shè)定可受外部電阻RG的影響。由于IGBT的輸入電容在開關(guān)期間是變化的,必須被充放電,柵極電阻通過限制導(dǎo)通和關(guān)斷期間柵極電流 (IG)脈沖的幅值來決定充放電時間(見圖1)。由于柵極峰值電流的增加,導(dǎo)通和關(guān)斷的時間將會縮短且開關(guān)損耗也會減少。減小RG(on)和 RG(off)的阻值會增大柵極峰值電流。當減小柵極電阻的阻值時,需要考慮的是當大電流被過快地切換時所產(chǎn)生的電流上升率di/dt。電路中存在雜散電 感在IGBT上產(chǎn)生大的電壓尖峰,這一效果可在圖2所示的IGBT關(guān)斷時波形圖中觀察到。圖中的陰影部分顯示了關(guān)斷損耗的相對值。集電極-發(fā)射極電壓上的 瞬間電壓尖峰可能會損壞IGBT,特別是在短路關(guān)斷操作的情況下,因為di/dt比較大??赏ㄟ^增加?xùn)艠O電阻的值來減小Vstray。因此,消除了由于過 電壓而帶來的IGBT被損毀的風險??焖俚膶?dǎo)通和關(guān)斷會分別帶來較高的dv/dt和di/dt,因此會產(chǎn)生更多的電磁干擾(EMI),從而可能導(dǎo)致電路故 障。表1顯示不同的柵極電阻值對di/dt的影響。

  


  圖1 導(dǎo)通、關(guān)斷/柵極電流

  

 

  圖2 IGBT關(guān)斷

  

 

  表1 變化率/特性

  3 對續(xù)流二極管開關(guān)特性的影響

  續(xù)流二極管的開關(guān)特性也受柵極電阻的影響,并限制柵極阻抗的最小值。這意味著IGBT的導(dǎo)通開關(guān)速度只能提高到一個與所用續(xù)流二極管反向恢復(fù)特性相兼 容的水平。柵極電阻的減小不僅增大了IGBT的過電壓應(yīng)力,而且由于IGBT模塊中diC/dt的增大,也增大了續(xù)流二極管的過壓極限。通過使用特殊設(shè)計 和優(yōu)化的帶軟恢復(fù)功能的CAL(可控軸向壽命)二極管,使得反向峰值電流減小,從而使橋路中IGBT的導(dǎo)通電流減小。

  4 驅(qū)動器輸出級的設(shè)計

  柵極驅(qū)動電路的驅(qū)動器輸出級是一種典型的設(shè)計,采用了兩個按圖騰柱形式配置的MOSFET,如圖3所示。兩個MOSFET的柵極由相同的信號驅(qū)動。當 信號為高電平時,N通道MOSFET導(dǎo)通,當信號為低電平時,P通道MOSFET導(dǎo)通,從而產(chǎn)生了兩個器件推挽輸出的配置。MOSFET的輸出級可有一路 或兩路輸出。據(jù)此可實現(xiàn)具有一個或兩個柵極電阻(導(dǎo)通,關(guān)斷)的用于對稱或不對稱柵極控制的解決方案。

  

 

  圖3 RG(on)/RG(off)的連接

  5 柵極電阻的計算

  對于低開關(guān)損耗,無IGBT模塊振蕩,低二極管反向恢復(fù)峰值電流和最大dv/dt限制,柵極電阻必須體現(xiàn)出最佳的開關(guān)特性。通常在應(yīng)用中,額定電流大 的IGBT模塊將采用較小的柵極電阻驅(qū)動;同樣的,額定電流小的IGBT模塊,將需要較大的柵極電阻。也就是說,IGBT數(shù)據(jù)手冊中所給的電阻值必須為每 個設(shè)計而優(yōu)化。IGBT數(shù)據(jù)手冊指定了柵極電阻值。然而,最優(yōu)的柵極電阻值一般介于數(shù)據(jù)手冊所列值和其兩倍之間。IGBT數(shù)據(jù)手冊中所指定的值是最小值。 在指定條件下,兩倍于額定電流可被安全地關(guān)斷。在實際中,由于測試電路和各個應(yīng)用參數(shù)的差異,IGBT數(shù)據(jù)手冊中的柵極電阻值往往不一定是最佳值。上面提 到的大概的電阻值(即兩倍的數(shù)據(jù)表值)可被作為優(yōu)化的起點,以相應(yīng)地減少柵級電阻值。確定最優(yōu)值的唯一途徑是測試和衡量最終系統(tǒng),使應(yīng)用中的寄生電感最小 很重要。這對于保持IGBT的關(guān)斷過電壓在數(shù)據(jù)手冊的指定范圍內(nèi)是必要的,特別是在短路情況下。柵極電阻決定柵極峰值電流IGM。增大柵極峰值電流將減少 導(dǎo)通和關(guān)斷時間,以及開關(guān)損耗。柵極峰值電流的最大值和柵極電阻的最小值分別由驅(qū)動器輸出級的性能決定。

  6 設(shè)計、布局和疑難解答

  為了能夠經(jīng)受住應(yīng)用中出現(xiàn)的大負載,柵極電阻必須滿足一定的性能要求并具有一定的特性。由于柵極電阻上的大負載,建議使用電阻并聯(lián)的形式。這將產(chǎn)生一 個冗余,如果一個柵極電阻損壞,系統(tǒng)可臨時運行,但開關(guān)損耗較大。選擇錯誤的柵極電阻,可能會導(dǎo)致問題和不希望的結(jié)果。所選的柵極電阻值太大,將導(dǎo)致?lián)p耗 過大,應(yīng)減小柵極電阻值。過高的柵極電阻值可能會導(dǎo)致IGBT在開關(guān)期間長時間運行在線性模式下,最終導(dǎo)致柵極振蕩。然而,萬一電阻的功耗和峰值功率能力 不夠,或者使用了非防浪涌電阻,都會導(dǎo)致柵極電阻過熱或燒毀。運行期間,柵極電阻不得不承受連續(xù)的脈沖電流,因此,柵極電阻必須具有一定的峰值功率能力。 使用非常小的柵極電阻,會帶來更高的dv/dt 或di/dt,但也可能會導(dǎo)致EMI噪聲。

  應(yīng)用(直流環(huán)節(jié))中的電感過大或者使用的柵極電阻小,將導(dǎo)致更大的di/dt,從而產(chǎn)生過大的IGBT電壓尖峰。因此,應(yīng)盡量減小電感或者增大柵極電 阻值。為減小短路時的電壓尖峰,可使用軟關(guān)斷電路,它可以更緩慢地關(guān)斷IGBT。柵極電阻和IGBT模塊之間的距離應(yīng)盡可能短。如果柵極電阻和IGBT模 塊之間的連線過長,將會在柵極-發(fā)射極的通道上產(chǎn)生較大的電感。結(jié)合IGBT的輸入電容,該線路電感將形成一個LC振蕩電路。可簡單地通過縮短連線或者用 比最小柵極電阻值RG(min)≥2√Lwire/Cies大的柵極電阻來衰減這種振蕩。

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( 發(fā)表人:葉子 )

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