電源掉電技術(shù)
?
我們是實(shí)際測(cè)試中，可能會(huì)出現(xiàn)間歇性的斷電的情況，這可能是接觸不好或者其他原因，因此我們需要從軟件和硬件的設(shè)計(jì)中給單片機(jī)爭(zhēng)取時(shí)間來保存數(shù)據(jù)和處理這種情況，因?yàn)槿绻麛嚯姇r(shí)沒有保存，可能出現(xiàn)上電后的無法恢復(fù)的問題。
這是我們一般電源分電圖，當(dāng)電源跌落的時(shí)候，我們一般還是以通常的5ms作為檢測(cè)電源的周期，當(dāng)我們檢測(cè)到電源低的時(shí)候，馬上切換到2ms的檢測(cè)時(shí)間，如果后兩次繼續(xù)檢測(cè)到低電壓的時(shí)候，我們就要采取關(guān)閉負(fù)載的方式來降低電流，并且把MCU的高工作頻率降低，然后保存數(shù)據(jù)。
我們需要建立模型，按照上面的模式，我們可以分為用二極管分兩路和不分的兩種情況。
OK，我們?cè)O(shè)計(jì)的硬件就是保證C足夠大，能夠保證MCU有充分的時(shí)間保存數(shù)據(jù)和狀態(tài)。具體的計(jì)算還是通過拉普拉斯變換來做，分電相對(duì)要簡(jiǎn)單些。
不分電比較麻煩，不過還是可以算的。
這是我們一般電源分電圖，當(dāng)電源跌落的時(shí)候，我們一般還是以通常的5ms作為檢測(cè)電源的周期，當(dāng)我們檢測(cè)到電源低的時(shí)候，馬上切換到2ms的檢測(cè)時(shí)間，如果后兩次繼續(xù)檢測(cè)到低電壓的時(shí)候，我們就要采取關(guān)閉負(fù)載的方式來降低電流，并且把MCU的高工作頻率降低，然后保存數(shù)據(jù)。
我們需要建立模型，按照上面的模式，我們可以分為用二極管分兩路和不分的兩種情況。
OK，我們?cè)O(shè)計(jì)的硬件就是保證C足夠大，能夠保證MCU有充分的時(shí)間保存數(shù)據(jù)和狀態(tài)。具體的計(jì)算還是通過拉普拉斯變換來做，分電相對(duì)要簡(jiǎn)單些。
不分電比較麻煩，不過還是可以算的。