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怎么判斷晶片電阻好壞

2019年05月17日 10:18 lq 作者: 用戶(hù)評(píng)論(0

怎么判斷晶片電阻好壞

提及薄膜精密晶片電阻,薄膜晶片電阻器(RTR)是用類(lèi)蒸發(fā)的方法將一定電阻率材料蒸鍍于絕緣材料表面制成,一般這類(lèi)電阻常用的絕緣材料是陶瓷基板。

薄膜電阻器是高精度電阻器的一種,它采用類(lèi)蒸發(fā)的方法將一定電阻率材料蒸鍍于絕緣材料表面制成,一般這類(lèi)電阻常用的絕緣材料是陶瓷基板。我們常說(shuō)的高精度低溫漂貼片電阻一般就指的是薄膜貼片電阻器,包括常見(jiàn)的千分之一電阻和萬(wàn)分之一電阻。

厚膜貼片電阻,又稱(chēng):片式固定電阻器,采用厚膜工藝印刷而成,這種電阻有多種形狀,包括帶型、曲線(xiàn)形、長(zhǎng)方形等。主要在功率電阻和精密電阻的制造中應(yīng)用較多。這種電阻耐潮濕、高溫、溫度系數(shù)小、體積小,重量輕。

常規(guī)厚膜片式電阻生產(chǎn)流程:原材料準(zhǔn)備基片漿料絲網(wǎng)→正背面導(dǎo)體印刷→導(dǎo)體燒結(jié)烘干→電阻印刷→電阻體燒結(jié)→玻璃層印刷→玻璃層燒結(jié)→鐳射切割→保護(hù)層印刷→保護(hù)層硬化→字碼印刷→分條→端銀/濺鍍→端頭硬化→折粒/電鍍→測(cè)試→編帶包裝。

薄膜精密晶片電阻,怎么區(qū)分電阻是薄膜式還是厚膜式

薄膜電阻和厚膜電阻是使用較多的一種類(lèi)型電阻,薄膜電阻是現(xiàn)在主流的貼片精密電阻器,但是如何區(qū)分這兩種電阻呢?

1、根據(jù)膜厚

厚膜電阻的膜厚一般大于10μm,薄膜的膜厚小于10μm,大多處于小于1μm;2、根據(jù)制造工藝

厚膜電阻一般采用絲網(wǎng)印刷工藝,薄膜電阻采用的是真空蒸發(fā)、磁控濺射等工藝方法。

3、根據(jù)精度

薄膜精密晶片電阻,厚膜電阻一般精密程度不高,多數(shù)是1%、5%、10%等,而薄膜電阻則可以做到0.01%精度,0.1%精度等;4、根據(jù)溫度系數(shù)

厚膜電阻的溫度系數(shù)上很難控制,一般較大,但是薄膜電阻則可以做到非常低的溫度系數(shù),如5PPM/℃,10PPM/℃這樣電阻阻值隨溫度變化非常小,阻值穩(wěn)定可靠,因此價(jià)格相對(duì)厚膜電阻來(lái)說(shuō)會(huì)比較貴一些。因此:當(dāng)溫度系數(shù)和精度要求高時(shí),就使用薄膜工藝的電阻,如果是一般要求使用厚膜工藝的電阻即可。

薄膜電容好壞檢測(cè)

方法一

1.將電容器電源接通,如果接通的瞬間萬(wàn)用表的指針不擺動(dòng),則說(shuō)明電容器失效或斷路。若表針一直指示電源電壓,但是卻不作擺動(dòng),表明電容器已短路。若表針擺動(dòng)正常,但不返回零位,說(shuō)明電容器有漏電現(xiàn)象。因?yàn)樗甘镜碾妷簲?shù)值越高,表明漏電量越大。

2.薄膜精密晶片電阻,測(cè)量容量小的電容器所用的輔助直流電壓不能超過(guò)被測(cè)電容器的耐壓,以免因測(cè)量而造成電容器擊穿損壞。要想準(zhǔn)確測(cè)量電容器的容量,需要采用電容電橋或Q表。上述的簡(jiǎn)易檢測(cè)方法,只能粗略判斷壓力表電容器的好壞。

3.容量大的固定電容器可用萬(wàn)用表的電阻檔(R×1000)測(cè)量電容器兩電極,看表針的擺動(dòng)情況,擺幅越大,表明電容器的電容量越大。若測(cè)試棒一直碰觸電容器引線(xiàn),表針應(yīng)指在∞附近,否則,表明該電容器有漏電現(xiàn)象,其電阻值越小,說(shuō)明漏電量越大,則電容器質(zhì)量越差。

4.在檢查電容器的好壞時(shí), 對(duì)耐壓較低的電解電容器,電阻檔應(yīng)放在R×100或 R×1K檔,把紅表筆接電容器的負(fù)端,黑表筆接正端,這時(shí)萬(wàn)用表指針將擺動(dòng),然后恢復(fù)到零位或零位附近,這樣說(shuō)明電解電容器的質(zhì)量是合格的。電解電容器的容量越大,充電時(shí)間越長(zhǎng),指針擺動(dòng)得也越慢。薄膜精密晶片電阻

如何判斷貼片電阻好壞?

判斷貼片電阻的好壞有以下兩種情況:

第一種:用萬(wàn)用表在線(xiàn)測(cè)量法,電阻值大于標(biāo)稱(chēng)值時(shí),說(shuō)明元件有斷路性故障或電阻值變大,已經(jīng)損壞;所測(cè)阻值小于標(biāo)稱(chēng)值時(shí),要考慮到是外圍并聯(lián)元件對(duì)其造成的影響,應(yīng)將元件一端或兩端脫開(kāi)電路進(jìn)行測(cè)量,以便得出確切的測(cè)量結(jié)果。

一旦儀器儀表中的長(zhǎng)方框架形線(xiàn)繞精密電阻損壞,可用與原電阻合金絲的材料、直徑、長(zhǎng)度均相同的新合金電阻絲均勻繞在原框架上代替。如果原長(zhǎng)方框架形線(xiàn)繞精密電阻只是表面絕緣層破損,只需將原電阻絲從框架上拆下,重新浸漆(宜選用性能優(yōu)、價(jià)格低的1260絕緣清漆),再經(jīng)晾干處理后重新繞到原長(zhǎng)方框架上即可。

第二種:外觀(guān)特征判斷法。

具體外觀(guān)特征判斷如下:

貼片電阻表面二次玻璃體保護(hù)膜應(yīng)覆蓋完好,出現(xiàn)脫落,可能已經(jīng)損壞。

元件表面應(yīng)該是平整的,若再現(xiàn)一些“凸凹”,可能損壞。

元件引出端電極一般應(yīng)平整、無(wú)裂痕針孔、無(wú)變色現(xiàn)象,如果出現(xiàn)裂紋,則可能損壞。

貼片電阻體表面顏色燒黑,可能已經(jīng)損壞。

電阻體己經(jīng)變形,可能損壞。

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( 發(fā)表人:李倩 )

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