干簧管傳感器技術(shù) 在干簧傳感器中，關(guān)鍵的元件是簧片開(kāi)關(guān)，它是由Western Electric公司在1940年發(fā)明的。其它主要元件是開(kāi)或關(guān)的彈性簧片及磁鐵或電磁鐵。 經(jīng)過(guò)60年，干簧管開(kāi)發(fā)得到了一些改進(jìn)，使得更可靠，在改進(jìn)質(zhì)量的同時(shí)又降低了成本。由于這些引人注目的改進(jìn)，干簧管開(kāi)關(guān)在某些要求質(zhì)量、可靠性及安全至上的苛刻應(yīng)用中已成為設(shè)計(jì)的選擇。具體工作原理：干簧繼電器的觸點(diǎn)形式取決于所用的干簧管。干簧管有常開(kāi)（H）、常閉（D）與轉(zhuǎn)換（Z）三種形式。常開(kāi)式干簧管的舌簧片分別固定在玻璃管的兩端，它們?cè)诰€圈（磁鐵）的作用下，一端產(chǎn)生的磁性恰好跟另一端相反，因此兩接觸點(diǎn)依靠磁的“異性相吸”克服彈片的彈力而閉合；常閉式干簧桿的舌簧片則固定在玻璃管的同一端，在外磁場(chǎng)的作用下兩者所產(chǎn)生的磁性相同，因此兩觸點(diǎn)依靠“同性相斥”克服舌簧片的彈力而斷開(kāi)；在常閉式舌簧片的基礎(chǔ)上再加一常開(kāi)的舌簧片，就構(gòu)成了轉(zhuǎn)換式的觸點(diǎn)
干簧繼電器驗(yàn)證測(cè)試
1．?測(cè)試目的?
測(cè)試干簧繼電器的實(shí)際電性能，替換現(xiàn)在正在使用的光耦繼電器。?
2．?測(cè)試儀器?
2.1測(cè)試儀器：三相集中器電路板1臺(tái)，示波器（Tek?DP04032）1臺(tái)，?-60dB衰減盒1個(gè)，信號(hào)耦合器?2臺(tái)，負(fù)載盒（1歐）?2臺(tái)。?2.2測(cè)試樣品：器件型號(hào)??S1A050D00。?
3．?測(cè)試時(shí)間、地點(diǎn)及條件?
3.1測(cè)試時(shí)間：2008-02-16下午?3.2測(cè)試地點(diǎn)：深圳實(shí)驗(yàn)室?
3.3測(cè)試條件：在現(xiàn)有市電電網(wǎng)（隔離）背景環(huán)境下，當(dāng)時(shí)環(huán)境室溫、濕度條件。?
4．?測(cè)試項(xiàng)目?
4.1電性能：?4.1.1測(cè)試方法?
在S1A050D00正常工作狀態(tài)下，依照常規(guī)測(cè)試方法，測(cè)試S1A050D00觸點(diǎn)電性能和線圈電性能。
4.1.2?測(cè)試記錄?
電性能測(cè)試記錄見(jiàn)表1和表2。?
4.2實(shí)際靈敏度測(cè)試：?4.2.1測(cè)試方法?
把一塊裝有光耦繼電器的三相集中器作為測(cè)試平臺(tái)，任取其中的一相（實(shí)驗(yàn)中取C相）拆除光耦繼電器LCA710，在該位置改為干簧繼電器S1A050D00，相應(yīng)的電路改動(dòng)見(jiàn)下圖所示（圖1是更改前，圖2是更改后），然后對(duì)比測(cè)試C相與其它兩相的性能并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。
4.2.2?測(cè)試記錄?
測(cè)試的相關(guān)數(shù)據(jù)記錄見(jiàn)表格2。
說(shuō)明：?
表中C相是采用干簧繼電器（S1A050D00）的數(shù)據(jù)，A相是光耦繼電器（LCA710）的數(shù)據(jù)。?
4.3實(shí)際裝機(jī)測(cè)試?4.3.1測(cè)試方法?
以三相集中器為測(cè)試平臺(tái)，安照?qǐng)D2改裝好A、B、C三相的電路，然后在任一相（A相）接1歐負(fù)載，給三相集中器通電測(cè)試。?
第一步：PC與集中器模擬抄表測(cè)試；每次抄表10次，計(jì)算成功率，重復(fù)3次測(cè)試。?
第二步：連續(xù)工作測(cè)試；讓集中器連續(xù)工作，信號(hào)發(fā)送周期664mS?，信號(hào)頻率132KHz，信號(hào)包寬度51mS?，信號(hào)幅值3V，?測(cè)試時(shí)間24分鐘。??
4.3.2?測(cè)試記錄?
第一步：抄送成功率：100%；?第二步：系統(tǒng)工作正常。?
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? ? ? ?5．?測(cè)試結(jié)論?
電性能方面可以替換LCA710。