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光學(xué)測試 - 高亮度LED的全方位測試

2011年09月29日 15:03 本站整理 作者:秩名 用戶評論(0
關(guān)鍵字:led(642741)
5 光學(xué)測試

  光學(xué)測量中也需要使用正向電流偏置,因為電流與HBLED的發(fā)光量密切相關(guān)。可以用光電二極管或者積分球來捕捉發(fā)射的光子,從而可以測量光功率??梢詫l(fā)光變換為一個電流,并用電流計或者一個信號源-測量單元的單個通道來測量該電流。

  6 反向擊穿電壓測試

  對HBLED施加的反向偏置電流可以實現(xiàn)反向擊穿電壓(VR)的測試。該測試電流的設(shè)置應(yīng)當(dāng)使所測得的電壓值不再隨著電流的輕微增加而顯著上升。在更高的電壓下,反向偏置電流的大幅增加所造成的反向電壓的變化并不顯著。

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