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LED熱特性和壽命檢測

2012年03月13日 16:11 杭州遠(yuǎn)方光電信息股份有 作者:張維,李倩,潘建根 用戶評論(0

  1 概述

  LED的熱學(xué)特性主要包括LED結(jié)溫、熱阻、瞬態(tài)變化曲線(加熱曲線、冷卻曲線)等。結(jié)溫是指LED的PN結(jié)溫度,熱阻是指LED散熱通道上的溫度差與該通道上的耗散功率之比,用于表征LED的散熱能力,研究表明,LED的熱阻越低其散熱性能越好,相應(yīng)的LED光效一般也越高,壽命越長。檢測熱學(xué)特性的關(guān)鍵在于對LED結(jié)溫的準(zhǔn)確測量,現(xiàn)有的對LED結(jié)溫的測試一般有兩種方法:一種是采用紅外測溫法測得LED芯片表面的溫度并視其為LED的結(jié)溫,但是準(zhǔn)確度不夠;另一種是通過溫度敏感參數(shù)(temperature-sensitive parameter,簡寫為TSP)獲取PN結(jié)溫,這是目前較普遍的LED結(jié)溫測試方法,其技術(shù)難點在于對測試設(shè)備要求較高。

  LED的壽命主要表現(xiàn)為它的光衰,通常把LED光輸出衰減到初始光輸出的70%或50%作為判斷壽命失效的指標(biāo),即光通量維持壽命。但由于LED是高可靠性器件,壽命一般都會超過幾千小時甚至是一萬多小時,直接測量等待光衰到指定值的做法在工業(yè)上的應(yīng)用十分困難。

  2 LED熱學(xué)特性測試

  2.1 LED結(jié)溫和熱阻的測量

  美國EIA/JESD51 《Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages 》系列標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)SJ20788-2000 《半導(dǎo)體二極管熱阻抗測試方法》、GB/T4023-1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電流 第2部分:整流二極管》、QB/T 4057-2010《普通照明用發(fā)光二極管 性能要求》等國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)都較為詳細(xì)地介紹了通過溫度敏感參數(shù)TSP測量結(jié)溫和熱阻的方法。對于LED,TSP為PN結(jié)兩端的正向電壓。在確定電流下,LED的正向偏壓與結(jié)溫之間近似成反比關(guān)系,由此可得到結(jié)溫的變化為:

  

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  式(1)中K為溫度敏感系數(shù),由下式可到:

  

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  式(2)中,VL為低結(jié)溫TL(如25℃)時LED在測量電流IM(小電流)下的正向電壓,VH為高結(jié)溫TH(如100℃)時LED在測量電流IM下的正向電壓。

  LED結(jié)溫測量的時序如圖1所示:

  

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  圖1(a) 電流時序圖 圖1(b)電壓時序圖

  1)首先對LED正向施加測試電流IM,測量正向結(jié)電壓VFI;

  2)用加熱電流IH取代IM加到待測LED兩端,加熱一定時間(tH)待LED達到穩(wěn)定狀態(tài),測量所測LED散熱通道上的熱耗散功率(PH);

  3) 再用IM迅速取代IH加到待測LED兩端,并測得正向結(jié)壓降(VFF);

  4) 計算LED的結(jié)溫和熱阻:

  根據(jù)上述原理,結(jié)溫計算公式為:

  

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  熱阻計算公式為:

  

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  式(3)中, 為初始溫度,式(4)中 為散熱通道上指定點的溫度,例如,環(huán)境溫度或外殼溫度。對于LED,輸入的電功率一部分用于LED發(fā)光,另一部分產(chǎn)生熱量,而熱耗散功率PH往往很難從總輸入電功率中區(qū)分出來,因此為方便和簡化測量,QB/T 4057-2010提出了“參考熱阻”的概念,即使用輸入總功率替代式(4)中的熱耗散功率。 “參考熱阻”由于測量方便,復(fù)現(xiàn)性好,得到了越來越多的應(yīng)用。

  在加熱電流IH 作用下,監(jiān)視LED的結(jié)溫上升過程,獲取加熱曲線也很有意義,圖2所示為典型的加熱曲線,它不僅能夠判斷LED是否達到熱平衡,而且對于LED的結(jié)構(gòu)和散熱能力分析有具有參考作用。

  

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  圖2加熱曲線

  獲取加熱曲線的技術(shù)難點在于測試電流與加熱電流切換時間必須要足夠短,并且瞬態(tài)數(shù)據(jù)的采集必須非常迅速。切換時間和數(shù)據(jù)采集時間一般要達到幾到十幾微秒,否則不能反映出LED結(jié)溫的實際變化過程,導(dǎo)致最終測試出的熱阻被大幅低估。

  

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