傳統(tǒng)的 IGBT 在歷史上一直受到開關(guān)損耗的影響。為了高效運(yùn)行,IGBT 需要像硅 FRD 一樣的續(xù)流二極管 (FRD),如圖 1 所示。隨著 Rohm Semiconductor 最近發(fā)布的一種混合 IGBT,它采用了 SiC 肖特基勢壘二極管 (SBD),這一限制得到了解決,從而導(dǎo)致與傳統(tǒng)的 Si FRD IGBT 和超結(jié) (SJ) MOSFET 相比,分別提高了 67% 和 24%。這種改進(jìn)加上低成本,有利于多種用途,包括機(jī)器人、輔助電源、高壓工業(yè)電機(jī)驅(qū)動和不間斷電源 (UPS)。羅門半導(dǎo)體的這份白皮書將批判性地研究新的混合 IGBT 系列版本及其應(yīng)用,并比較分析該系列中各種產(chǎn)品的規(guī)格。
圖 1:功率器件配置比較
電子應(yīng)用中對高效功率半導(dǎo)體器件的需求不斷增長
電子產(chǎn)品的快速小型化、多功能化以及對節(jié)能的推動已經(jīng)導(dǎo)致對高效功率半導(dǎo)體器件的空前需求。絕緣柵雙極晶體管(IGBT)在電子制造業(yè)中得到廣泛普及;然而,混合 IGBT 解決方案提供更高水平的可靠性,適用于高功率要求的工業(yè)和汽車應(yīng)用。該解決方案適用于電動和電動汽車 (xEV) 中的汽車充電器(車載充電器)、太陽能逆變器(功率調(diào)節(jié)器)、UPS、空調(diào)、電子壓縮機(jī)和車載 DC/DC 轉(zhuǎn)換器。
混合 IGBT 非常適合這些應(yīng)用,因為它們滿足低開關(guān)損耗、低 V CE、高功率轉(zhuǎn)換效率和低成本等關(guān)鍵要求。這些解決方案提供超過 97% 的效率,可確保在用于汽車充電器時具有較寬的工作頻率范圍。在 100 kHz 時,它們的效率比傳統(tǒng) IGBT 高 3%,有助于在這些汽車和工業(yè)應(yīng)用中降低功耗和成本效益。
圖 3:不同功率器件配置的功率轉(zhuǎn)換效率比較
圖 3 顯示,傳統(tǒng)的 Si FRD IGBT 在 100 kHz 時具有 94% 的最低功率轉(zhuǎn)換效率。盡管標(biāo)準(zhǔn) SJ MOSFET 和混合 IGBT 具有相當(dāng)?shù)男?,但較新的 IGBT 顯示出優(yōu)于 SJ MOSFET 的質(zhì)量,因為它們即使在更高的工作頻率下也能保持穩(wěn)定性。
將SBD 與 IGBT 集成:主要優(yōu)勢
盡管傳統(tǒng)的 IGBT 和 SJ MOSFET 是由硅襯底制成的,但它們的器件結(jié)構(gòu)存在一些差異。例如,雖然 IGBT 在開啟或關(guān)閉時會出現(xiàn)與開關(guān)損耗相關(guān)的問題(開啟和關(guān)閉損耗),并且使用 FRD 可以更有效地運(yùn)行,但 SJ MOSFET 具有更好的開關(guān)損耗相關(guān)特性,并且沒有要求對于FRD。然而,IGBT 可以處理比 MOSFET 更高的電壓,這使得它們成為多種大功率應(yīng)用的理想之選。與 SiC FRD 不同,SiC SBD 可以通過降低開關(guān)損耗來極大地提高 IGBT 的性能。
圖 4:通過集成 SiC SBD 降低開啟損耗的效果
圖 4 顯示了 SiC SBD 與 IGBT 集成的理想效果。如圖所示,與傳統(tǒng)的 Si FRD 集成 IGBT 相比,SiC SBD 集成 IGBT 與新型 IGBT 一樣,可以限制超過 10A 的電流損耗,并將功率器件的反向恢復(fù)時間縮短多達(dá) 60%。如圖 5 所示,通過將 SiC SBD 用作 FRD,混合 IGBT 與傳統(tǒng) IGBT 相比可顯著降低高達(dá) 67% 的開關(guān)損耗,與 SJ MOSFET 相比可降低 24%。
圖 5:不同功率器件配置中的損耗比較
此外,無論結(jié)溫范圍如何,SiC SBD IGBT 均可實現(xiàn)較低的正向壓降 (V f ),從而提高效率。
圖 6:SiC SBD IGBT 提供的 Vf 低于其他公司。
混合 IGBT 在各種大功率工業(yè)和汽車應(yīng)用中的優(yōu)勢
混合 IGBT 在電子應(yīng)用中具有多種優(yōu)勢。與現(xiàn)有的 IGBT 相比,它們在 E on和 E rec降低、開關(guān)效率、V CE(sat)降低、V峰值降低和整體效率方面都有顯著改進(jìn)。
E on和 E rec減少
在 IGBT 中加入 SiC SBD 可顯著降低開啟期間的能量損失 (E on ) 和反向恢復(fù)能量損失 (E rec ),最多可降低 50%。
圖 7:使用混合 IGBT 降低 Eon
傳統(tǒng)Rohm的Si FRD IGBT(RGW00TS65D)的Eon為1.11兆焦耳,而SiC SBD IGBT的Eon為0.57兆焦耳。SBD IGBT的開關(guān)將限制開關(guān)期間的能量損失,并支持大電流、高電壓應(yīng)用。
(注:Eon包括二極管反向恢復(fù)(Erec)。)
從Eon和Erec的減少中提高開關(guān)效率
Eon和Erec的減少導(dǎo)致開關(guān)能量損失的相應(yīng)減少,從而提高開關(guān)效率?;旌螴GBT的特點(diǎn)是開關(guān)能量損失從2.7兆焦耳顯著減少到1.4兆焦耳,相當(dāng)于47%。
圖 8:由于 Eon 和 Erec 減少導(dǎo)致 ESW 減少
開關(guān)效率相應(yīng)提高 3.2%,使 RGWxx65C 系列適用于硬軟件應(yīng)用。
圖 9:顯示混合 IGBT 開關(guān)效率改進(jìn)的圖表
V CE(sat)降低
圖 10 顯示,Rohm 的混合 IGBT 顯著降低了電力系統(tǒng)中的集電極-發(fā)射極電壓 (V CE )。在 I C = 60 A 和 T j = 175?C 時,RGW00TS65C 的 V CE(SAT) = 1.85 V,比 Comp. 的傳統(tǒng) IGBT 低 0.05 V。D. 此外,在 T j = 25?C 時,混合 IGBT 的 V CE(SAT)為 1.5 V,比傳統(tǒng) IGBT 低 0.15 V。Rohm 的更薄晶圓技術(shù)和場停止導(dǎo)致 V CE(SAT)和 SW 損耗之間的最佳平衡,有利于降低整體損耗、提高效率和降低器件溫度。
圖 10:IC 與 VCE 的關(guān)系圖
開關(guān)事件期間的V峰值降低
混合 IGBT 的過沖被限制為 1,這會導(dǎo)致 V峰值顯著降低。傳統(tǒng) IGBT 的 V峰值為 519 V,而混合 IGBT 系列的 V峰值較低,為 478 V,如圖 11 所示。
圖 11:比較的 Vpeak 值比較。D和羅姆
混合 IGBT 比 Comp 更能有效降低EMI 的Rg。D. 它還有助于確保降低開關(guān)損耗,如圖 13 所示。
圖 12:EOFF+ON 與 IC、SW 的關(guān)系圖
與其他技術(shù)相比,整體效率提高
與其他技術(shù)相比,混合 IGBT 系列在高開關(guān)頻率下表現(xiàn)出卓越的效率。僅次于 SiC MOS 技術(shù),超越 SJ MOSFET。憑借這些高水平的效率,由于極快的 SiC SBD,開關(guān)損耗顯著降低。
圖 13:混合 IGBT 與其他技術(shù)的整體效率比較
羅姆 IGBT 解決方案:規(guī)格比較
Rohm的RGWxx65C系列是第三代Rohm IGBT。該系列包括RGW60TS65CHR、RGW80TS65CHR和RGW00TS65CHR。該系列中的其他產(chǎn)品目前正在開發(fā)中,例如RGW40NL65CHR、RGW50NL65CHR和RGW60NL65CHR?,F(xiàn)有產(chǎn)品目前正處于量產(chǎn)階段,預(yù)計將于2021第1季度實現(xiàn)商業(yè)化。RGWxx65C系列的一些常見功能包括符合AEC-Q101、內(nèi)置無恢復(fù)SiC SBD、低集電極-發(fā)射極飽和電壓、無鉛鉛電鍍、符合RoHS、低開關(guān)損耗、軟開關(guān)和TO-247N封裝。
Rohm 利用溝槽柵極和薄晶圓技術(shù)來實現(xiàn)低 V CE(sat)并減少開關(guān),從而有助于在各種大電流、高壓應(yīng)用中提高效率并節(jié)省更多能源。
表 1 和表 2 給出了羅姆混合 IGBT 規(guī)格的詳細(xì)比較。表 1 顯示了解決方案的絕對最大額定值,表 2 總結(jié)了 IGBT 電氣特性。
表 1:絕對最大額定值(Tc = 25?C 時,除非另有說明)
表 2:IGBT 電氣特性(Tj = 25?C 時,除非另有說明)
這種混合型 IGBT 的三個成員的額定電壓為 650 V CES ,額定電流為30-A 至 50-AI C。此外,它們的工作結(jié)溫相似,為 –40°C 至 175°C。
然而,RGW00TS65C IGBT 表現(xiàn)出最高的開關(guān)損耗,在 25°C 和 175°C 的工作結(jié)溫下分別為 0.18 mJ 和 0.19 mJ。這些值低于傳統(tǒng)的 IGBT,使其適用于多種應(yīng)用。
審核編輯:郭婷
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