用例。 那么參照 GB/T 17626.4 與實(shí)際的試驗(yàn)情況,低壓端測(cè)試主要分為供電端口與信號(hào)端口。供電端口即 12V 端口,包括電源與 GND;電源端口又包含繼電器供電與單板供電兩種,兩個(gè)是一起做的;試驗(yàn)的布局結(jié)構(gòu)如下圖,脈沖群發(fā)生器通過耦合網(wǎng)絡(luò)將信號(hào)注入到 12V 與 GND 上;鉛酸電池正負(fù)
2021-02-04 11:49:005422 雙脈沖測(cè)試是表征功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性的重要手段,適用于各類功率器件,包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。同時(shí),這項(xiàng)測(cè)試發(fā)生在器件研發(fā)、器件生產(chǎn)、系統(tǒng)
2022-10-12 15:31:131811 以按照5倍法則選擇示波器的帶寬,即示波器帶寬不低于待測(cè)信號(hào)頻率的5倍!與正弦波信號(hào)不同,脈沖信號(hào)由于具有很多諧波頻率分量,為了信號(hào)保真度,其對(duì)示波器的帶寬提出了更高的要求。脈沖信號(hào)又分為基帶脈沖信號(hào)和射頻脈沖信號(hào),本文將從這兩個(gè)方面著手定性的分析脈沖信號(hào)測(cè)試對(duì)示波器帶寬的要求。
2023-08-23 15:49:37733 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
視頻講解雙脈沖基本原理及意義,點(diǎn)擊下方鏈接在線觀看https://mp.weixin.qq.com/s/8BZ8b-Y6yDbRn6uQASV9iA
2020-06-24 14:18:57
求2012年廣西區(qū)大學(xué)生電子設(shè)計(jì)大賽的
脈沖信號(hào)參數(shù)
測(cè)試儀的獲獎(jiǎng)?wù)撐哪奈淮舐暷芊窒硐隆?/div>
2014-08-30 09:59:38
請(qǐng)問大家一個(gè)問題,在做脈沖群測(cè)試的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)屏一直在閃爍,請(qǐng)問是什么問題,換位另一屏又不閃爍了?? 電壓在2kv謝謝
2019-03-06 17:56:03
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
有些是不能直接拿來使用的。因此可以通過雙脈沖測(cè)試,對(duì)IGBT的性能進(jìn)行更為準(zhǔn)確的評(píng)估。雙脈沖測(cè)試的主要功能如下:1、測(cè)量IGBT的各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)(td>r、Eon、td off、tf、Eoff 等
2019-09-11 09:49:33
各位好,想請(qǐng)教下雙脈沖測(cè)試的幾個(gè)參數(shù)問題。項(xiàng)目所用IGBT是1200V 75A的單管,開關(guān)頻率4kHz。初次接觸雙脈沖測(cè)試,有幾個(gè)疑問:(1)測(cè)試時(shí)的最大電流是按額定75A來,還是150A
2019-11-06 20:47:30
https://mp.weixin.qq.com/s/hR16FxSCcmrGDgItNhLDPw上述視頻包含以下三方面內(nèi)容:— IGBT并聯(lián)均流的影響因素— 六并聯(lián)測(cè)試雙脈沖測(cè)試步驟— 六并聯(lián)短路測(cè)試講師PPT見附件。
2020-06-28 11:21:33
https://mp.weixin.qq.com/s/5zWSxhNFF19kqCKUh7B4zg上述視頻鏈接包含了以下四個(gè)方面內(nèi)容:— 雙脈沖測(cè)試要點(diǎn)回顧— 短路的分類與安全工作區(qū)— 短路測(cè)試方法— 測(cè)試注意事項(xiàng)講師PPT見附件。
2020-06-28 10:48:45
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-27 10:52 編輯
MONTENA核電磁脈沖測(cè)試系統(tǒng)MIL-STD-461/GJB151 RS105是一個(gè)高達(dá)50KV/M的瞬態(tài)電磁脈沖測(cè)試
2018-06-27 10:35:30
https://mp.weixin.qq.com/s/C2PfLBXd7n2YDJ0ht9loow上述視頻講述了以下四方面內(nèi)容。- NPC I型三電平2種應(yīng)用方式- NPC I型三電平拓?fù)溥\(yùn)行狀態(tài)- NPC I型三電平雙脈沖測(cè)試方法- NPC I型三電平短路測(cè)試方法講師PPT見附件
2020-06-28 10:40:04
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
https://mp.weixin.qq.com/s/iYQy1ayfMAz7JKcHgS3kgQ上述為視頻鏈接,主要講一下四個(gè)問題。講師PPT見附件。— T型三電平拓?fù)涞乃姆N結(jié)構(gòu)— T型三電平拓?fù)溥\(yùn)行狀態(tài)— T型三電平雙脈沖測(cè)試方法— T型三電平短路測(cè)試
2020-06-28 10:28:23
pspice中怎么得到雙脈沖測(cè)試信號(hào)?可否通過軟件自帶的信號(hào)源得到?
2015-05-27 23:02:05
——測(cè)試平臺(tái)搭建泰克推出了IGBT Town功率器件支持單脈沖,雙脈沖及多脈沖測(cè)試方案,集成強(qiáng)大的發(fā)生裝置,數(shù)據(jù)測(cè)試裝置及軟件。用戶可以自定義測(cè)試條件,測(cè)試項(xiàng)目包含:Toff, td(off), tf
2020-02-14 11:16:06
本帖最后由 熊宇豪 于 2022-2-16 16:45 編輯
`在學(xué)習(xí)評(píng)估板的user guide之后,了解其基本功能和組成電路組成,首先對(duì)SiC管做雙脈沖測(cè)試考察其開關(guān)特性。對(duì)于雙脈沖測(cè)試
2020-06-18 17:57:15
前言雷達(dá)的微波射頻系統(tǒng)主要包括混頻器、濾波器、放大器、天線等部分。其中放大器、混頻器、T/R組件為脈沖器件測(cè)試的主要對(duì)象。這些關(guān)鍵部件會(huì)對(duì)雷達(dá)的脈沖調(diào)制信號(hào)造成影響,典型的信號(hào)惡化包含:信號(hào)過沖、定
2019-06-04 07:26:29
基于labview實(shí)現(xiàn)的脈沖式線圈測(cè)試儀
2014-08-19 16:29:02
大功率MOSFET、IGBT怎么雙脈沖測(cè)試,調(diào)門極電阻,急!急!急!急!急!急!
2021-02-24 17:38:39
怎么發(fā)脈沖?怎樣測(cè)試脈沖數(shù)?
2021-09-29 06:07:05
隨著科技的不斷進(jìn)步,電子設(shè)備已經(jīng)成為我們?nèi)粘I钪胁豢苫蛉钡囊徊糠帧6陔娮釉O(shè)備中,絕緣電阻測(cè)試儀作為一種重要的設(shè)備,被廣泛應(yīng)用在電力、通訊、航空、軍工等領(lǐng)域。本文將主要介紹智能雙顯絕緣電阻測(cè)試
2023-08-01 11:26:47
單脈沖,雙脈沖及多脈沖測(cè)試方案,集成強(qiáng)大的發(fā)生裝置數(shù)據(jù)測(cè)試裝置及軟件。用戶可以自定義測(cè)試條件,測(cè)試項(xiàng)目包含:Toff, td(ff), tf([c),Eoff, Ton, td(on),tr(Ic
2021-05-20 11:17:57
作者:Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日在本系列的第 1 部分中,我們?yōu)榇蠹医榻B了三種運(yùn)算放大器測(cè)試電路:自測(cè)試電路、雙運(yùn)算放大器環(huán)路以及三運(yùn)算放大器環(huán)路。這些電路有助于
2018-09-07 11:04:41
在本文中,我們將通過雙脈沖測(cè)試來確認(rèn)驅(qū)動(dòng)器源極引腳的效果。驅(qū)動(dòng)器源極引腳的效果:雙脈沖測(cè)試比較為了比較沒有驅(qū)動(dòng)器源極引腳的MOSFET和有驅(qū)動(dòng)源極引腳的MOSFET的實(shí)際開關(guān)工作情況,我們按照右圖
2022-06-17 16:06:12
測(cè)試 測(cè)試測(cè)試測(cè)試
2021-11-22 09:26:58
吉時(shí)利脈沖測(cè)試測(cè)量使用指南(英文版)
2010-03-13 09:13:480 捷變頻脈沖磁控管電性能測(cè)試方法 GB11487-1989
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了捷變頻脈沖磁控管電性能的測(cè)試條件及測(cè)試方法,適用于旋轉(zhuǎn)調(diào)諧捷變頻脈沖磁控管,也適用于其他
2010-05-04 11:39:5514
脈沖頻率比測(cè)試器電路圖
2009-04-14 10:17:13737 脈沖式電測(cè)試是一種能夠減少器件總能耗的測(cè)量技術(shù)。它通過減少焦耳熱效應(yīng)(例如I2R和V2/R),免對(duì)小型納米器件可能造成的損壞。脈沖測(cè)試采用足夠高的電源對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加間
2011-04-09 16:05:5044 ITECH 電子負(fù)載為您的電池脈沖充電測(cè)試提供專業(yè)的解決方案。
2014-06-06 18:16:021552 ADI脈沖氧化測(cè)試儀解決方案
2017-02-07 17:01:4311 本文介紹了半導(dǎo)體測(cè)試的方法、工具和案例,涉及非易失性存儲(chǔ)單元表征測(cè)試和MOSFET測(cè)試,還有半導(dǎo)體測(cè)試儀器-脈沖發(fā)生器。
2017-08-29 15:27:4410 基于脈沖發(fā)生器在半導(dǎo)體測(cè)試中的應(yīng)用
2017-10-17 08:22:522 針對(duì)脈沖式無線電高度表系統(tǒng)原位性能檢測(cè)需求,提出了一種基于射頻通道的測(cè)試方法,并研制出相應(yīng)檢測(cè)設(shè)備。該設(shè)備采用天線耦合方式與機(jī)載設(shè)備對(duì)接,綜合運(yùn)用數(shù)字化精密延時(shí)和脈沖調(diào)制、解調(diào)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)模擬脈沖
2017-11-02 11:45:471 1 、引言 超低相位噪聲是對(duì)雷達(dá)測(cè)試設(shè)備的一個(gè)普遍要求,在航空、航天領(lǐng)域雷達(dá)信號(hào)多為脈沖體制,而脈寬和脈沖重復(fù)頻率直接影響到雷達(dá)測(cè)距和測(cè)速的分辨率,如預(yù)警雷達(dá)需要長(zhǎng)脈寬和低脈沖重復(fù)頻率的信號(hào);而脈沖
2017-11-29 14:21:396437 安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布推出應(yīng)用于FieldFox 手持式分析儀的脈沖測(cè)量選件,旨在進(jìn)一步簡(jiǎn)化雷達(dá)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。 Agilent FieldFox脈沖測(cè)量能夠簡(jiǎn)化雷達(dá)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 雷達(dá)
2017-12-06 13:00:01250 在使用數(shù)字相位解調(diào)和幅度解調(diào)技術(shù)測(cè)量脈沖信號(hào)相位噪聲中,脈寬和脈沖重復(fù)頻率會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響。本文先介紹脈沖信號(hào)的產(chǎn)生機(jī)理和特點(diǎn),并結(jié)合FSWP數(shù)字相位解調(diào)原理,進(jìn)而給出脈沖相位噪聲測(cè)試結(jié)果影響分析。
2018-03-20 09:04:016315 在雷達(dá)、通信、導(dǎo)航和電子對(duì)抗等領(lǐng)域的工程實(shí)踐中,脈沖信號(hào)的測(cè)試與分析是至關(guān)重要的。
2018-04-19 16:06:0014 IGBT的雙脈沖測(cè)試(Double Pulse Test)-Micro_Grid,歡迎加入技術(shù)交流QQ群:電力電子技術(shù)與新能源 905724684,關(guān)注微信公眾號(hào):電力電子技術(shù)與新能源(Micro_Grid)
2019-06-29 09:40:5353728 多次脈沖電纜故障測(cè)試儀采用目前國(guó)際上先進(jìn)的“多次脈沖法”測(cè)試技術(shù),自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的測(cè)試技術(shù)和具有中國(guó)特色的多次脈沖發(fā)生器,使其具有好的電纜故障波形判斷能力和簡(jiǎn)單方便的操作系統(tǒng)。多次脈沖電纜故障測(cè)試儀具有獨(dú)立的知識(shí)產(chǎn)權(quán),國(guó)內(nèi)率先研制成功、國(guó)內(nèi)獨(dú)一的“多次脈沖法”電纜故障測(cè)試儀。
2020-03-05 15:23:53826 多次脈沖智能電纜故障測(cè)試儀是在目前最的二次脈沖法電纜故障測(cè)試儀應(yīng)用技術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。除具備二次脈沖法電纜故障測(cè)試儀的全部?jī)?yōu)點(diǎn)外,還拓展了一個(gè)重要特點(diǎn)、就是在沖擊高壓閃絡(luò)的同時(shí)、脈沖發(fā)生器連續(xù)發(fā)送
2020-03-19 11:34:221697 普賽斯PL系列窄脈沖電流源可應(yīng)用于VCSEL及其它需要窄脈沖激勵(lì)的測(cè)試場(chǎng)景。 PL系列設(shè)備有兩個(gè)通道: ①、恒流脈沖激勵(lì)源,并能同步測(cè)量待測(cè)器件的兩端電壓; ②、脈沖電流測(cè)量通道,特別適用于采用外置
2020-10-09 17:04:011835 , LED 照明和顯示 ,半導(dǎo)體器件特性,過載保護(hù)測(cè)試等等。PL系列脈沖電流源內(nèi)置18 位高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器,使它可以同時(shí)獲得高速脈沖電壓和脈沖光功率波形,而不需要額外使用單獨(dú)的儀器。PL系列脈沖電流源是一套強(qiáng)大的測(cè)試解決方案,可以顯著提高生產(chǎn)力,應(yīng)用范圍從臺(tái)式表測(cè)試到高度自動(dòng)化的脈沖I-V生產(chǎn)測(cè)試
2020-10-16 09:45:361193 通過雙脈沖測(cè)試評(píng)估 MOSFET 的反向恢復(fù)特性我們開設(shè)了 Si 功率元器件的新篇章——“評(píng)估篇”。在“通過雙脈沖測(cè)試評(píng)估 MOSFET 的反向恢復(fù)特性”中,我們將通過雙脈沖測(cè)試來評(píng)估 MOSFET 體二極管的反向恢復(fù)特性,并確認(rèn) MOSFET 損耗情況。
2020-12-28 06:00:0023 激光傳感器在研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試中,需要對(duì)激光傳感器進(jìn)行脈沖仿真測(cè)試,在測(cè)試過程中需要一個(gè)高速脈沖電源,序列功能可以根據(jù)客戶要求,設(shè)定正脈沖電壓工作為3ms,整個(gè)周期為30ms。
2021-01-14 18:01:432034 LTC6993/LTC6994演示電路-連續(xù)測(cè)試序列器(初始延遲后持續(xù)1秒的順序測(cè)試脈沖)
2021-04-10 10:34:235 LTC6993 LTC6994演示電路-連續(xù)測(cè)試序列器(初始延遲后持續(xù)1秒的順序測(cè)試脈沖)
2021-06-08 16:44:2612 VCSEL測(cè)試系統(tǒng)是專為大功率激光器LIV測(cè)試而研制的,大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時(shí)發(fā)熱嚴(yán)重,而激光器特效受溫度影響非常大,直流或?qū)?b class="flag-6" style="color: red">脈沖下的測(cè)試結(jié)果并不能反映器件特性。 VCSEL測(cè)試系統(tǒng)
2021-09-27 11:18:23895 對(duì)雙脈沖測(cè)試的原理、參數(shù)解析、注意事項(xiàng)、測(cè)試意義等進(jìn)行詳細(xì)介紹分析
2022-05-05 16:34:0920 一般,我們是通過閱讀器件廠商提供的datasheet來了解一個(gè)器件的參數(shù)特性,但是datasheet中所描述的參數(shù)是在特定的外部參數(shù)條件測(cè)試得來的,因此這些參數(shù)不能都可以直接拿來使用的。因此可以通過雙脈沖測(cè)試,通過給定兩個(gè)脈沖來測(cè)試IGBT的開關(guān)特性,進(jìn)而對(duì)器件性能進(jìn)行更準(zhǔn)確的評(píng)估。
2022-06-17 17:33:0117546 雙脈沖是分析功率開關(guān)器件動(dòng)態(tài)特性的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法,貫穿器件的研發(fā),應(yīng)用和驅(qū)動(dòng)保護(hù)電路的設(shè)計(jì)。合理采用雙脈沖測(cè)試平臺(tái),你可以在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中從容的調(diào)試驅(qū)動(dòng)電路,優(yōu)化動(dòng)態(tài)過程,驗(yàn)證短路保護(hù)。
雙脈沖測(cè)試基礎(chǔ)系列文章包括基本原理和應(yīng)用,對(duì)電壓電流探頭要求和影響測(cè)試結(jié)果的因素等。
2022-08-01 09:08:1110880 雙脈沖測(cè)試(Double Pulse Test)是分析功率開關(guān)器件動(dòng)態(tài)特性的常用測(cè)試,通過雙脈沖測(cè)試可以便捷的評(píng)估功率器件的性能,獲得穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)過程中的主要參數(shù),更好的評(píng)估器件性能,優(yōu)化驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)等等。
2022-11-04 14:06:272763 為了滿足VCSEL產(chǎn)業(yè)鏈對(duì)窄脈沖LIV和近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試的需求,柯泰光芯現(xiàn)正式發(fā)布領(lǐng)先的VMP9000系列測(cè)試系統(tǒng),它是柯泰的VCSEL測(cè)試產(chǎn)品線中,針對(duì)窄脈沖晶圓的量產(chǎn)需求而設(shè)計(jì)的模塊化多站測(cè)試系統(tǒng)。
2022-11-18 15:44:351355 在電測(cè)行業(yè)中源表會(huì)分為單通道源表和雙通道源表,雙通道源表的兩個(gè)通道可以分別測(cè)試不同的參數(shù)數(shù)值,讓測(cè)試更加快捷方便,但是對(duì)應(yīng)的源表測(cè)試軟件卻沒有雙通道模式,無法對(duì)兩個(gè)通道中的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和儲(chǔ)存。因此納米軟件對(duì)旗下的源表測(cè)試軟件NS-SourceMeter進(jìn)行了功能升級(jí),為其添加了雙通道脈沖掃描模塊。
2022-12-16 14:38:36740 我們開設(shè)了Si功率元器件的新篇章——“評(píng)估篇”。在“通過雙脈沖測(cè)試評(píng)估MOSFET的反向恢復(fù)特性”中,我們將通過雙脈沖測(cè)試來評(píng)估MOSFET體二極管的反向恢復(fù)特性,并確認(rèn)MOSFET損耗情況。
2023-02-10 09:41:081646 一、雙脈沖測(cè)試。 雙脈沖測(cè)試硬件的基本框圖如上圖所示。 高壓源通過疊層母排與電容池連接,并給電容池充電。 低壓源給驅(qū)動(dòng)板供電,信號(hào)發(fā)生器給驅(qū)動(dòng)板發(fā)雙脈沖。 若發(fā)雙脈沖到IGBT模塊下管,則上管截止
2023-02-22 15:16:182 (一)IGBT雙脈沖測(cè)試的意義 對(duì)比不同IGBT的參數(shù)及性能; 獲取IGBT開通和關(guān)斷過程的參數(shù); 評(píng)估驅(qū)動(dòng)電阻是否合適; 開通和關(guān)斷過程是否有不合適的震蕩; 評(píng)估二極管的反向恢復(fù)行為和安全
2023-02-22 15:07:1511 開通特性測(cè)試采用雙脈沖測(cè)試法。由計(jì)算機(jī)設(shè)定并控制輸出漏極電壓VDD值到被測(cè)器件的測(cè)試要求值(一般為被測(cè)器件額定電壓的1/2),設(shè)定±VGS到測(cè)試要求值,計(jì)算機(jī)控制接通開關(guān)S1,并控制輸出
2023-02-22 14:43:331 功率開關(guān)器件的規(guī)格書上有著多種多樣的數(shù)據(jù),如靜態(tài)特性參數(shù),動(dòng)態(tài)特性參數(shù),開關(guān)特性參數(shù)等等。其中靜態(tài)特性參數(shù)大多數(shù)可以通過靜態(tài)參數(shù)一體化測(cè)試機(jī)或者源表等設(shè)備直接測(cè)出,動(dòng)態(tài)特性參數(shù)則可以通過電容測(cè)試平臺(tái)描繪出,最后開關(guān)特性參數(shù)則需要用到雙脈沖測(cè)試才能準(zhǔn)確測(cè)得。
2023-02-22 14:40:203835 IGBT雙脈沖測(cè)試matlab仿真模型,電機(jī)控制器驅(qū)動(dòng)測(cè)試驗(yàn)證,學(xué)習(xí)驗(yàn)證igbt開關(guān)特性.附贈(zèng)大廠資深工程師總結(jié)的雙脈沖測(cè)試驗(yàn)證資料,全部是實(shí)際項(xiàng)目總結(jié)。 鏈接:提取碼:fbif ? ? ?
2023-02-24 10:40:5717 半導(dǎo)體激光器壽命和可靠性的下降,甚至?xí)p毀芯片,最終影響器件可靠性。PL系列窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)由PL系列脈沖恒流源、測(cè)試夾具、積分球、光纖、光譜儀等組成。測(cè)試原理LIV測(cè)試采用對(duì)激光器脈沖電流供電,測(cè)量器
2023-03-22 15:23:33681 雙脈沖測(cè)試是一種用于測(cè)量電子設(shè)備的重要方法,其通過發(fā)送兩個(gè)相互獨(dú)立且短暫的脈沖信號(hào)來分析設(shè)備的性能和可靠性。在進(jìn)行雙脈沖測(cè)試時(shí),我們需要注意一些重要事項(xiàng),以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。 首先,進(jìn)行
2023-07-03 11:45:27678 進(jìn)行雙脈沖測(cè)試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性,可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期。
2023-07-12 16:09:102587 根據(jù)用戶在寬禁帶、雙脈沖測(cè)試遇到的種種問題,安泰配置齊全的儀器、軟件、探頭和服務(wù),加快有關(guān) SiC 和 GaN 功率器件與系統(tǒng)的驗(yàn)證。 通過以下方式幫助您提高系統(tǒng)性能: 符合 JEDEC 和 IEC
2023-07-07 18:08:36373 RF測(cè)試筆記是業(yè)界一線工程師們通過理論和實(shí)踐相結(jié)合的方式介紹射頻微波測(cè)試技術(shù)的專欄,主要涵蓋噪聲系數(shù)、數(shù)字調(diào)制、矢網(wǎng)、頻譜分析、脈沖信號(hào)等內(nèi)容。如有想看到的內(nèi)容或技術(shù)問題,可以在文尾寫下留言。
2023-07-27 10:21:36378 為了進(jìn)行快速脈沖測(cè)試,需要施加快速、短暫的電流脈沖負(fù)載到待測(cè)試的開關(guān)電源。這可以通過專門設(shè)計(jì)的電子負(fù)載、電容、快速開關(guān),或者其他特殊設(shè)計(jì)的負(fù)載電路來實(shí)現(xiàn)。脈沖的幅值、寬度和頻率等參數(shù)可以根據(jù)測(cè)試需求進(jìn)行調(diào)整。
2023-09-27 15:03:28828 點(diǎn)擊上方 “泰克科技” 關(guān)注我們! ■?? 雙脈沖測(cè)試? 雙脈沖測(cè)試中一個(gè)重要目標(biāo)是,準(zhǔn)確測(cè)量能量損耗。在示波器中進(jìn)行準(zhǔn)確的功率、能量測(cè)試,關(guān)鍵的一步是在電壓探頭和電流探頭之間進(jìn)行校準(zhǔn),消除時(shí)序偏差
2023-11-02 12:15:01280 驅(qū)動(dòng)器源極引腳的效果:雙脈沖測(cè)試比較
2023-12-05 16:20:07157 多次脈沖電纜故障測(cè)試儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)? 多次脈沖電纜故障測(cè)試儀是一種用于檢測(cè)電纜故障的高精度、高效率工具。本文將從測(cè)試儀的工作原理、測(cè)試能力、測(cè)試效果、使用方便性等多個(gè)方面詳盡、詳實(shí)、細(xì)致地介紹多次脈沖
2023-12-19 15:36:35173 負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)試方法有:負(fù)載變化測(cè)試、短路測(cè)試以及脈沖測(cè)試。測(cè)試應(yīng)該在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行,并且負(fù)載應(yīng)該與實(shí)際負(fù)載接近,這樣可以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外,在處理和分析測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)要注意數(shù)據(jù)的精度和誤差范圍,保證測(cè)試結(jié)果的可靠性。
2023-12-20 16:49:54283 雙脈沖測(cè)試是一種用于測(cè)量材料電學(xué)性能的非破壞性測(cè)試方法。它通過在被測(cè)材料上施加兩個(gè)不同頻率、相位和幅度的脈沖電壓,來檢測(cè)材料的介電常數(shù)、損耗因子等參數(shù)。雙脈沖測(cè)試原理廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、物理學(xué)
2023-12-30 11:47:00627 電磁兼容EFT群脈沖測(cè)試的實(shí)質(zhì)是什么?電磁兼容性(EMC)是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境中能夠正常工作而不對(duì)周圍的其他設(shè)備或系統(tǒng)產(chǎn)生干擾,并且不被它們的干擾所影響。電磁兼容性測(cè)試是確保設(shè)備在這方面達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)
2024-01-05 08:02:43467 ? 電磁兼容性(EMC)是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境中能夠正常工作而不對(duì)周圍的其他設(shè)備或系統(tǒng)產(chǎn)生干擾,并且不被它們的干擾所影響。電磁兼容性測(cè)試是確保設(shè)備在這方面達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的一種手段。雷卯實(shí)驗(yàn)室有群脈沖測(cè)試
2024-01-23 16:50:26200 雙脈沖測(cè)試的基本原理是什么?雙脈沖測(cè)試可以獲得器件哪些真實(shí)參數(shù)? 雙脈沖測(cè)試是一種常用的測(cè)試方法,用于測(cè)量和評(píng)估各種器件的性能和特性。它基于一種簡(jiǎn)單而有效的原理,通過發(fā)送兩個(gè)脈沖信號(hào)并分析其響應(yīng)
2024-02-18 09:29:23234 雙脈沖測(cè)試(Double Pulse Test, DPT)是一種測(cè)試方法,常用于評(píng)估和分析電力系統(tǒng)、電子設(shè)備、組件以及半導(dǎo)體器件的電氣特性。這種測(cè)試通過施加兩個(gè)連續(xù)的電壓或電流脈沖到被測(cè)設(shè)備(DUT
2024-02-23 15:56:27303 上一篇我們分析了《I-NPC三電平電路的雙脈沖與短路測(cè)試方法》,對(duì)于T-NPC拓?fù)鋪碚f也是類似的,我們接著來看。1T-NPC三電平電路的換流方式與雙脈沖測(cè)試方法由于技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用的需要,T型三電平
2024-02-26 08:13:16135 對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)人士來說,不言而喻的事情有時(shí)可能會(huì)給經(jīng)驗(yàn)不足的人帶來誤解。作為測(cè)試設(shè)備制造商,我們意識(shí)到用戶對(duì)雙脈沖測(cè)試有不同的看法。
2024-03-11 14:39:0085 雙脈沖測(cè)試是電力變壓器和互感器的一種常見測(cè)試方法,其主要目的是評(píng)估設(shè)備的性能和準(zhǔn)確性,確保其符合設(shè)計(jì)要求和運(yùn)行標(biāo)準(zhǔn)。
2024-03-11 16:01:55277 雙脈沖測(cè)試系統(tǒng):該系統(tǒng)用于產(chǎn)生所需的雙脈沖信號(hào),以模擬實(shí)際工作中的開關(guān)動(dòng)作。它能夠精確地控制脈沖的寬度、幅度和頻率,以滿足測(cè)試需求。
2024-03-11 16:09:21340 雙脈沖測(cè)試是一個(gè)用于測(cè)試高壓設(shè)備的重要方法,而高壓差分探頭在雙脈沖測(cè)試中扮演著重要的角色。它能夠測(cè)量高壓系統(tǒng)中的電位差,并幫助人們?cè)\斷系統(tǒng)中的問題。不過,在高壓差分探頭的使用過程中,也會(huì)遇到一些問題
2024-03-19 09:55:0654
評(píng)論
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