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電子發(fā)燒友網(wǎng)>制造/封裝>深度解析GaN功率晶體管技術(shù)及可靠性

深度解析GaN功率晶體管技術(shù)及可靠性

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:SUN:DSJS.0.2010-02-005【正文快照】:1可靠性概述長期以來,國內(nèi)生產(chǎn)的駐極體電容傳聲器(簡稱傳聲器),一直使用由結(jié)型場效應(yīng)晶體管(JFET)和正向箝位二極D1組成的簡單組合件[1
2010-04-22 11:29:53

單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率/密度和可靠性分析

單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28

單片機應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點

可靠性設(shè)計技術(shù)和軟件系統(tǒng)的可靠性設(shè)計技術(shù)的解決方法??晒﹩纹瑱C應(yīng)用系統(tǒng)的開發(fā)人員借鑒與參考。單片機應(yīng)用系統(tǒng)的設(shè)計包括功能設(shè)計、可靠性設(shè)計和產(chǎn)品化設(shè)計。其中,功能是基礎(chǔ),可靠性是保障,產(chǎn)品化是前途。因此,從事單片機應(yīng)用系統(tǒng)開發(fā)工作的設(shè)計人員必須掌握可靠性設(shè)計。
2021-02-05 07:57:48

基本晶體管開關(guān)電路,使用晶體管開關(guān)的關(guān)鍵要點

)需要幾毫安才能上電,并且可以由邏輯門輸出驅(qū)動。然而,螺線管、燈和電機等大功率電子設(shè)備比邏輯門電源需要更多的電力。輸入晶體管開關(guān)?! ?b class="flag-6" style="color: red">晶體管開關(guān)操作和操作區(qū)域  圖 1 中圖表上的藍色陰影區(qū)域表示飽和
2023-02-20 16:35:09

增強型GaN功率晶體管設(shè)計過程風(fēng)險的解決辦法

氮化鎵(GaN)是最接近理想的半導(dǎo)體開關(guān)的器件,能夠以非常高的能效和高功率密度實現(xiàn)電源轉(zhuǎn)換。但GaN器件在某些方面不如舊的硅技術(shù)強固,因此需謹(jǐn)慎應(yīng)用,集成正確的門極驅(qū)動對于實現(xiàn)最佳性能和可靠性至關(guān)重要。本文著眼于這些問題,給出一個驅(qū)動器方案,解決設(shè)計過程的風(fēng)險。
2020-10-28 06:59:27

功率白光LED的應(yīng)用及其可靠性研究

。大功率白光LED作為半導(dǎo)體光源,相比傳統(tǒng)照明光源,有節(jié)能、壽命長、綠色環(huán)保、使用電壓低、開光時間短等特點。大功率白光LED技術(shù)迅速發(fā)展,有著極為廣闊的應(yīng)用前景,而器件的可靠性是實現(xiàn)其廣泛應(yīng)用的保證
2011-08-19 08:41:03

如何保證FPGA設(shè)計可靠性?

為了FPGA保證設(shè)計可靠性, 需要重點關(guān)注哪些方面?
2019-08-20 05:55:13

如何實現(xiàn)氮化鎵的可靠運行

幾個月前,我還沒發(fā)現(xiàn)這一點,因為我女兒問我GaN長什么樣子,我才意識到,在家中的節(jié)日彩燈中有數(shù)百個GaN?。耗鞘?b class="flag-6" style="color: red">GaN LED里使用的GaN。GaN可靠性是一個不錯的合作主題。即使GaN晶體管現(xiàn)在通過了
2022-11-16 06:43:23

如何實現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案

可靠性系統(tǒng)設(shè)計包括使用容錯設(shè)計方法和選擇適合的組件,以滿足預(yù)期環(huán)境條件并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。本文專門探討實現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案,這類電源提供冗余、電路保護和遠(yuǎn)程系統(tǒng)管理。本文將突出顯示,半導(dǎo)體技術(shù)的改進和新的安全功能怎樣簡化了設(shè)計,并提高了組件的可靠性。
2021-03-18 07:49:20

如何提高微波功率晶體管可靠性?

什么是微波功率晶體管?如何提高微波功率晶體管可靠性
2021-04-06 09:46:57

射頻功率晶體管究竟有多耐用?

目前制造的大功率射頻晶體管比以往任何時候都更堅實耐用。針對特高耐用設(shè)計的器件可以承受嚴(yán)重的失配,即使在滿輸出電平時也是如此。現(xiàn)在多家制造商可提供大功率硅橫向擴散金屬氧化物半導(dǎo)體(LDMOS)晶體管
2019-08-22 06:13:27

影響硬件可靠性的因素

一般來說,系統(tǒng)總是由多個子系統(tǒng)組成,而子系統(tǒng)又是由更小的子系統(tǒng)組成,直到細(xì)分到電阻器、電容器、電感、晶體管、集成電路、機械零件等小元件的復(fù)雜組合,其中任何一個元件發(fā)生故障都會成為系統(tǒng)出現(xiàn)故障的原因
2021-01-25 07:13:16

數(shù)字隔離器的安全可靠性解析

數(shù)字隔離器的安全可靠性
2021-01-21 07:27:02

概述晶體管

的IC。2. 按功率分類主要以最大額定值的集電極功率PC進行區(qū)分的方法。大體分為小信號晶體管功率晶體管,一般功率晶體管功率超過1W。ROHM的小信號晶體管可以說是業(yè)界第一的。小信號晶體管最大
2019-05-05 01:31:57

氮化鎵功率晶體管與Si SJMOS和SiC MOS晶體管對分分析哪個好?

效率和功率密度。GaN功率晶體管作為一種成熟的晶體管技術(shù)在市場上確立了自己的地位,但在軟開關(guān)應(yīng)用中通常不被考慮使用。雖然在硬開關(guān)應(yīng)用中使用GaN可以顯著提高效率,但軟開關(guān)轉(zhuǎn)換器(如LLC)對效率和頻率
2023-02-27 09:37:29

氮化鎵功率半導(dǎo)體技術(shù)解析

氮化鎵功率半導(dǎo)體技術(shù)解析基于GaN的高級模塊
2021-03-09 06:33:26

氮化鎵晶體管GaN的概述和優(yōu)勢

引起的拉應(yīng)力,限制垂直漏極 - 基板泄漏電流并防止導(dǎo)電Si襯底中的深度擊穿路徑,在兩者之間插入晶格緩沖層(圖2)。硅體和晶體管的有源頂側(cè)?! D2.格緩沖區(qū)  該緩沖器在確定晶體管的關(guān)鍵可靠性特性中起著
2023-02-27 15:53:50

氮化鎵晶體管電路的布局需要考慮哪些因素?

電壓過沖提高系統(tǒng)可靠性。討論了使用GaN晶體管時重要的布局寄生效應(yīng);即共源電感、高頻功率環(huán)路電感和柵極環(huán)路電感。
2023-02-24 15:15:04

用于大功率和頻率應(yīng)用的舍入 GaN晶體管

的高可靠性,EPC 公司已經(jīng)宣布了其新的 EPC7019 eGaN 抗輻射功率晶體管器件。EGaN 晶體管采用鈍化模具形式,圖像由 EPC 提供新產(chǎn)品利用 GaN 白光柵材料實現(xiàn)高電子遷移率和低溫系數(shù)。該
2022-06-15 11:43:25

電流旁路對GaN晶體管并聯(lián)配置的影響

將會導(dǎo)致高頻振蕩電壓。如果這些無法解決這些問題,將可能導(dǎo)致晶體管損壞?! ”M管傳統(tǒng)硅晶體管的并聯(lián)配置技術(shù)已經(jīng)十分成熟,但對于GaN器件并聯(lián)技術(shù)研究還鮮有涉及。考慮到GaN器件驅(qū)動的特殊以及其高速開關(guān)
2021-01-19 16:48:15

直接驅(qū)動GaN晶體管的優(yōu)點

受益于集成器件保護,直接驅(qū)動GaN器件可實現(xiàn)更高的開關(guān)電源效率和更佳的系統(tǒng)級可靠性。高電壓(600V)氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)的開關(guān)特性可實現(xiàn)提高開關(guān)模式電源效率和密度的新型
2020-10-27 06:43:42

英飛凌700瓦L波段射頻功率晶體管

所需的組件,降低系統(tǒng)成本,提高可靠性?! ∮w凌新型功率晶體管PTVA127002EV非常適用于空中交通管制應(yīng)用和氣象觀察應(yīng)用的L波段雷達系統(tǒng)。雷達系統(tǒng)在特定頻率范圍內(nèi)發(fā)射高能電子脈沖,然后檢測脈沖
2018-11-29 11:38:26

通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性分析

通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-2

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:05

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-3

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:30

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-5

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:21

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-6

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:46

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-8

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:12:40

#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價中的實驗力學(xué)方法-9

可靠性設(shè)計可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:13:05

飛思卡爾提供多款新型LDMOS和GaN功率晶體管

日前,射頻功率技術(shù)領(lǐng)先供應(yīng)商飛思卡爾宣布為其Airfast RF功率解決方案推出最新成員:包括三個LDMOS功率晶體管與一個氮化鎵(GaN晶體管,所有產(chǎn)品均超越地面移動市場要求。
2013-06-09 10:18:371842

確定GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法

  TI正在設(shè)計基于GaN原理的綜合質(zhì)量保證計劃和相關(guān)的應(yīng)用測試來提供可靠GaN解決方案。氮化鎵(GaN)的材料屬性可使電源開關(guān)具有令人興奮且具有突破性的全新特性—功率GaN。高電子遷移晶體管(HEMT)。
2016-04-25 14:16:152683

GaN Systems即將要推出1美元以下的GaN晶體管

GaN(氮化鎵)功率晶體管的全球領(lǐng)導(dǎo)者GaN Systems今天宣布,其低電流,大批量氮化鎵晶體管的價格已跌至1美元以下。
2021-03-13 11:38:46682

如何為應(yīng)用的實用性測試GaN可靠性

qualification recipe)即可。由于長期的業(yè)界經(jīng)驗和可靠性模型的驗證,人們現(xiàn)在可以接受將基于標(biāo)準(zhǔn)的測試用于硅材料的做法,不過也有例外的情況。功率金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管
2021-11-23 14:36:441419

如何驗證GaN可靠性

氮化鎵(GaN)場效應(yīng)晶體管(FET)正迅速獲得采用,因為它能夠提高效率并縮小電源供應(yīng)器尺寸。不過,在投資這個技術(shù)之前,您可能仍會問自己GaN是否可靠。但令我震驚的是,沒有人問硅(Si)是否可靠。其實仍然有新的硅產(chǎn)品持續(xù)上市,電源設(shè)計人員也同樣關(guān)注硅功率組件的可靠性。
2022-08-02 14:24:351307

功率GaN HEMT的可靠性設(shè)計

,達 2,000 cm2/V·s 的 1.3 倍電子遷移率,這意味著與 RDS(ON) 和擊穿電壓相同的硅基器件相比,GaN RF 高電子遷移率晶體管(HEMT)的尺寸要小得多。因此,GaN RF HEMT 的應(yīng)用超出了蜂窩基站和國防雷達范疇,在所有 RF 細(xì)分市場中獲得應(yīng)用。
2022-09-19 09:33:211670

GaN可靠性

鑒于氮化鎵 (GaN) 場效應(yīng)晶體管 (FET) 能夠提高效率并縮小電源尺寸,其采用率正在迅速提高。但在投資這項技術(shù)之前,您可能仍然會好奇GaN是否具有可靠性。令我驚訝的是,沒有人詢問硅是否具有可靠性。畢竟仍然有新的硅產(chǎn)品不斷問世,電源設(shè)計人員對硅功率器件的可靠性也很關(guān)心。
2022-09-20 08:48:00938

GaN功率器件應(yīng)用可靠性增長研究

GaN功率器件是雷達T/R組件或發(fā)射功放組件中的核心元器件,隨著器件的輸出功率功率密度越來越高,器件的長期可靠性成為瓶頸。文章對雷達脈沖工作條件下GaN功率器件的失效機理進行了分析和研究,指出
2023-03-03 14:04:051074

如何驗證 GaN可靠性

鑒于氮化鎵 (GaN) 場效應(yīng)晶體管 (FET) 能夠提高效率并縮小電源尺寸,其采用率正在迅速提高。但在投資這項技術(shù)之前,您可能仍然會好奇GaN是否具有可靠性
2023-07-13 15:34:27411

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