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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>測(cè)量新聞>NI使用ATE核心組件配置,幫助降低測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)和部署成本

NI使用ATE核心組件配置,幫助降低測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)和部署成本

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2011-08-02 11:46:13

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2015-03-10 08:51:22

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2019-05-14 09:40:17

MMIC技術(shù)——實(shí)現(xiàn)降低5G測(cè)試測(cè)量成本與復(fù)雜性的雙重突破

對(duì)于負(fù)責(zé)為5G無(wú)線系統(tǒng)量身打造下一代測(cè)試設(shè)備的測(cè)試和測(cè)量(T&M)供應(yīng)商而言,方法十分重要。與早期的3G和4G LTE部署相比,5G增加了架構(gòu)方面的復(fù)雜性,主要原因在于MIMO天線配置。面對(duì)
2018-07-04 10:20:48

SoC和在線測(cè)試的好處

,IC) ,它采用單一的平臺(tái),將整個(gè)電子或計(jì)算機(jī)系統(tǒng)集成在單個(gè)芯片上。SoC 有助于減少能源消耗、成本和大型系統(tǒng)占用的空間,從而降低能源消耗。它使制造大量便攜設(shè)備成為可能,可以攜帶到任何地方。SoCs 在
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[轉(zhuǎn)帖]《NI數(shù)據(jù)采集技術(shù)文摘》,幫助您實(shí)現(xiàn)DAQ技術(shù)的入門到精通!

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2014-09-19 23:01:02

【招聘】高級(jí)ATE測(cè)試開發(fā)工程師

對(duì)測(cè)試工具平臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和升級(jí);5. 開展技術(shù)創(chuàng)新,提升測(cè)試水平和測(cè)試效率,降低測(cè)試成本;6. 追蹤最新工具和技術(shù),以改善自動(dòng)化測(cè)試質(zhì)量和效率。崗位要求:1. 本科及以上學(xué)歷,儀器測(cè)控、自動(dòng)化控制
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2016-03-28 16:56:20

使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

的特性。美國(guó)國(guó)家儀器公司的即成可用硬件和功能強(qiáng)大的軟件工具,LabVIEW 和NI TestStand,幫助我們?cè)诓坏絻芍軆?nèi)為客戶搭建了測(cè)試系統(tǒng)。 系統(tǒng)簡(jiǎn)介 基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)包括一個(gè)NI
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使用虛擬儀器技術(shù)降低您的測(cè)量成本

%)。因此,節(jié)省搭建和配置的時(shí)間也可以大大降低總的應(yīng)用成本。因?yàn)榻Y(jié)合了現(xiàn)成即用的商業(yè)科技與智能的開發(fā)軟件,虛擬儀器再次為您減少在系統(tǒng)搭建和配置部分的成本投入。例如,NI 的許多數(shù)據(jù)采集設(shè)備都使用了
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2019-04-08 09:42:13

利用業(yè)界成本最低、功耗最低的FPGA降低系統(tǒng)成本需要面對(duì)哪些挑戰(zhàn)?

在全球競(jìng)爭(zhēng)和經(jīng)濟(jì)因素環(huán)境下,當(dāng)今高技術(shù)產(chǎn)品利潤(rùn)和銷售在不斷下滑,工程設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在向市場(chǎng)推出低成本產(chǎn)品方面承受了很大的壓力。新產(chǎn)品研發(fā)面臨兩種不同的系統(tǒng)挑戰(zhàn):利用最新的技術(shù)和功能開發(fā)全新的產(chǎn)品,或者采用
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加快MIMO測(cè)試速度和降低測(cè)試成本的方法

的性能,MIMO測(cè)試在進(jìn)行多信道測(cè)試時(shí)的要求更復(fù)雜、規(guī)范更嚴(yán)格、測(cè)試成本更高,所需要的測(cè)試時(shí)間也更長(zhǎng)。  本文提供一些MIMO功率測(cè)量的要點(diǎn)及建議,能夠降低測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間,以及提高測(cè)試精度
2019-06-03 06:44:36

半導(dǎo)體測(cè)試解決方案

作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么,有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12

基于NI LabVIEW和PXI實(shí)現(xiàn)創(chuàng)建實(shí)時(shí)多通道Modem測(cè)試臺(tái)

,如 非線性均衡和信號(hào)跟 蹤等,并且降低了采 樣速率,以簡(jiǎn)化運(yùn)行測(cè)試臺(tái)的計(jì)算要求。我們將系統(tǒng)升級(jí)到NI PXI- 8106 嵌入式控 制器,該控制器包含了 2.2GHz的 Intel雙核處理 器,并與
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  我們使用NI PXI和LabVIEW減小特征化系統(tǒng)的尺寸、成本和功率消耗,并縮短總特征化時(shí)間?! ∽髡?  Gary Shipley - TriQuint Semiconductor  行業(yè)
2019-07-24 06:08:50

基于NI TestStand和LabVIEW的模塊化測(cè)試軟件架構(gòu)

的解決方案,以應(yīng)對(duì)當(dāng)前市場(chǎng)中的挑戰(zhàn)。使用NI TestS測(cè)試管理軟件和LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言構(gòu)建的模塊化測(cè)試軟件架構(gòu)被證證明能夠優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)降低成本,其應(yīng)用領(lǐng)域中既有最新的智能手機(jī)、 3D電視,也有極其關(guān)鍵的下一代的國(guó)防系統(tǒng)和醫(yī)療設(shè)備。來(lái)源:C114中國(guó)通信網(wǎng)
2019-04-08 09:42:12

基于NI VeriStand的汽車ECU HIL測(cè)試

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2019-04-08 09:40:07

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NI推出最新高性能軟件和硬件組件,構(gòu)建完整的測(cè)試系統(tǒng) 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(NI)近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能軟件和硬件組件。該模擬和數(shù)字
2010-01-13 08:32:08675

實(shí)現(xiàn)從USB到嵌入式系統(tǒng)部署簡(jiǎn)述

USB到嵌入式系統(tǒng)部署與實(shí)現(xiàn) 概述 NI C 系列平臺(tái)包含超過(guò) 36 種測(cè)量模塊和7種用于不同部署方式的機(jī)箱。根據(jù)配置的尺寸與復(fù)雜度要求,可實(shí)現(xiàn)由簡(jiǎn)單的4通
2010-04-21 16:00:15720

6000ATE系統(tǒng)故障

6000 ATE系列電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)效率測(cè)到100%
2012-10-10 12:05:47927

NI將軟件設(shè)計(jì)的儀器用于電子測(cè)試

2013 年 9月 —— 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)- NIWeek - 近日發(fā)布了數(shù)款基于NI LabVIEW可重配置I/O(RIO)架構(gòu)的新產(chǎn)品,為用戶提供靈活性,幫助他們應(yīng)對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的挑戰(zhàn)并降低測(cè)試成本。
2013-09-11 09:54:00784

ADP2381穩(wěn)壓芯片的過(guò)壓保護(hù)ATE測(cè)試研究

本文首先介紹了芯片行業(yè)常用的測(cè)試方法和ATE( Automatic Test Equipment)測(cè)試的一般原理。根據(jù)ADP2381穩(wěn)壓芯片的系統(tǒng)構(gòu)架和特點(diǎn)給出了該芯片的主要測(cè)試指標(biāo)。結(jié)合ATE測(cè)試
2016-01-04 15:10:4929

NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望回顧了智能設(shè)備時(shí)代所需的測(cè)試方法

作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)今日發(fā)布了《2017 NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)
2017-02-13 13:58:43814

NI升級(jí)版無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)一步降低了無(wú)線設(shè)備生產(chǎn)測(cè)試成本

新聞發(fā)布– 2017年5月11日–NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,今日宣布推出升級(jí)版無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)(WTS),這是NI針對(duì)多站點(diǎn)無(wú)線設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試推出的一個(gè)解決方案。
2017-05-12 14:39:031387

基于labview_ni自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

1.以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)架構(gòu), 2.降低設(shè)備成本以及系統(tǒng)尺寸, 3.快速的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā), 4.以更高的靈活性更快地執(zhí)行測(cè)試, 5.提高系統(tǒng)壽命和成功機(jī)會(huì)。
2017-08-30 08:25:388

NI虛擬儀器技術(shù)降低測(cè)量應(yīng)用成本的方案分析

自成立26年多以來(lái),NI一直都致力于通過(guò)虛擬儀器技術(shù)不斷降低您測(cè)量應(yīng)用開發(fā)的總成本。為了降低測(cè)量應(yīng)用開發(fā)的各個(gè)階段的成本,虛擬儀器將開發(fā)軟件和最新的硬件技術(shù)相結(jié)合,在PC的高性能和靈活性之間找到了最佳的平衡點(diǎn)。
2017-09-05 15:38:081

基于ATE的DSP測(cè)試方法

基于ATE的DSP測(cè)試方法
2017-10-20 08:31:5527

虛擬儀器技術(shù)降低測(cè)量成本的方法介紹

問(wèn)題。首先是測(cè)量應(yīng)用開發(fā)過(guò)程中涉及的五種成本(請(qǐng)看下面表 1 中的成本欄)。您將會(huì)了解到虛擬儀器技術(shù)是如何幫助降低每一種費(fèi)用,從而降低了總體測(cè)量成本的。 測(cè)量應(yīng)用的成本 考慮一下在您最近的測(cè)量系統(tǒng)上所花費(fèi)的時(shí)間。您可能在配置硬件和開發(fā)應(yīng)用程序代碼上已花
2017-11-15 14:48:0013

NI VeriStand環(huán)境中進(jìn)行FPGA相關(guān)配置

VeriStand是一個(gè)基于配置的實(shí)時(shí)測(cè)試軟件,它擁有與labVIEW類似的前面板,但無(wú)需任何編程工作。用戶可以使用labVIEW、matlab等其他軟件生成的模型文件導(dǎo)入VeriStand,方便快捷的實(shí)現(xiàn)硬件在環(huán)等實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用。 在VeriStand系統(tǒng)瀏覽器中,可以對(duì)NI的硬件設(shè)備實(shí)現(xiàn)參數(shù)配置。
2017-11-18 06:36:484322

NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)

了NIPXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電(MEMS)系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來(lái)。 傳統(tǒng)ATE測(cè)試覆蓋率通常無(wú)法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過(guò)將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測(cè)試
2018-01-20 03:32:11290

使用NI VeriStand 在Windows操作系統(tǒng)配置部署自定義設(shè)備問(wèn)題詳解

本文講述了使用NI VeriStand 在Windows操作系統(tǒng)配置部署自定義設(shè)備時(shí)的常見問(wèn)題,包括VISA驅(qū)動(dòng)、DAQ驅(qū)動(dòng)缺少導(dǎo)致的問(wèn)題。
2018-01-22 16:34:2292

ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是什么_ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)介紹

本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路,其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì),最后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。
2018-05-23 16:47:4031654

馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),推進(jìn)汽車的電氣化,并且降低了90%的測(cè)試成本

馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),推進(jìn)汽車的電氣化,并且降低了90%的測(cè)試成本
2018-10-11 19:37:314050

NI發(fā)布LabVIEW NXG新特性和功能

的平臺(tái)供應(yīng)商,致力于幫助用戶加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)和性能,該公司今日宣布推出LabVIEW NXG最新版本,這充分證明了NI對(duì)其下一代LabVIEW工程系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件的持續(xù)投資。 最新版本的LabVIEW NXG簡(jiǎn)化了自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量應(yīng)用中一些最耗時(shí)的任務(wù),如設(shè)置和配置系統(tǒng)、編寫測(cè)試和測(cè)量代碼以及開
2018-12-03 07:42:01502

揭秘NI汽車測(cè)試解決方案的核心競(jìng)爭(zhēng)力

也許你聽過(guò)斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái),將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下,系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大,NI幫助很多廠商降低測(cè)試成本
2019-01-30 16:04:583644

NI汽車測(cè)試解決方案的核心競(jìng)爭(zhēng)力分析

也許你聽過(guò)斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái),將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下,系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大,NI幫助很多廠商降低測(cè)試成本。今天小編就為大家揭秘NI汽車測(cè)試解決方案的核心競(jìng)爭(zhēng)力。
2019-02-18 15:57:243981

NI全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng),讓功能更加可靠

NI是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商,致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)。
2019-11-20 16:56:174077

NI推出了全新的4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)

NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商,致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)。
2019-11-21 11:46:452975

ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)來(lái)成都虹威

1、ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開關(guān)電源的PCBA連板的特性測(cè)試,量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目,測(cè)試效能佳,符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求
2020-05-15 10:25:031098

聞庫(kù):推動(dòng)5G行業(yè)網(wǎng)絡(luò)部署,需降低部署成本促進(jìn)應(yīng)用落地

專網(wǎng)研究和試點(diǎn),打通標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)、應(yīng)用、部署等關(guān)鍵環(huán)節(jié),形成具有指導(dǎo)性意義的5G網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)、網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)及運(yùn)維指標(biāo)體系等,降低行業(yè)5G網(wǎng)絡(luò)部署成本,促進(jìn)應(yīng)用落地。
2020-06-09 11:25:512646

ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)所需的儀器

ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)所需的儀器,機(jī)械,安全和電源基礎(chǔ)架構(gòu)
2020-07-27 16:13:03842

利用NI FlexRIO FPGA模塊和適配器模塊提升自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的性能

Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用,強(qiáng)大的FPGA功能大大提高了測(cè)試吞吐量,使新的測(cè)試成為可能,從而增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí),現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺(tái)以及LabVIEW為FPGA編程帶來(lái)的簡(jiǎn)化,也大大降低系統(tǒng)開發(fā)難度和成本。
2020-08-18 09:35:393370

季豐電子成功完成首套NI STS FT測(cè)試專板

專板(Loadboard),季豐電子保持一貫的作風(fēng):一次設(shè)計(jì)生產(chǎn)成功,滿足客戶測(cè)試指標(biāo)要求并準(zhǔn)時(shí)交貨。其他客戶的STS專板也正在設(shè)計(jì)中,將于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量產(chǎn)環(huán)境的ATE,具有高吞吐量、低成本等優(yōu)勢(shì),適用于RF、混合信號(hào)和MEMS半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試。STS可直
2020-12-15 17:29:231659

AN-0972:AD7329如何幫助降低成本

AN-0972:AD7329如何幫助降低成本
2021-04-25 09:17:044

基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述

基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44115

基于NI USB 6251的128路應(yīng)變測(cè)試系統(tǒng)

基于NI USB 6251的128路應(yīng)變測(cè)試系統(tǒng)
2021-10-08 15:09:1416

ate系統(tǒng)是什么,ate自動(dòng)電源測(cè)試系統(tǒng)的介紹

源儀電子ATE測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)適配器/手機(jī)充電器等小功率低價(jià)值電源產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試而設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),主要由電子負(fù)載,功率表和一臺(tái)變頻電源組成,實(shí)現(xiàn)過(guò)流、短路、功率等多機(jī)并行測(cè)試,平均單機(jī)測(cè)試時(shí)間3~5秒,最大滿足產(chǎn)能需求。
2022-05-13 16:51:222926

ATE電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的適用行業(yè)范圍

不同ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用的場(chǎng)合是不同,用戶在選擇的時(shí)候根據(jù)自己的工作需求進(jìn)行選擇。 ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用靈活的硬件框架結(jié)構(gòu),可以根據(jù)客戶的產(chǎn)品測(cè)試要求增加硬件配置,還有一些檢測(cè)功能,客戶可以根據(jù)工作需求進(jìn)行選擇,這樣方便客戶設(shè)備的成本控制
2022-06-27 15:55:361092

使用校準(zhǔn)降低衛(wèi)星設(shè)計(jì)和測(cè)試成本

測(cè)試是任何衛(wèi)星計(jì)劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測(cè)試成本。取消測(cè)試似乎很誘人,但設(shè)備故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測(cè)試成本,并以多種方式縮短程序進(jìn)度。例如,衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:07532

ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)測(cè)試流程

單插入測(cè)試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試,從而降低測(cè)試成本,簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2022-11-30 09:39:21530

納米軟件分享:光伏逆變器ATE測(cè)試系統(tǒng),逆變器測(cè)試解決方案

光伏并網(wǎng)逆變器(以下簡(jiǎn)稱“逆變器”)是光伏發(fā)電系統(tǒng)核心部件之一,其主要功能是將光伏陣列的直流逆變?yōu)榉想娋W(wǎng)接入要求的交流電并入電網(wǎng)。并網(wǎng)逆變器ATE測(cè)試平臺(tái),主要是模擬光伏陣列特性輸入的直流電源
2023-01-13 10:09:091208

使用新型MEMS開關(guān)加快測(cè)試能力并提高系統(tǒng)產(chǎn)出

單插入測(cè)試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試,從而降低測(cè)試成本,簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2023-06-14 15:04:51328

虹科電源測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本

虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試,而無(wú)需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:23319

電源ATE測(cè)試助力提高短路保護(hù)測(cè)試效率,提供軟硬件解決方案

電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率,而且還提供智能數(shù)據(jù)分析,幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度,也為企業(yè)降低測(cè)試成本。
2023-09-11 18:21:19368

ate測(cè)試系統(tǒng)是什么?為什么要選擇ate電源測(cè)試系統(tǒng)?

ate測(cè)試系統(tǒng)是什么?為什么要選擇ate電源測(cè)試系統(tǒng)? ATE測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment)的縮寫。它是一種用于對(duì)電子、電氣和機(jī)械產(chǎn)品進(jìn)行功能和性能測(cè)試
2023-11-07 10:01:41734

ate測(cè)試系統(tǒng)一般由哪些電源測(cè)試設(shè)備組成?

ate測(cè)試系統(tǒng)一般由哪些電源測(cè)試設(shè)備組成? ATE(Automated Test Equipment)測(cè)試系統(tǒng)一般由以下幾種電源測(cè)試設(shè)備組成: 1. 直流電源(DC Power Supply
2023-11-07 10:01:43538

如何顯著提高ATE電源吞吐量?

作為一名測(cè)試工程師,你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中,我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
2023-11-08 14:59:51370

ATE測(cè)試中,需要注意哪些事項(xiàng)呢?

ATE測(cè)試中,需要注意哪些事項(xiàng)呢? ATE(Automated Test Equipment,自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備)測(cè)試在現(xiàn)代電子制造業(yè)中扮演著重要的角色。它能夠快速、高效地對(duì)電子器件、模塊或系統(tǒng)進(jìn)行
2023-11-09 15:30:41278

什么是開關(guān)電源效率?開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ate如何測(cè)試

什么是開關(guān)電源效率?開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ate如何測(cè)試? 開關(guān)電源效率是指開關(guān)電源將輸入電能轉(zhuǎn)換為輸出電能的能力,通常以百分比的形式表示。效率越高,說(shuō)明開關(guān)電源的能量轉(zhuǎn)換效率越高,能夠更有
2023-11-10 15:29:15750

納米軟件帶你了解ate測(cè)試ate自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

ATE測(cè)試需要根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和項(xiàng)目設(shè)計(jì)測(cè)試程序,并且準(zhǔn)備測(cè)試用到的測(cè)試儀器,比如示波器、萬(wàn)用表、頻譜分析儀等,連接測(cè)試儀器和待測(cè)品,通過(guò)ate測(cè)試設(shè)備控制并進(jìn)行測(cè)試,并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析,生成數(shù)據(jù)報(bào)告。
2023-11-24 14:51:28323

ATE測(cè)試機(jī)是什么

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 17:30:33771

ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備怎么測(cè)試逆變器輸出電壓?

納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備,軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中,方便測(cè)試ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu),無(wú)代碼開發(fā),對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求,可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù),并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:30190

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