電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情，比如某個半導(dǎo)體器件外表完好但實際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:31
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失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機理，失效概率及失效的影響等，為確定產(chǎn)品的改進措施進行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作，是可靠性設(shè)計的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:233510 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:0012633 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。 1、電阻器的主要失效模式與失效機理為 1) 開路：主要失效機理為電阻膜燒毀或大面積脫落，基體斷裂，引線
2018-01-16 08:47:1129569 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051332 
你是否長時間糾纏于線路板的失效分析？你是否花費大量精力在樣板調(diào)試過程中？你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計？也許許多硬件工程師都有過類似的心理對話。有數(shù)據(jù)顯示，78%的硬件失效原因是由于不良的焊接
2012-12-17 12:31:00
你是否長時間糾纏于線路板的失效分析？你是否花費大量精力在樣板調(diào)試過程中？你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計？
2021-04-21 06:01:05
失效的分類 2.1 按功能分類 由失效的定義可知,失效的判據(jù)是看規(guī)定的功能是否喪失。因此,失效的分類可以按功能進行分類。例如,按不同材料的規(guī)定功能可以用各種材料缺陷(包括成分、性能、組織、表面
2011-11-29 16:46:42
的研究，即對釀成失效的必然性和規(guī)律性的研究。例如在功率器件的EAS失效中，就可能存在著過電壓導(dǎo)致寄生三極管開啟，導(dǎo)致器件失效。也可能存在著電路板系統(tǒng)溫度過高，致使器件寄生三極管開啟電壓下降，隨即導(dǎo)致寄生
2020-08-07 15:34:07
③步是針對失效模式展開分析，根據(jù)失效根因故障樹來逐一排查根因，倘若在已有的故障樹中還無法確認(rèn)原因，則需要通過專題立項等方式研究這類失效問題，并將研究結(jié)論加入到原有故障樹中，使故障樹不斷豐富完善，窮盡根因
2020-03-10 10:42:44
內(nèi)容包含失效分析方法，失效分析步驟，失效分析案例，失效分析實驗室
2020-04-02 15:08:20
`一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)
2016-05-04 15:39:25
`硬件失效原因之：PCB焊接 有數(shù)據(jù)顯示，78%的硬件失效原因是由于不良的PCB焊接加工造成的。 遇到硬件失效的情況，工程師愿意花費大量時間和精力在樣板調(diào)試和分析中，耽誤了項目進度。如果找不出不良
2012-11-21 15:41:50
丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題，嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此，有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對失效的IC卡進行分析，深入研究其失效模式及失效機理，探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
分析對象的背景，確認(rèn)失效現(xiàn)象，接著制定LED失效分析方案，研究LED失效原因與機理，最后提出后續(xù)預(yù)防與改進措施。 金鑒實驗室綜合數(shù)千個失效分析案例，將LED芯片失效原因歸納為以下幾類： 1.封裝
2020-10-22 09:40:09
分析對象的背景，確認(rèn)失效現(xiàn)象，接著制定LED失效分析方案，研究LED失效原因與機理，最后提出后續(xù)預(yù)防與改進措施。 金鑒實驗室綜合數(shù)千個失效分析案例，將LED芯片失效原因歸納為以下幾類： 1.封裝
2020-10-22 15:06:06
MOSFET的失效機理至此，我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET，首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對最大
2022-07-26 18:06:41
)的變化關(guān)系，可
研究分析材料的物理化學(xué)及熱力學(xué)性能。在PCB的分析方面，主要用于測量PCB材料的熱穩(wěn)定性或熱分解溫度，如果基材的熱分解溫度太低，PCB在經(jīng)過焊接過程的高溫時將會發(fā)生爆板或分層
失效現(xiàn)象?！ ?/div>
2018-09-20 10:55:57
、濕度和電壓。 目前，研究的最為深入和廣泛的是溫度對LED封裝可靠性的影響。溫度使LED模塊及系統(tǒng)失效的原因在于以下幾個方面：（1）高溫會使封裝材料降解加快、性能下降；（2）結(jié)溫對LED的性能會產(chǎn)生很大
2018-02-05 11:51:41
熱擊失效模式扭曲破裂失效
2021-03-03 06:23:05
電子元器件的可靠性是電子裝備可靠性的基礎(chǔ)，通過電子元器件的失效分析確定其失效機理，找出失效原因，反饋給客戶，研究糾正措施，提出改進設(shè)計和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件和整機的可靠性
2017-06-01 10:42:29
關(guān)于78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致看完你就懂了
2021-04-23 06:38:07
科技名詞定義中文名稱：失效分析 英文名稱：failure analysis 其他名稱：損壞分析 定義：對運行中喪失原有功能的金屬構(gòu)件或設(shè)備進行損壞原因分析研究的技術(shù)。 所屬學(xué)科：簡介 失效分析
2011-11-29 16:39:42
本帖最后由 24不可說 于 2016-10-26 17:31 編輯
社會的發(fā)展就是一個發(fā)現(xiàn)問題解決問題的過程，出現(xiàn)問題不可怕，但頻繁出現(xiàn)同一類問題是非常可怕的。失效分析基本概念定義：對失效電子
2016-10-26 16:26:27
有沒有大神做過單片機或ARM的加速壽命試驗研究的?請教一下它們的失效激活能E大概是多少eV？
2015-01-06 12:59:59
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場景方面具有專業(yè)的檢測、分析和試驗?zāi)芰Γ蔀楦?b class="flag-6" style="color: red">研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測、失效分析、老化測試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
為了進行大功率白光ＬＥＤ可靠性研究，對大功率白光ＬＥＤ進行電流庇力加速壽命試驗，分析研究光通量、發(fā)光效率、峰值波長、主波長和電壓等參數(shù)隨老化時問的變化情況，通過對試驗出現(xiàn)的結(jié)果和失效現(xiàn)象進行分析比較，表明衰變退化的主要原因是熒光粉的退化、封裝材料的熱退化，以及散熱問題導(dǎo)致的退化等。
2012-12-12 16:05:02
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:04 編輯
指紋識別算法的研究及基于FPGA的硬件實現(xiàn)
2012-05-23 20:14:46
有沒有智能電表方面的高手?。课蚁胝埥滔?，智能電表中的電子元器件一般會出現(xiàn)一些什么樣的失效現(xiàn)象？失效原因一般是什么？非常感謝。
2013-03-08 10:11:21
有哪些因素可造成焊接連接失效呢？焊接失效分為哪幾種類型？焊接球失效的電信號表現(xiàn)有哪些？
2021-04-28 07:28:05
焊接知識 78%的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致你是否長時間糾纏于線路板的失效分析？你是否花費大量精力在樣板調(diào)試過程中？你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計？也許許多硬件工程師都有過類似的心理對話。有數(shù)
2012-09-08 10:03:26
﹐通過分析確定失效機理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計﹑制造和使用者﹐共同研究實施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
電子元器件由靜電放電引發(fā)的失效可分為突發(fā)性失效和潛在性失效兩種模式。 突發(fā)性失效是指元器件受到靜電放電損傷后，突然完全喪失其規(guī)定的功能，主要表現(xiàn)為開路、短路或參數(shù)嚴(yán)重漂移，具體模式如：雙極型器件
2013-03-25 12:55:30
`電容器的常見失效模式和失效機理【上】電容器的常見失效模式有――擊穿短路；致命失效――開路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:10 編輯
電容器的常見失效模式有：――擊穿短路；致命失效――開路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降
2011-12-03 21:29:22
關(guān)系，可研究分析材料的物理化學(xué)及熱力學(xué)性能。在PCB的分析方面，主要用于測量PCB材料的熱穩(wěn)定性或熱分解溫度，如果基材的熱分解溫度太低，PCB在經(jīng)過焊接過程的高溫時將會發(fā)生爆板或分層失效現(xiàn)象。
2018-09-20 10:59:15
簡單介紹了目前汽車氧傳感器的研究現(xiàn)狀和發(fā)展方向,重點闡述了濃差型氧傳感器電極的失效原因及預(yù)防方法。關(guān)鍵詞: 氧傳感器; 氧化鋯; 電極失效Abstract : The present automobile oxyg
2009-07-06 10:07:52
29 在工業(yè)控制領(lǐng)域，程序的失效恢復(fù)問題是一重要而棘手的問題，一般采用方法是在程序正常運行必然要經(jīng)過的地方安插WatchDog 復(fù)位指令，當(dāng)遇到程序死鎖、跑飛等程序失效問題時，
2009-09-01 09:26:3829 基于流量的攻擊可能對復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)造成嚴(yán)重破壞，現(xiàn)有研究主要針對節(jié)點攻擊。該文分析了部分邊失效時，復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的脆弱特性。此外，分析了時機策略和網(wǎng)絡(luò)規(guī)模對邊失效的影響。
2010-02-10 12:12:358
針對節(jié)點失效引起無線傳感器網(wǎng)絡(luò)監(jiān)測性能下降的問題，該文以節(jié)點隨機均勻部署的網(wǎng)絡(luò)為研究對象，從節(jié)點失效的角度提出了評價網(wǎng)絡(luò)覆蓋與連通兩個基本監(jiān)測性能的量化指
2010-02-10 14:59:1933 基于SIS系統(tǒng)的硬件評估方案
首先介紹了安全儀表系統(tǒng)在實際應(yīng)用中的需求以及安全儀表系統(tǒng)的硬件失效概率評估的必要性。然后，在研究了硬件失效概率的評估
2010-04-01 10:59:0717 摘要:IC智能卡使用過程中出現(xiàn)的密碼校驗失效、數(shù)據(jù)丟失、應(yīng)用區(qū)不能讀寫等一系列失效和可靠性問題,嚴(yán)重影響了其在社會生活各領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引
2010-11-12 21:10:3834 鈦液泵軸封的失效原因及改進設(shè)計
論文摘要：在對鈦液泵原有軸封的失效原因進行分析和實驗研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:09:43574 
鈦液泵軸封的失效原因及改進設(shè)計
論文摘要：在對鈦液泵原有軸封的失效原因進行分析和實驗研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:11:111121 
MH-Ni電池失效研究
通過解剖早期失效及壽命終止的電池，研究了鎳電極膨脹對它的作用與影響。通過SEM、XRD等分析手段研究表明，鎳電極本身也因膨脹造
2009-11-05 16:18:37562 節(jié)能燈功率管失效原理研究
1引言
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源，在全世界得到了廣泛的應(yīng)用，國內(nèi)節(jié)能燈的生產(chǎn)更是一枝獨秀。作為節(jié)能燈
2010-03-08 10:06:05632 介紹產(chǎn)生實效分析程序的專題研究過程，以求建立具有針對性的失效分析工作程序。
2011-02-21 16:02:00292 首先介紹了 安全儀表 系統(tǒng)在實際應(yīng)用匯總的需求以及安全儀表系統(tǒng)的硬件失效概率評估的必要性，然后研究了硬件失效概率的評估方法。
2011-06-17 11:16:0119 本文主要分析了射頻電纜組件的電性能參數(shù)及其失效模式, 并對其設(shè)計和改進進行研究, 對如何提高電纜組件的可靠性也進行了較詳細(xì)的探討。
2011-12-29 16:41:3125 有數(shù)據(jù)顯示，78% 的硬件失效是由于焊接問題導(dǎo)致，該文章主要分析主要由于焊接問題所導(dǎo)致的硬件失效及分析方法！
2012-03-06 23:50:081257 判斷失效的模式, 查找失效原因和機理, 提出預(yù)防再失效的對策的技術(shù)活動和管理活動稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機理研究，IGBT原理，PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 基于HFCT局放測試技術(shù)的高壓電纜終端失效檢測方法研究_韓宇澤
2016-12-31 14:45:091 基于演化硬件的多目標(biāo)進化算法的研究
2017-01-08 14:47:530 大功率白光LED的可靠性研究及失效機理分析
2017-02-07 21:04:011 IT硬件能耗測試方法應(yīng)用研究_黃植勤
2017-03-19 11:27:342 元器件長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-19 08:37:3432 MCU和DSP的運動控制研究硬件平臺設(shè)計
2017-10-19 13:20:096 已有研究表明，鍵合線老化脫落失效是影響絕緣柵雙極型晶體管（ IGBT）可靠性的主要因素之一。以此為研究背景，首先根據(jù)IGBT模塊內(nèi)部鍵合線的結(jié)構(gòu)布局與物理特性，分析鍵合線等效電阻與關(guān)斷暫態(tài)波形的關(guān)系
2018-01-02 11:18:145 對電子元器件的失效分析技術(shù)進行研究并加以總結(jié)。方法 通過對電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機理等故障現(xiàn)象進行分析。
2018-01-30 11:33:4110912 電容器的常見失效模式有：――擊穿短路；致命失效――開路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效――漏液；部分功能失效――引線腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子破裂；致命失效――絕緣子表面飛弧；
2018-03-15 11:00:1026173 
本文通過大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法，針對不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機理進行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:456951 
隨著微機電系統(tǒng) (MEMS) 在信息通信、航空航天、醫(yī)療生物、國防安全等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，與其性能和壽命相關(guān)的失效研究顯得越來越重要。
2018-05-22 15:46:344872 
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情，比如某個半導(dǎo)體器件外表完好但實際上已經(jīng)半失效
2018-06-07 15:18:137239 LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠，失效模式有將近三十種，如表1，LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么， LED失效的模式和物理機制也分為芯片失效和封裝失效兩種來進行討論。
2018-07-12 14:34:007820 電子器件是一個非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。
2018-07-05 15:17:543836 
1：雪崩失效(電壓失效)，也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超越MOSFET的額定電壓，并且超越到達了一定的才能從而招致MOSFET失效。 2：SOA失效(電流失效)，既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37231 LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。
2020-03-22 23:13:001910 
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情，比如某個半導(dǎo)體器件外表完好但實際上已經(jīng)半失效
2020-06-29 11:15:216642 再說維護問題吧，電池的失效分正常失效(電池壽命終結(jié))和非正常因素失效。正常失效就購買新電池更換！ 電瓶修復(fù)， 非正常因素失效都是電池使用不當(dāng)造成的，比如充電、放電、保存等，對用戶而言有可控和不可
2020-09-08 15:35:501998 注1在分析中可以省略沒有顯著增加違反安全目標(biāo)概率的失效元素，其失效模式可歸類為安全失效，例如。硬件元件，其失效只導(dǎo)致多點失效的順序n，與n>2，被認(rèn)為是安全失效，除非顯示與技術(shù)安全概念相關(guān)。
2020-08-25 15:35:552885 
你是否長時間糾纏于線路板的失效分析？你是否花費大量精力在樣板調(diào)試過程中？你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計？也許許多硬件工程師都有過類似的心理對話。有數(shù)據(jù)顯示，78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和錯誤的物料貼片造成的。
2020-10-17 11:00:232124 ? 簡介：電子器件是一個非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。 1. 封裝缺陷與失效
2021-01-12 11:36:083657 
電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供封裝缺陷與失效的研究方法論資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-29 16:47:0111 電容器的常見失效模式有： ――擊穿短路；致命失效 ――開路；致命失效 ――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效 ――漏液；部分功能失效 ――引線腐蝕
2021-12-11 10:13:532688 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:0618 電子器件是一個非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。
2022-02-10 11:09:3713 摘要：常用電路保護器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會將保護的電子設(shè)備損壞．這是 TvS 生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:014603 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 PCB失效的機理，必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是，首先必須基于失效現(xiàn)象，通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查，確定失效部位與失效模式，即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691 失去原有的效力。在各種工程中，部件失去原有設(shè)計所規(guī)定的功能稱為失效。失效簡單地說就是“壞了”，但是“壞了”也有很多種情況。
2022-11-30 10:47:53268 MOSFET的失效機理本文的關(guān)鍵要點?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB，使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829 
、線路短路等，但最終的失效都可歸結(jié)為電擊穿和熱擊穿兩種，其中電擊穿失效的本質(zhì)也是溫度過高的熱擊穿失效。目前對IGBT芯片失效的研究主要集中在對引起失效的各種外部因素，如過電壓、過電流、過溫等進行分析上，
2023-02-22 15:05:4319 失效率是可靠性最重要的評價標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041119 
失效包括硬件失效和軟件失效。硬件失效是由于電路板需要長時間運行而導(dǎo)致的，而軟件失效是由于軟件設(shè)計的缺陷或者系統(tǒng)運行的安裝過程中的問題引起的。 硬件失效是由于多種原因引起的。這些原因包括質(zhì)量問題、環(huán)境變化、基礎(chǔ)材料
2023-08-29 16:29:112805 ，極易出現(xiàn)失效問題。因此，深入研究SBD失效機理，對于促進SBD的性能和壽命提高，具有重要的意義。 SBD失效機理可以從電學(xué)和物理兩個方面討論。首先，SBD失效機理包括電學(xué)性失效和物理性失效。 電學(xué)性失效： 1.反向擊穿失效 SBD在反向電場下受到電子滲出現(xiàn)象（即逆向電子穿透
2023-08-29 16:35:08971 IC。然而，IC在使用過程中也可能出現(xiàn)失效的情況，從而影響到整個設(shè)備的使用效果。因此，對IC失效分析的研究變得越來越重要。 IC失效的原因有很多，例如因為工藝過程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷，或者長時間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因，在
2023-08-29 16:35:13628 晶振失效了？怎么解決？
2023-12-05 17:22:26230 
保護器件過電應(yīng)力失效機理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45267 
▼關(guān)注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04531 
ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD（電靜電放電）失效和EOS（電壓過沖）失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題，但其具體產(chǎn)生的原因、影響、預(yù)防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023071 常見的齒輪失效有哪些形式？失效的原因是什么？可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生？ 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式，它能夠?qū)恿囊粋€軸傳遞到另一個軸上。然而，在長時間使用過程中，齒輪也會出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151057 
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