6月28日消息,作為先進半導體器件的晶圓清洗技術領域中領先的設備供應商,盛美半導體設備(NASDAQ:ACMR)近日發(fā)布了Ultra C VI單晶圓清洗設備,這是Ultra C清洗系列的最新產(chǎn)品。Ultra C VI旨在對動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)和3D NAND閃存晶圓進行高產(chǎn)能清洗,以實現(xiàn)縮短存儲產(chǎn)品的生產(chǎn)周期。這款新產(chǎn)品以盛美成熟的多腔體技術為基礎,進一步擴展了清洗設備產(chǎn)品線。Ultra C VI系統(tǒng)配備了18個單片清洗腔體,對比盛美現(xiàn)有的12腔設備Ultra C V系統(tǒng),其腔體數(shù)及產(chǎn)能增加了50%,而其設備寬度不變只是在長度有少量增加。
“存儲產(chǎn)品的復雜度不斷提高,但仍然對產(chǎn)量有嚴格的要求?!笔⒚蓝麻L王暉博士表示:“當清洗工藝的時間逐漸加長或開始采用更復雜的干燥技術時,增加清洗腔體能有效解決產(chǎn)能問題,讓先進存儲裝置制造商保持甚至縮短產(chǎn)品的生產(chǎn)周期。我們的18腔清洗設備將是解決這類問題的利器。Ultra C VI平衡了腔體數(shù)量配置,在實現(xiàn)高產(chǎn)能(wafer-per-hour)的同時,兼顧了與工廠自動化能力的匹配,同時也能避免因腔體數(shù)量過多而面臨的設備宕機壓力?!?/p>
Ultra C VI
Ultra C VI可進行低至1y節(jié)點及以下節(jié)點的先進DRAM產(chǎn)品和128層及以上層數(shù)的先進3D NAND產(chǎn)品的單晶圓清洗。該設備可根據(jù)應用和涉及的化學方法運用于各種前道和后道工藝,如聚合物去除、中段鎢或后段銅工藝的清洗、沉積前清洗、蝕刻后和化學機械拋光(CMP)后清洗、深溝道清洗和RCA標準清洗。
清洗過程中可使用多種化學組合,包括標準清洗(SC1,SC2)、氫氟酸(HF)、臭氧去離子水(DI-O3)、稀硫酸雙氧水混合液(DSP,DSP +)、有機溶劑或其他工藝化學品等。最多可對其中兩種化學品進行回收,節(jié)約成本。該設備還可以采用可選的物理輔助清洗方法,例如二流體氮氣霧化水清洗或者盛美專有的空間交變相位移(SAPS)和時序能激氣穴震蕩(TEBO)兆聲清洗技術??蛇x配異丙醇(IPA)干燥功能,應用于具有高深寬比的圖形片。此外,由于該設備與盛美現(xiàn)有設備的寬度一致,因此有助于提高晶圓廠的空間利用率,并進一步降低成本。
盛美計劃在2020年第三季度初期交付Ultra C VI給一家領先的存儲制造廠進行評估和驗證。
責任編輯:gt
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