0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

MOS管失效的5大原因及解決措施

454398 ? 來源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū) ? 作者:羅姆半導(dǎo)體社區(qū) ? 2022-12-20 13:09 ? 次閱讀

來源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū)

MOS管全稱金屬—氧化物—半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管或稱金屬—絕緣體—半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管,英文名metal oxide semiconductor,屬于場效應(yīng)管中的絕緣柵型,因此,MOS管有時候又稱為絕緣柵場效應(yīng)管。確切的說,這個名字描述了集成電路中MOS管的結(jié)構(gòu),即:在一定結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件上,加上二氧化硅和金屬,形成柵極。

目前在市場應(yīng)用方面,排名第一的是消費類電子電源適配器產(chǎn)品。排名第二的是計算機主板、NB、計算機類適配器、LCD顯示器等產(chǎn)品。第三的就屬網(wǎng)絡(luò)通信、工業(yè)控制汽車電子以及電力設(shè)備領(lǐng)域。這些產(chǎn)品對于MOS管的需求都很大。下面是關(guān)于MOS管失效的五大原因。

雪崩失效(電壓失效)

雪崩失效也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超過MOSFET的額定電壓,并且超過達到了一定的能力從而導(dǎo)致MOSFET失效。到底什么是雪崩失效呢,簡單來說MOSFET在電源板上由于母線電壓、變壓器反射電壓、漏感尖峰電壓等等系統(tǒng)電壓疊加在MOSFET漏源之間,導(dǎo)致的一種失效模式。簡而言之就是由于就是MOSFET漏源極的電壓超過其規(guī)定電壓值并達到一定的能量限度而導(dǎo)致的一種常見的失效模式。

雪崩失效的預(yù)防措施:
雪崩失效歸根結(jié)底是電壓失效,因此預(yù)防我們著重從電壓來考慮。具體可以參考以下的方式來處理。
1:合理降額使用,目前行業(yè)內(nèi)的降額一般選取80%-95%的降額,具體情況根據(jù)企業(yè)的保修條款及電路關(guān)注點進行選取。
2:合理的變壓器反射電壓。
3:合理的RCD及TVS吸收電路設(shè)計。
4:大電流布線盡量采用粗、短的布局結(jié)構(gòu),盡量減少布線寄生電感。
5:選擇合理的柵極電阻Rg。
6:在大功率電源中,可以根據(jù)需要適當(dāng)?shù)募尤隦C減震或齊納二極管進行吸收。

二、柵極電壓失效

造成柵極電壓異常高的主要原因有三:生產(chǎn)、運輸、裝配過程中的靜電;電力系統(tǒng)運行中設(shè)備和電路寄生參數(shù)引起的高壓諧振;在高壓沖擊過程中,高壓通過Ggd傳輸?shù)诫娋W(wǎng)(在雷擊試驗中,這種原因引起的故障更常見)。

柵極電壓失效的預(yù)防措施:

柵極和源極之間的過電壓保護:如果柵極和源極之間的阻抗過高,漏極和源極之間電壓的突然變化將通過電極間電容耦合到柵極上,導(dǎo)致非常高的UGS電壓超調(diào),從而導(dǎo)致柵極超調(diào)。氧化物層永久性損壞。如果是正方向上的UGS瞬態(tài)電壓,設(shè)備也可能導(dǎo)通錯誤。為此,應(yīng)適當(dāng)降低柵極驅(qū)動電路的阻抗,并在柵極和源極之間并聯(lián)一個阻尼電阻或一個穩(wěn)壓約20V的調(diào)壓器。必須特別注意防止開門操作。

三、SOA失效(電流失效)

SOA失效是指電源在運行時異常的大電流和電壓同時疊加在MOSFET上面,造成瞬時局部發(fā)熱而導(dǎo)致的破壞模式。或者是芯片與散熱器及封裝不能及時達到熱平衡導(dǎo)致熱積累,持續(xù)的發(fā)熱使溫度超過氧化層限制而導(dǎo)致的熱擊穿模式。

1:受限于最大額定電流及脈沖電流
2:受限于最大節(jié)溫下的RDSON。
3:受限于器件最大的耗散功率。
4:受限于最大單個脈沖電流。
5:擊穿電壓BVDSS限制區(qū)
我們電源上的MOSFET,只要保證能器件處于上面限制區(qū)的范圍內(nèi),就能有效的規(guī)避由于MOSFET而導(dǎo)致的電源失效問題的產(chǎn)生。


SOA失效的預(yù)防措施:
1:確保在最差條件下,MOSFET的所有功率限制條件均在SOA限制線以內(nèi)。
2:將OCP功能一定要做精確細致。
在進行OCP點設(shè)計時,一般可能會取1.1-1.5倍電流余量的工程師居多,然后就根據(jù)IC的保護電壓比如0.7V開始調(diào)試RSENSE電阻。有些有經(jīng)驗的人會將檢測延遲時間、CISS對OCP實際的影響考慮在內(nèi)。但是此時有個更值得關(guān)注的參數(shù),那就是MOSFET的Td(off)。它到底有什么影響呢,我們看下面FLYBACK電流波形圖。


電流波形在快到電流尖峰時,有個下跌,這個下跌點后又有一段的上升時間,這段時間其本質(zhì)就是IC在檢測到過流信號執(zhí)行關(guān)斷后,MOSFET本身也開始執(zhí)行關(guān)斷,但是由于器件本身的關(guān)斷延遲,因此電流會有個二次上升平臺,如果二次上升平臺過大,那么在變壓器余量設(shè)計不足時,就極有可能產(chǎn)生磁飽和的一個電流沖擊或者電流超器件規(guī)格的一個失效。


3:合理的熱設(shè)計余量,這個就不多說了,各個企業(yè)都有自己的降額規(guī)范,嚴格執(zhí)行就可以了,不行就加散熱器。

四、靜電失效

靜電的基本物理特性是:有吸引力或斥力;有電場,與地球有電位差;產(chǎn)生放電電流。這三種情況對電子元件有以下影響:

1、該元件吸收灰塵,改變線路之間的阻抗,影響元件的功能和壽命。

2、由于電場或電流的作用,元件的絕緣層和導(dǎo)體損壞,使元件不能工作(完全損壞)。

3、由于電場的瞬時軟擊穿或電流過熱,元件受到損壞。雖然它還能工作,但它的生命受到了損害。

靜電失效預(yù)防措施:

MOS電路輸入端的保護二極管在通電時的電流容限為1毫安。當(dāng)可能出現(xiàn)過大的瞬時輸入電流(大于10mA)時,輸入保護電阻應(yīng)串聯(lián)。同時,由于保護電路吸收的瞬時能量有限,過大的瞬時信號和過高的靜電電壓會使保護電路失效。因此,在焊接過程中,烙鐵必須可靠接地,以防止設(shè)備輸入端子泄漏。一般使用時,斷電后,可利用烙鐵的余熱進行焊接,其接地腳應(yīng)先焊好。

五、體二極管故障

在橋式、LLC等有用到體二極管進行續(xù)流的拓撲結(jié)構(gòu)中,由于體二極管遭受破壞而導(dǎo)致的失效。在不同的拓撲和電路中,MOS管具有不同的作用。例如,在LLC中,體二極管的速度也是影響MOS管可靠性的一個重要因素。由于二極管本身是寄生參數(shù),因此很難區(qū)分漏源體二極管故障和漏源電壓故障。二極管故障的解決方案主要是通過結(jié)合自身電路來分析。

審核編輯 黃昊宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • MOS管
    +關(guān)注

    關(guān)注

    108

    文章

    2377

    瀏覽量

    66398
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    MOS擊穿原理分析、原因及解決方法

    MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng))是一種常用的電子元件,在電路中起著開關(guān)、放大等重要作用。然而,在某些情況下,MOS可能會發(fā)生擊穿現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 10-09 11:54 ?2105次閱讀

    MOS被擊穿的原因

    MOS的敏感性使其容易受到靜電放電(ESD)的損害,這可能導(dǎo)致器件性能下降甚至完全失效。本文將深入探討MOS被擊穿的
    的頭像 發(fā)表于 10-04 16:44 ?539次閱讀

    MOS的幾種失效模式

    和工作環(huán)境的變化,MOS也可能會出現(xiàn)各種失效模式。本文將詳細介紹MOS的幾種主要失效模式,并
    的頭像 發(fā)表于 05-30 16:33 ?2303次閱讀

    MOS尖峰產(chǎn)生的原因

    ,深入了解MOS尖峰產(chǎn)生的原因對于電路設(shè)計和維護具有重要意義。本文將從多個方面詳細分析MOS尖峰產(chǎn)生的
    的頭像 發(fā)表于 05-30 16:32 ?2464次閱讀

    AMEYA360:MOS失效的六大原因

    功率器件在近幾年的市場方面發(fā)展的非?;鸨?,尤其是 MOS ,他主要應(yīng)用在電源適配器,電池管理系統(tǒng)以及逆變器和電機控制系統(tǒng)中。 而隨著計算器主板,AI 顯卡,服務(wù)器等行業(yè)的爆發(fā),低壓功率 MOS
    的頭像 發(fā)表于 04-23 13:56 ?715次閱讀
    AMEYA360:<b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b><b class='flag-5'>失效</b>的六<b class='flag-5'>大原因</b>

    MOS中漏電流產(chǎn)生的主要六大原因

    MOS中漏電流產(chǎn)生的主要六大原因? MOS(金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)是一種重要的半
    的頭像 發(fā)表于 03-27 15:33 ?4845次閱讀

    MOS熱阻測試失效分析

    MOS瞬態(tài)熱阻測試(DVDS)失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
    發(fā)表于 03-12 11:46

    晶振失效大原因及解決辦法

    晶振失效大原因及解決辦法 晶振失效是指晶體振蕩器無法正常工作,造成電子設(shè)備不能正常運行的情況。晶振在電子設(shè)備中起到非常關(guān)鍵的作用,它是產(chǎn)生時鐘信號的核心元件。晶振失效會導(dǎo)致設(shè)備的計時
    的頭像 發(fā)表于 01-24 15:40 ?2072次閱讀

    MOS為什么很容易失效?MOS管有哪些失效

    在電子元件中,金屬-氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體MOS)是獨特且重要,然而相比其他元件,MOS很容易
    的頭像 發(fā)表于 01-23 09:21 ?942次閱讀

    MOS常見的六種失效原因#電路知識 #電工 #電路原理 #科普 #mos

    MOS電工
    微碧半導(dǎo)體VBsemi
    發(fā)布于 :2024年01月10日 16:47:41

    mos損壞的原因分析

    Field-Effect Transistor,金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體)是一種常見的半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。然而,在實際應(yīng)用中,MOS可能會因為各種原因而損壞。
    的頭像 發(fā)表于 12-28 16:09 ?2636次閱讀
    <b class='flag-5'>mos</b><b class='flag-5'>管</b>損壞的<b class='flag-5'>原因</b>分析

    常見的齒輪失效有哪些形式?失效原因是什么?如何解決?

    常見的齒輪失效有哪些形式?失效原因是什么?可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生? 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式,它能夠?qū)恿囊粋€軸傳遞到
    的頭像 發(fā)表于 12-20 11:37 ?3906次閱讀

    同軸連接器失效的3大原因

    同軸連接器失效的3大原因 同軸連接器是一種用于連接兩個同軸電纜的重要組件。它在無線通信、廣播電視、計算機網(wǎng)絡(luò)等領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。然而,由于各種原因,同軸連接器可能會出現(xiàn)失效的情
    的頭像 發(fā)表于 11-28 15:45 ?1725次閱讀

    射頻同軸線纜失效的3大原因

    射頻同軸線纜失效的3大原因? 射頻同軸線纜是一種用于傳輸高頻信號的電纜,常用于電視、無線通信、雷達等領(lǐng)域。然而,射頻同軸線纜也會存在失效的可能性。下面將詳細討論射頻同軸線纜失效的三個主
    的頭像 發(fā)表于 11-28 15:15 ?1146次閱讀

    MOS開通過程的米勒效應(yīng)及應(yīng)對措施

    MOS開通過程的米勒效應(yīng)及應(yīng)對措施
    的頭像 發(fā)表于 11-27 17:52 ?3138次閱讀
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>開通過程的米勒效應(yīng)及應(yīng)對<b class='flag-5'>措施</b>