開關(guān)電源測(cè)試的指導(dǎo)書

1. POWER FACTOR& EFFICIENCY TEST / 功率因素和效率測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 的功率因素 POWER FACTOR， 效率 EFFICIENCY（規(guī)格依客戶要求設(shè)計(jì)）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;

（4）。 AC POWER METER / 功率表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載 。

（2）。 從 POWER METER 讀取 Pin and PF 值， 并讀取輸出電壓， 計(jì)算 Pout.

（3）。 功率因素=PIN /（Vin*Iin）， 效率=Pout / Pin*100%；

2. ENERGYEFFICIENCY TEST / 能效測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 能效值是否滿足相應(yīng)的各國能效等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 在測(cè)試前將產(chǎn)品在在其標(biāo)稱輸出負(fù)載條件下預(yù)熱 30 分鐘 。

（2）。 按負(fù)載由大到小順序分別記錄 115Vac/60Hz 與 230Vac/50Hz 輸入時(shí)的輸入功率（Pin），輸入電流（Iin），輸出電壓（Vo）， 功率因素（PF），

然后計(jì)算各條件負(fù)載的效率 。

（3）。 在空載時(shí)僅需記錄輸入功率（Pin）與輸入電流（Iin）。

（4）。 計(jì)算 115Vac/60Hz 與 230Vac/50Hz 時(shí)的四種負(fù)載的平均效率，該值為能效的效率值

五、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

CEC / 美國 EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值標(biāo)準(zhǔn)（IV 等級(jí)）；

（1）。 IV 等級(jí)效率的規(guī)格是： 1）.Po《1W， Average Eff.≥0.5*Po; 2）.1≤Po≤51W，

Average Eff.≥0.09*Ln（Po）+0.5;3）.Po》51，Average Eff.≥0.85.

（2）。 輸入空載功率的規(guī)格是：1）.0

（3）。 Po 為銘牌標(biāo)示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積;

（4）。 實(shí)際測(cè)試的平均效率值和輸入空載功率值需同時(shí)滿足規(guī)格要求才可符合標(biāo)準(zhǔn)要求 。

六、計(jì)算方法舉例：

（1）.12V/1A 的能效效率=（0.09*ln12+0.5 ）*100%=（0.09*2.4849+0.5）*100%=72.36%;

（2）。 輸入功率≤ 0.5W;

3. AC I / PCURRENT TEST / 輸入電流測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 之輸入電流有效值 INPUT CURRENT（規(guī)格依客戶要求設(shè)計(jì)）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載;

（2）。 從功率計(jì)中記錄 AC INPUT 電流值

4. INRUSHCURRENT TEST / 浪涌電流測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 輸入浪涌電流 INRUSH CURRENT， 是否符合 SPEC. 要求 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 依 SPEC. 所要求（通常定義輸入電壓為 100-240Vac/50-60Hz）。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依 SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓， 頻率， 將待測(cè)品輸出負(fù)載設(shè)定在 MAX. LOAD.

（2）。 SCOPE CH2 接 CURRENT PROBE， 用以量測(cè) INRUSHCURRENT， CH1 設(shè)定在 DC Mode， VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定， CH1

作為 SCOPE 之 TRIGGER SOURCE， TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 “+”， TIME/DIV 以 1mS 為較佳， TRIGGER MODE 設(shè)定為“NORMAL”。

（3）。 CH1 則接到 AC 輸入電壓 。

（4）。 以上設(shè)定完成后 POWER ON， 找出 TRIGGER 動(dòng)作電流值 （AT 90o 或 270o POWER ON）。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 冷開機(jī) （COLD-START）： 需在低（常）溫環(huán)境下且 BULK Cap. 電荷須放盡， 以及熱敏電阻亦處于常溫下， 然后僅能第一次開機(jī)，

若需第二次開機(jī)須再待電荷放盡才可再開機(jī)測(cè)試 。

（2）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器 。

5. LINEREGULATION TEST / 電壓調(diào)整率測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而 AC LINE 變動(dòng)時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤1%）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試負(fù)載 LOAD 條件 。

（2）。 調(diào)整輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值 。

（3）。 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi) 。

（4）。 Line reg.=（輸出電壓的最大值（Vmax.）- 輸出電壓的最小值（Vmin.））/Vrate volt.*100%.

五 。 注意事項(xiàng) ：

（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試 。

（2）。 電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變，輸入電壓變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值 。

6. LOADREGULATION TEST / 負(fù)載調(diào)整率測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 在 AC LINE 一定而 OUTPUT LOAD 變動(dòng)時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤±5%）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY 值 。

（2）。 調(diào)整輸出負(fù)載 LOAD 值

（3）。 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi) 。

（4）。 Load reg.=（輸出電壓的最大 / 小值（Vmax/min.）- 輸出電壓的額定值（Vrate））/Vratevolt.*100%.

五 。 注意事項(xiàng) ：

（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試;

（2）。 負(fù)載調(diào)整率值是輸入電壓不變，輸出負(fù)載變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值 。

7. BROWN OUT& RECOVERY TEST / 輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試

一、目的 ：

驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí)， 待測(cè)品需能自我保護(hù)， 且不能有損壞現(xiàn)象;

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 要求

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 將待測(cè)品與輸入電源和電子負(fù)載連接好， 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載;

（2）。 逐步調(diào)降輸入電壓， 每次 3 Vac/ 每分鐘 。

（3）。 記錄電壓值（包括輸入電壓和輸出電壓）， 直到待測(cè)品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止 。

（4）。 設(shè)定好輸入電壓為 0Vac，逐步調(diào)升輸入電壓， 每次 3 Vac/ 每分鐘，

直到待測(cè)品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止，記錄電壓?jiǎn)?dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值 。

五、注意事項(xiàng)：

（1）。 待測(cè)品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生， 以及失效情形;

（2）。 產(chǎn)品當(dāng)機(jī)和啟動(dòng)時(shí)的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值 。

8. RIPPLE & NOISE TEST / 紋波及噪聲測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 直流輸出電壓之紋波 RIPPLE 及噪聲 NOISE（規(guī)格定義常規(guī)為≤輸出電壓的 1%）;

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3） OSCILLOSCOPE / 示波器;

（4） TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 按測(cè)試回路接好各測(cè)試儀器，設(shè)備，以及待測(cè)品，測(cè)試電源在各種 LINE 和 LOAD，及溫度條件之 RIPPLE &

五、注意事項(xiàng)：

（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)輸出并聯(lián) SPEC. 規(guī)定的濾波電容， （通常為 10uF/47uF 電解電容;或鉭電容及 0.1uF 陶瓷

電容） 頻寬限制依 SPEC. 而定（通常為 20MHz）。

（2）。 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊 。

9. RISE TIMETEST / 上升時(shí)間測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí)，各組輸出從 10% ~ 90% POINT 之上升時(shí)間（常規(guī)定義為≤20mS）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD 。

（2）。 SCOPE 的 CH1 接 Vo， 并設(shè)為 TRIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% ~ 80% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “+”，

TIME/DIV 和 VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定 。

（3）。 用 CURSOR 中 “TIME”， 量測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓 10% 至 90% 之上升時(shí)間 。

五 。 注意事項(xiàng) ：

測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài)，待 BUCK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試 。

11. TURN ONDELAY TIME TEST / 開機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí)， 輸入電壓 AC LINE 與輸出之時(shí)間差（常規(guī)定義為≤3000mS）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定 AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載 （一般為 LOW LINE & MAX. LOAD 時(shí)間最長(zhǎng)）。

（2）。 OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE， CH2 接 AC LINE.

（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “+”，VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定 。

（4）。 用 CURSOR 中 “TIME”， 量測(cè) AC ON 至 Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差 。

五 。 注意事項(xiàng) ：

（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài)， 待 BULK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試;

（2）。 示波器 （OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器 。

量測(cè)電源輸出各組電壓上升時(shí)間先后順序時(shí)間差，確保滿足設(shè)計(jì)要求。 。

12. HOLD UPTIME TEST / 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. POWER OFF 時(shí)， 輸入電壓 AC LINE 與輸出 OUTPUT 之時(shí)間差（常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac ）;

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器

三 。 測(cè)試條件 ：

依規(guī)格書所提要求。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定 AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載 。

（2）。 OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE， CH2 接 AC LINE.

（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% ~ 90% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在 “-”， VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定 。

（4）。 用 CURSOR 中 “TIME”， 量測(cè) AC ON 至 Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差 。

五 。 注意事項(xiàng) ：

（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試;

（2）。 示波器 （OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器 。

13. OUTPUTOVERSHOOT TEST / 輸出過沖幅度測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. POWER ON 時(shí)， 輸出 DC OUTPUT 過沖幅度變化量（常規(guī)定義為≤10%）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所要求，輸入電壓范圍與輸出負(fù)載（Min. – Max. load）。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定 AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載 。

（2）。 OSCILLOSCOPE 的 CH1 接 Vo 為 TRIGGER SOURCE;

（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”和“-”， VOLTS/DIV 和 TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定 。

（4）。 用 CURSOR 中 “VOLT”， 量測(cè)待測(cè)品輸出過沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系 。

（5）。 ON / OFF 各做十次， 過沖幅度%=△V / Vo *100%;

五、注意事項(xiàng) ：

產(chǎn)品在 CC 與 CR 模式都需滿足規(guī)格要求 。

14. OUTPUTTRANSIENT RESPONSE TEST / 輸出暫態(tài)響應(yīng)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE， 變化的負(fù)載 LOAD， 頻率及升降斜率 SR/F 值 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸入電壓 AC LINE 和頻率 FREQUENCY.

（2）。 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸出條件： 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率 。

（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到 OUTPUT 偵測(cè)點(diǎn)， 量其電壓之變化 。

（4）。 CH2 接 CURRENT PROBE 測(cè)試輸出電流， 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.

（5）。 TRIGGER MODE 設(shè)定為 “AUTO.”。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 注意使用 CURRENT PROBE 時(shí)，每改變 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO，

（2）。 須經(jīng)常對(duì) CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO.

15. OVERCURRENT PROTECTION TEST / 過流保護(hù)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 輸出電流過高時(shí)是否保護(hù)， 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會(huì)對(duì) S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義過流點(diǎn)為輸出額定負(fù)載的 1.2-2.5 倍 / CV 模式產(chǎn)品初外）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE 和電子負(fù)載 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 將待測(cè)組輸出負(fù)載設(shè)在 MAX. LOAD.

（2）。 以一定的斜率 （通常為 1.0A/S） 遞增， 加大輸出電流直至電源保護(hù)， 當(dāng)保護(hù)后， 將所加大之電流值遞減， 視其輸出是否會(huì)自動(dòng) RECOVERY.

（3）。 OSCILLOSCOPE CH2 接上 CURRENT PROBE， 以 PROBE 檢測(cè)輸出電流 。

（4）。 CH1 則接到待測(cè)輸出電壓， 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.

（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 “-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為 “AUTO”， TIME/DIV 視情況而定 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 注意使用 CURRENT PROBE 時(shí)，每改變 VOLTS/DIV 刻度 PROBE 皆須歸零 ZERO，

（2）。 須經(jīng)常對(duì) CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁 DEGAUSS 和歸零 ZERO.

（3）。 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生 。

16.SHORT CIRCUIT PROTECTION TEST / 短路保護(hù)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 輸出端在開機(jī)前或在工作中短路時(shí)， 產(chǎn)品是否有保護(hù)功能 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

（4）。 低阻抗短路夾

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值和低阻抗短路夾 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值（一般為 MAX. LOAD）。

（2）。 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪罚?偵測(cè)輸出特性 。

（3）。 開機(jī)后短路 TURN ON THEN SHORT & 短路后開機(jī) SHORTTHEN TURN ON 各十次 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 當(dāng) SHORT CIRCUIT 排除之后， 檢測(cè)待測(cè)品是否自動(dòng)恢復(fù)或需重新啟動(dòng) （視 SPEC 要求），并測(cè)試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o零件損壞（產(chǎn)品要求應(yīng)正常）。

（2）。 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生 。

17. OVERVOLTAGE PROTECTION TEST / 過壓保護(hù)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 輸出電壓過高時(shí)是否保護(hù)， 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會(huì)對(duì) S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義：Vout《12V，過壓保護(hù)點(diǎn)為 1.8 倍輸出電壓; Vout≥12V，。 過壓保護(hù)點(diǎn)為 1.5 倍輸出電壓）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

（4）。 DC SOURCE / 直流電源;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 測(cè)試方式一： 拿掉待測(cè)品回授 FEEDBACK， 找出過壓保護(hù) OVP 點(diǎn)，

（2）。 測(cè)試方式二： 短路光藕 3.4 FEEDBACK， 找出過壓保護(hù) OVP 點(diǎn)，

（2）。 測(cè)試方式三： 外加一可變電壓于操作待測(cè)品的輸出， 緩慢增大電壓值， 找出過壓保護(hù) OVP 點(diǎn)，（適用于 PC POWER）

（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到 OVP 偵測(cè)點(diǎn)， 測(cè)量其電壓之變化 。

（4）。 CH2 則接到其它一組輸出電壓， 作為 OSCILLOSCOPE 之 TRIGGER SOURCE.

（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 “-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為 “NORMAL”。

五、注意事項(xiàng) ：

產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生 。

18. MAX. ANDMIN. LOAD CHANGE TEST / 重輕載變化測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過輸出規(guī)格的±10%）。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD（MIN. AND MAX.） 值 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依規(guī)格設(shè)定 AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD （MAX. LOAD 和 MIN. LOAD）。

（2）。 SCOPE 的 CH1 接 Vo， 并設(shè)為 TRIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在 Vo 的 90% ~ 100% 較為妥當(dāng)， TRIGGERSLOPE 設(shè)定在 “+”， VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定 。

（3）。 TIME/DIV 設(shè)定為 1S/DIV 或 2S/DIV，為滾動(dòng)狀態(tài) 。

（4）。 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí)，變化輸出負(fù)載（最大 / 最小）。

（5）。 在設(shè)定電壓下測(cè)試輸出電壓的最大和最小值 。

五、注意事項(xiàng) ：

無

19. INPUTVOLTAGE CHANGE TEST / 輸入電壓變動(dòng)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動(dòng)時(shí)，是否會(huì)對(duì) S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE 和負(fù)載 LOAD 值 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 將待測(cè)輸出負(fù)載設(shè)在 MAX. LOAD 和 MIN. LOAD.

（2）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為 “+”， TRIGGER MODE 設(shè)定為 “AUTO”， TIME/DIV 視情況而定 1S/DIV 或 2S/DIV.

（3）。 變動(dòng)輸入電壓，如：90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.

（4）。 測(cè)試輸出電壓在輸入電壓變動(dòng)時(shí)的最大值和最小值 。

五、注意事項(xiàng) ：

輸出電壓變動(dòng)的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi) 。

AC DIP 過程中，樣機(jī)不能有損壞！

20. POWER ON/OFF CYCLE TEST / 電源開關(guān)循環(huán)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開關(guān)操作下的沖擊 。

二 。 使用儀器設(shè)備

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

（4） POWER ON/OFF TESTER/ 電源開關(guān)測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 輸入電壓： 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載： 滿載 。

（2）。 ON/OFF 時(shí)間： ON 2 秒 / OFF 2 秒 ON/OFF CYCLE：AT LEAST 1000CYCLE.

ON 30 秒 / OFF30 秒 ON/OFF CYCLE：AT LEAST 1000 CYCLE.

（3）。 環(huán)境溫度： 室溫 。 高溫

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 連接待測(cè)品到電源開 / 關(guān)測(cè)試儀及電源 。 （115Vac 和 230Vac &滿載， 或依客戶規(guī)格執(zhí)行）

（2）。 S.M.P.S OFF 3 秒及 ON 3 秒為一周期，總共測(cè)試周期： 1000 CYCLES.

（3）。 測(cè)試過程中每完成 200 周期時(shí)，記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓 。

（4）。 待試驗(yàn)結(jié)束后，確定待測(cè)品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異 。

五、注意事項(xiàng) ：

測(cè)試過程中或測(cè)試完成階段， 待測(cè)品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生 。

21. COMPONENT THERMAL TEST / 元件溫升測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境， 電壓， 頻率和負(fù)載條件時(shí)， 元件的溫升狀況 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 HYBRID RECORDER / 混合記錄儀（DR130）;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 規(guī)定： 輸入電壓 AC LINE， 頻率 FREQUENCY， 輸出負(fù)載 LOAD 及環(huán)境溫度 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依線路情況先確定溫升較高的元件， 后用溫升線粘貼所確定的元件 。

（2）。 依規(guī)格設(shè)定好測(cè)試條件 （AC LINE AND OUTPUT LOAD） 再開機(jī)， 并記錄輸入功率和輸出電壓 。

（3）。 用混合記錄儀 HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線， 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果，并記錄輸入功率和輸出電壓 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 溫升線耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測(cè)試點(diǎn)， 溫升線走勢(shì)應(yīng)盡量避免影響 S.M.P.S 元件的散熱 。

（2）。 測(cè)試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài) 。

（3）。 針對(duì)于無風(fēng)扇（ NO FAN）的產(chǎn)品， 測(cè)試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動(dòng)對(duì)它的影響 。

22. HIGH TEMPOPERATION TEST / 高溫操作測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試高溫環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 依 SPEC. 要求： 輸入條件 （RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載 （FULLLOAD） 和操作溫度 OPERATION TEMP （通常為溫度： 40℃）;

（2）。 試驗(yàn)時(shí)間： 4Hrs.

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件， 然后開機(jī);

（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室;

（3）。 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓，以及待測(cè)品是否有異常;

（4）。 做完測(cè)試后回溫到室溫，再將待測(cè)品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù) 4 小時(shí) 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 。

23. HIGHTEMP.&HUMIDITY STORAGE TEST / 高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀

三 。 測(cè)試條件 ：

儲(chǔ)存高溫高濕條件： 通常為溫度 70±2℃， 濕度 90-95% 試驗(yàn)時(shí)間 24Hrs（非操作條件）。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及 HI-POT 狀況;

（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室;

（3）。 試驗(yàn) 24Hrs， 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少 4Hrs，再確認(rèn)待測(cè)品外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 。

24. LOW TEMP.OPERATION TEST / 低溫操作測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試低溫環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 操作過程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 依 SPEC. 要求： 輸入條件 （RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載 （FULLLOAD） 和操作溫度（OPERATION TEMP.），通常溫度為：（0℃）。

（2）。 試驗(yàn)時(shí)間： 4Hrs.

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件， 然后開機(jī) 。

（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度，然后啟動(dòng)溫控室 。

（3）。 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓，以及待測(cè)品是否有異常;

（4）。 做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少 4 小時(shí)，然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 。

25. LOW TEMP.STORAGE TEST / 低溫儲(chǔ)存測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量 S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

儲(chǔ)存低溫條件： 通常為溫度 -30℃， 試驗(yàn)時(shí)間 24Hrs（非操作條件）。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及 HI-POT 狀況 。

（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動(dòng)溫控室 。

（3）。 試驗(yàn) 24Hrs， 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少 4Hrs， 再將待測(cè)品做 HI-POT 測(cè)試， 記錄測(cè)試結(jié)果， 之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書要求 。

26. LOW TEMP.STARTING UP TEST / 低溫啟動(dòng)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì) S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響， 用以考量 S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

三 。 測(cè)試條件 ：

儲(chǔ)存低溫條件： 通常為操作溫度 0℃條件下降低到 -10 ±2℃， 儲(chǔ)存時(shí)間至少 4Hrs.

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及 HI-POT 狀況 。

（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動(dòng)溫控室 。

（3）。 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少 4Hrs， 然后分別在 115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz 和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各 20 次， 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降 -10 度 。

27. TEMPERATURECYCLING TEST / 溫度循環(huán)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試針對(duì) S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測(cè)試， 用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

操作溫度條件： 通常為低溫度 -40 ℃、25℃、33℃和高溫度 66 ℃（濕度： 50-90%）， 試驗(yàn)至少 2 個(gè)循環(huán) 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及 HI-POT 狀況 。

（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 以無包裝，非操作狀態(tài)下 。

（3）。 設(shè)定溫度順序?yàn)?66±2 ℃保持 1 小時(shí)， 33±2 ℃和濕度 90±2%保持 1 小時(shí)， -40±2 ℃保持 1 小時(shí)， 25±2 ℃和濕度 50±2%保持 30 分鐘，為一個(gè)循環(huán) 。

（4）。 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī)， 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形， 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程，

（5）。 試驗(yàn)完成后， 溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出， 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認(rèn)外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 。

28. THERMALSHOCK TEST / 冷熱沖擊測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試高， 低溫度沖擊對(duì) S.M.P.S. 的影響，用來揭露各組成元件的弱點(diǎn) 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;

（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 依 SPEC. 要求： 儲(chǔ)存最高（70℃）， 低溫度（-30℃）， 測(cè)試共 10 個(gè)循環(huán)， 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 《2min;

（2）。 依客戶所提供的試驗(yàn)條件 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫 25 ℃向低溫通常為 -30 ℃轉(zhuǎn)變，并低溫烘烤 1Hr.

（2）。 溫控室由低溫 -30 ℃向高溫通常為 70 ℃轉(zhuǎn)變，轉(zhuǎn)變時(shí)間為 2min.， 并高溫烘烤 1Hr.

（3）。 在高溫 70 ℃和低溫 -30 ℃之間循環(huán) 10 個(gè)周期后， 溫度回到常溫將 S.M.P.S. 取出（至少恢復(fù) 4 小時(shí)）。

（4）。 確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測(cè)試前的差異 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象 。

（2）。 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 。

（3）。 產(chǎn)品為非操作條件 。

29. HI - POTTEST / 絕緣耐壓測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下， 是否產(chǎn)生電弧 ARCING， 其 CUT OFF CURRENT 是否滿足 SPEC. 要求， 及是否會(huì)對(duì) S.M.P.S.

造成損傷 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 要求： 耐壓值（4242Vdc / 3000Vac）、操作時(shí)間（1 minute）和 CUT OFF CURRENT（3.5mA） 值;

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 依 SPEC. 設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE， 操作時(shí)間 TIME， CUT OFF CURRENT 值 。

（2）。 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接， 進(jìn)行耐壓測(cè)試， 觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING， 及漏電流 CUT OFF CURRENT 是否過大 。

（3）。 耐壓測(cè)試后， 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件， 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好 。

（2）。 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求 。

30. UNIT DROPTEST / 跌落測(cè)試

一、目的 ：

了解 S.M.P.S. 由一定高度， 不同面進(jìn)行跌落 DROP， 其結(jié)構(gòu)， 電氣等特性的變化狀況 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

依 SPEC. 要求： 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面 。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 所有待測(cè)品需先經(jīng)過電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒任何可見的損壞存在 。

（2）。 確定六個(gè)面（小 - 大）順序依次進(jìn)行跌落 。

（3）。 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng) （2） 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落， 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn)，

記錄正常或異常結(jié)果 。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 1000mm+10mm 是為滿足手捂式，拔插式，可攜帶式需求的設(shè)備測(cè)試 。

（2）。 跌落條件可參考安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求 。

六、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

跌落測(cè)試國家標(biāo)準(zhǔn)

跌落實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，至于跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定，有分 90cm、76cm、65cm 幾個(gè)等級(jí)！

包裝貨物重量（lbs）/（㎏） 落下高度（inches）/（㎝）

1~20.99 lbs（0.45~9.54㎏） 0 in /（76.20㎝）

21~40.99 lbs（9.55~18.63㎏） 24 in /（60.96㎝）

41~60.99 lbs（18.64~27.72 ㎏）18 in /（45.72㎝）

61~100 lbs（17.73~45.45㎏） 2 in /（30.48㎝）

31. INSULATIONRESISTANCE TEST / 絕緣阻抗測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 AC POWER METER / 功率表;

（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;

三 。 測(cè)試條件 ：

（1）。 依 SPEC. 要求： 施加 500V 直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高于 10MOhm（常規(guī)定義）。

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 確認(rèn)好電氣性能后， 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓（500Vdc）和測(cè)試的時(shí)間（1 Minute）。

（2）。 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接， 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試 。

（3）。 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試 。

（4）。 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于 SPEC. 要求值 10MOhm.

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義 。

32. RATED VOLTAGE OUTPUT CURRENT TEST / 額定電壓輸出電流測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí)， 其輸出電流值 。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

三 。 測(cè)試條件 ：

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 固定輸入電壓與頻率，依條件設(shè)定 CV 模式下的輸出電壓 。

（2）。 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值 。

（3）。 切換輸入電壓與頻率，記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值 。

（4）。 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值 。

五、注意事項(xiàng) ：

記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定 。

33. STREES TEST/ 零件應(yīng)力測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí)， 功能器件電壓與電流值。

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

最大最小工作電壓

四、測(cè)試方法 ：

（1）。 使用探棒測(cè)試零件功能腳，比如 MOS ，測(cè)試其 Vds 腳位。

（2）。 抓取其，工作中，ON/OFF，Short Output 三種狀態(tài)時(shí)的最大電壓。

五、注意事項(xiàng) ：

選定測(cè)試零件原則如下：功率器件，特定功能器件。、

34. Conducted Emission TEST/ 電磁干擾測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 電磁干擾度是否滿足相應(yīng)的各國電磁干擾標(biāo)準(zhǔn)要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 電磁干擾（EMI）測(cè)試接收機(jī)：（9KHz～3GHz）;

三 。 測(cè)試條件 ：

按規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試

四、測(cè)試方法：

（1）。 將 S.M.P.S 放置于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)。

（2）。 依各國標(biāo)準(zhǔn)抓取高中低頻段的測(cè)試數(shù)據(jù)。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 嚴(yán)格按測(cè)試規(guī)程作業(yè)。

（2）。 樣機(jī)擺放一點(diǎn)要保證接地性要良好。

六、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

EN55022 歐盟 IT 類產(chǎn)品傳導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)

EN55015 歐盟燈具類產(chǎn)品傳導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)

FCC PART 15 美國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)

35. Lightning surge TEST/（雷擊）浪涌防護(hù)測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 是否滿足相應(yīng)的浪涌防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）.Lightning surge 模擬機(jī);

（4）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;

三 。 測(cè)試條件 ：

按各國標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試

四、測(cè)試方法：

（1）。 將 S.M.P.S 放置于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)。

（2）。 依各國標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置模擬沖擊電壓。

（3）。 根據(jù)規(guī)格，設(shè)定好差模與共模數(shù)值。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 嚴(yán)格按測(cè)試規(guī)程作業(yè)。

（2）。 樣機(jī)擺放一點(diǎn)要保證接地性要良好。

（3）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離探棒測(cè)試 。

六、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

EN61000-4-5 歐盟浪涌防護(hù)標(biāo)

36. Electrical FastTransient TEST/ 快速瞬變脈沖測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時(shí)監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)是否滿足相應(yīng)的要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 快速瞬變脈沖模擬機(jī);

三 。 測(cè)試條件 ：

按各國標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試

四、測(cè)試方法：

（1）。 將 S.M.P.S 放置于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)。

（2）。 依各國標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置模擬沖擊電壓。

（3）。 根據(jù)規(guī)格，設(shè)置 L1，L2，PE 數(shù)值。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 嚴(yán)格按測(cè)試規(guī)程作業(yè)。

（2）。 樣機(jī)擺放一點(diǎn)要保證接地性要良好。

（3）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離探棒測(cè)試 。

六、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

EN61000-4-4 歐盟快速瞬變脈沖防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

37. ElectroStaticdischarge TEST/ 靜電放電測(cè)試

一、目的 ：

測(cè)試 S.M.P.S. 靜電釋放帶外殼設(shè)備，同時(shí)監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)是否滿足相應(yīng)的要求（規(guī)格依各國標(biāo)準(zhǔn)要求定義）

二 。 使用儀器設(shè)備 ：

（1）。 AC SOURCE / 交流電源;

（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;

（3）。 靜電放電模擬機(jī);

三 。 測(cè)試條件 ：

按各國標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試

四、測(cè)試方法：

（1）。 將 S.M.P.S 放置于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)。

（2）。 依各國標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置模擬沖擊靜電值。

（3）。 靜電放電分為 air discharge（與待測(cè)物相隔 3mm）/contact discharge（與待測(cè)物直接接觸放電）二種方式。

五、注意事項(xiàng) ：

（1）。 嚴(yán)格按測(cè)試規(guī)程作業(yè)。

（2）。 樣機(jī)擺放一點(diǎn)要保證接地性要良好。

（3）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離探棒測(cè)試 。

六、標(biāo)準(zhǔn)定義 ：

EN61000-4-2 歐盟靜電放電防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

整理自

《開關(guān)電源測(cè)試》惹塵埃 （百度文庫）

《開關(guān)電源測(cè)試指導(dǎo)書》德信誠培訓(xùn)（百度文庫）

審核編輯 黃昊宇