全球領(lǐng)先的半導體測試插座和測試應(yīng)用解決方案供應(yīng)商史密斯英特康正式宣布推出其應(yīng)用于外圍IC測試的Joule 20高頻測試插座。
當前隨著5G等高速通訊標準的升級,新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機,平板,可穿戴設(shè)備,無人駕駛汽車等移動設(shè)備,對RF射頻測試插座的需求越來越多,標準也越來越高。Joule 20出色的接觸技術(shù)和高頻能力有效的保證了信號傳輸?shù)目煽啃院屯暾?。此外,其?chuàng)新的設(shè)計結(jié)構(gòu)可允許拆卸測試插座外殼而無需將其從PCB板上卸下,在設(shè)備測試期間仍然可進行清潔和維護工作,從而大大減少了設(shè)備停機時間并提高了測試產(chǎn)量。
Joule 20射頻測試插座還有哪些顯著的機械和電氣差異優(yōu)勢:
·插入插槽,匹配現(xiàn)有的PCB插槽尺寸
·極短的信號路徑,可提供高達20 GHz的高帶寬
·芯片和PCB之間的接觸電阻非常低,從而提高了測試良率
·高頻能力確保信號完整性和可靠性
·散熱能力支持從-40°C到+125°C
·接觸壽命長,最多插拔次數(shù)可達到500,000次
“近年來數(shù)字時代的加速發(fā)展,對新的消費電子產(chǎn)品以及自動駕駛汽車產(chǎn)生了巨大的需求。集成電路的速度變得越來越快,功能越來越復雜,這就要求更高的測試可靠性和更少的測試時間以將產(chǎn)品快速推出市場?!?史密斯英特康半導體測試業(yè)務(wù)部副總裁兼總經(jīng)理Bruce Valentine說。 “史密斯英特康的研發(fā)腳步也不敢懈怠,Joule 20射頻測試插座的解決方案可以大大提高測試生產(chǎn)量以及滿足對外圍封裝技術(shù)(QFN,QFP和SOIC)更快,更可靠且可重復的測試需求?!?/p>
責任編輯:lq6
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
相關(guān)推薦
在現(xiàn)代通信系統(tǒng)中,高頻功率放大器(HPA)的性能直接關(guān)系到信號的傳輸質(zhì)量和系統(tǒng)的可靠性。因此,對HPA進行精確的性能測試是至關(guān)重要的。 1. 基本性能參數(shù)測試 高頻功率放大器的基本性能
發(fā)表于 10-29 14:10
?81次閱讀
英特爾宣布擴容英特爾成都封裝測試基地。在現(xiàn)有的客戶端產(chǎn)品封裝測試的基礎(chǔ)上,增加為服務(wù)器芯片提供封裝測試
發(fā)表于 10-29 13:58
?182次閱讀
英特爾近日宣布了一項重要決定,將對其位于成都的封裝測試基地進行擴容。此次擴容不僅將鞏固現(xiàn)有的客戶端產(chǎn)品封裝測試業(yè)務(wù),還將新增服務(wù)器芯片的封裝測試
發(fā)表于 10-28 15:37
?203次閱讀
2024年10月28日,英特爾公司正式宣布對位于成都高新區(qū)的英特爾成都封裝測試基地進行擴容升級。此次擴容不僅將在現(xiàn)有客戶端產(chǎn)品封裝測試服務(wù)的
發(fā)表于 10-28 14:43
?371次閱讀
IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來越大,對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高,集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此
發(fā)表于 10-12 08:03
?777次閱讀
高頻變壓器輸出電壓的測試是工業(yè)控制領(lǐng)域電路設(shè)計和調(diào)試中的重要環(huán)節(jié)。以下是測試高頻變壓器輸出電壓的詳細步驟和注意事項: 一、測試方法 1. 示
發(fā)表于 09-29 14:06
?481次閱讀
卡進行通信,無需物理接觸。這種方式通常用于高頻IC卡(如公交卡、門禁卡等),其通信頻率為13.56MHz左右。非接觸式IC卡本身是無源卡,當測試設(shè)備發(fā)送信號時,卡片內(nèi)的LC諧振電路產(chǎn)生
發(fā)表于 09-26 14:27
IC測試原理和設(shè)備教程在內(nèi)容、目的和關(guān)注點上存在顯著的區(qū)別。 IC測試原理 內(nèi)容 : IC測試原
發(fā)表于 09-24 09:51
?150次閱讀
德索工程師說道進行F插座通斷測試時,常用的測試工具主要包括萬用表、絕緣電阻測試儀以及專用的插座測試
發(fā)表于 08-26 15:39
?244次閱讀
IC測試,即集成電路測試,是集成電路設(shè)計和制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)。它主要通過對集成電路的性能、功能和可靠性進行測試,以確保集成電路在實際應(yīng)用中能夠滿足設(shè)計要求和性能指標。 一、
發(fā)表于 07-10 14:45
?1367次閱讀
最近,小編接到客戶的詢問,對于USB插座的推力測試,他們需要使用哪些設(shè)備?為了解決客戶的測試需求,科準測控為他們提供了一套定制的技術(shù)方案,包括相應(yīng)的檢測方法。 為了確保USB插座在日常
發(fā)表于 05-14 16:54
?477次閱讀
德索工程師說道8芯M9插座的結(jié)構(gòu)特點和工作環(huán)境決定了其需要進行扭力測試。8芯M9插座通常具有多個引腳和復雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu),這些引腳和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性直接影響到插座的電氣性能。同時,
發(fā)表于 04-19 15:03
?250次閱讀
德索工程師說道在進行M12航空插座5pin電流循環(huán)測試時,需要遵循一系列詳細的步驟和標準,以確保測試的準確性和可靠性。確保所有必要的測試設(shè)備和工具都已準備就緒。這包括M12航空
發(fā)表于 04-07 15:11
?305次閱讀
近日,由季豐電子精密機械部門自主設(shè)計和制造的ATE測試插座(ATE Socket)通過季豐嘉善測試廠的量產(chǎn)驗證,包括SLT Socket和FT Socket。Socket在Docking后裝在機臺不同的Site都可以穩(wěn)定Pass
發(fā)表于 04-01 09:47
?552次閱讀
近日,全球知名的電子制造服務(wù)提供商富士康宣布與印度企業(yè)集團HCL合作,共同成立一家新的合資企業(yè),以在印度開展半導體封裝和測試業(yè)務(wù)。這一合作標志著兩家公司在半導體領(lǐng)域的深度合作,旨在共同推動印度半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
發(fā)表于 01-19 14:42
?700次閱讀
評論