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支持機器學習技術(shù)的光刻物理分析工具通過GF 12LP解決方案認證

Cadence楷登 ? 來源:Cadence楷登 ? 作者:Cadence楷登 ? 2021-03-30 15:42 ? 次閱讀

支持機器學習技術(shù)的 Cadence Litho Physical Analyzer 光刻物理分析工具通過了 GF 12LP/12LP+ 解決方案認證,檢測效率最高提升 33%,且對執(zhí)行時間的影響不超過 10%。

Cadence 與 GF 的合作讓采用 GF 12LP 和 12LP+ 解決方案的簽核工程師可以加速芯片設(shè)計和生產(chǎn),為 AI、數(shù)據(jù)中心、超大規(guī)模、航空航天和工業(yè)市場開發(fā)產(chǎn)品。

中國上海,2021 年 3 月 26 日——GLOBALFOUNDRIES (GF),一家全球領(lǐng)先的專業(yè)代工企業(yè)與楷登電子(美國 Cadence 公司,NASDAQ:CDNS)今日共同宣布,將發(fā)揮機器學習(ML)的可預測能力,在可制造性設(shè)計DFM)簽核領(lǐng)域展開合作。作為合作的一部分,Cadence Litho Physical Analyzer 光刻物理分析工具(集成了由 GF 開發(fā)的 ML 模型,用于 DFM 模式分析)通過了 GF 12LP 和 12LP+ 解決方案的認證。

ML 增強型的 Cadence Litho Physical Analyzer 光刻物理分析工具針對 GF 12LP 和 12LP+ 解決方案做了專門優(yōu)化,為客戶提供了與設(shè)計同步的自動 DFM 熱點檢測和修復功能,以加速設(shè)計實現(xiàn)及縮短產(chǎn)品上市時間。對比傳統(tǒng)的模式匹配檢查,基于 ML 技術(shù)的增強將檢測效率提升至高達 33%,且對執(zhí)行時間的影響不超過 10%。

GF 已經(jīng)發(fā)布了對應于 ML 增強版的 DFM 工具包,且對 12LP 工藝設(shè)計包(PDKs)進行了更新,并計劃于 2021 年第二季度發(fā)布面向 12LP+ 的版本,為客戶提供面向人工智能(AI)、數(shù)據(jù)中心、物聯(lián)網(wǎng)IoT)及其它市場的加速芯片設(shè)計及生產(chǎn)的高效途徑。

作為 GF 最先進的 FinFET 解決方案,12LP+ 工藝針對 AI 訓練和推理應用做了專門優(yōu)化,為芯片設(shè)計師提供高效率的開發(fā)體驗,以加速產(chǎn)品上市。GF 的 14nm/12LP 平臺已經(jīng)非常成熟,晶圓出貨量已經(jīng)超過 100 萬片,而 12LP+ 正是基于這一平臺,將 12LP 與 12LP+ 的組合充分發(fā)揮出 AI 和性能、面積、功耗(PPA)的組合優(yōu)勢,而無需遷移至面積更小且成本更高的幾何設(shè)計。

“通過將 ML 能力整合到 Cadence Litho Physical Analyzer 光刻物理分析工具,使用 GF 12LP 平臺和 12LP+ 解決方案的客戶可以在設(shè)計實現(xiàn)的同時對簽核進行驗證,以獲得更高的硅片質(zhì)量,”GLOBALFOUNDRIES 公司技術(shù)支持副總裁Jim Blatchford表示,“與 Cadence 的合作讓我們可以迅速提供技術(shù)支持,通過 12LP 和 12LP+ DPKs 的全新能力與客戶的設(shè)計流程無縫集成?!?/p>

ML 增強的 Cadence Litho Physical Analyzer 光刻物理分析工具與 Cadence Innovus Implementation System 設(shè)計實現(xiàn)系統(tǒng)和 Cadence Virtuoso 定制 IC 設(shè)計平臺無縫集成,以通用、熟悉的界面為客戶提供流暢的設(shè)計體驗。

“具備機器學習 ML 能力的不僅是光刻物理分析工具,整個 Cadence 設(shè)計實現(xiàn)平臺都已全面支持 ML,為客戶提供高度先進及精細的解決方案,”Cadence 公司數(shù)字與簽核事業(yè)部研發(fā)部總裁 Michael Jackson 表示,“通過我們與 GF 的最新合作,客戶可以利用 GF12LP/12LP+ 的解決方案來使用我們添加了 ML 增強的工具來實現(xiàn)設(shè)計的成功。同時,支持 ML 的光刻物理分析工具進一步強化了 GF 的 DRC+ 能力和提升了生產(chǎn)良率,可高效檢測更多熱點,并修復之前未被檢出的熱點模式。”

原文標題:GLOBALFOUNDRIES 與 Cadence 將機器學習用于 GF 先進 FinFET DFM 簽核

文章出處:【微信公眾號:Cadence楷登】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

責任編輯:haq

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文章出處:【微信號:gh_fca7f1c2678a,微信公眾號:Cadence楷登】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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