介紹了Si襯底功率型GaN基LED芯片和封裝制造技術(shù),分析了Si襯底功率型GaN基LED芯片制造和封裝工藝及關(guān)鍵技術(shù),提供了產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)。Si襯底LED芯片制備采用上下電極垂直結(jié)構(gòu)與Ag反射鏡工藝,封裝采用仿流明大功率封裝,封裝后白光LED光通量達(dá)80 lm,光效達(dá)70 lm/W,產(chǎn)品已達(dá)商品化。
0 引言
1993年世界上第一只GaN基藍(lán)色LED問世以來,LED制造技術(shù)的發(fā)展令人矚目。目前國際上商品化的GaN基LED均是在藍(lán)寶石襯底或SiC襯底上制造的。但藍(lán)寶石由于硬度高、導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性差等原因,對后期器件加工和應(yīng)用帶來很多不便,SiC同樣存在硬度高且成本昂貴的不足之處,而價格相對便宜的Si襯底由于有著優(yōu)良的導(dǎo)熱導(dǎo)電性能和成熟的器件加工工藝等優(yōu)勢,因此Si襯底GaN基LED制造技術(shù)受到業(yè)界的普遍關(guān)注。
目前日本日亞公司壟斷了藍(lán)寶石襯底上GaN基LED專利技術(shù),美國CREE公司壟斷了SiC襯底上GaN基LED專利技術(shù)。因此,研發(fā)其他襯底上的GaN基LED生產(chǎn)技術(shù)成為國際上的一個熱點。南昌大學(xué)與廈門華聯(lián)電子有限公司合作承擔(dān)了國家863計劃項目“基于Si襯底的功率型GaN基LED制造技術(shù)”,經(jīng)過近三年的研制開發(fā),目前已通過科技部項目驗收。
1 Si襯底LED芯片制造
1.1 技術(shù)路線
在Si襯底上生長GaN,制作LED藍(lán)光芯片。
工藝流程:在Si襯底上生長AlN緩沖層→生長n型GaN→生長InGaN/GaN多量子阱發(fā)光層→生長p型AIGaN層→生長p型GaN層→鍵合帶Ag反光層并形成p型歐姆接觸電極→剝離襯底并去除緩沖層→制作n型摻si層的歐姆接觸電極→合金→鈍化→劃片→測試→包裝。
1.2 主要制造工藝
采用Thomas Swan CCS低壓MOCVD系統(tǒng)在50 mm si(111)襯底上生長GaN基MQW結(jié)構(gòu)。使用三甲基鎵(TMGa)為Ga源、三甲基鋁(TMAI)為Al源、三甲基銦(TMIn)為In源、氨氣(NH3)為N源、硅烷(SiH4)和二茂鎂(CP2Mg)分別用作n型和p型摻雜劑。首先在Si(111)襯底上外延生長AlN緩沖層,然后依次生長n型GaN層、InGaN/GaN多量子阱發(fā)光層、p型AlGaN層、p型GaN層,接著在p面制作Ag反射鏡并形成p型歐姆接觸,然后通過熱壓焊方法把外延層轉(zhuǎn)移到導(dǎo)電基板上,再用Si腐蝕液把Si襯底腐蝕去除并暴露n型GaN層,使用堿腐蝕液對n型面粗化后再形成n型歐姆接觸,這樣就完成了垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的制作。結(jié)構(gòu)圖見圖1。
從結(jié)構(gòu)圖中看出,Si襯底芯片為倒裝薄膜結(jié)構(gòu),從下至上依次為背面Au電極、Si基板、粘接金屬、金屬反射鏡(p歐姆電極)、GaN外延層、粗化表面和Au電極。這種結(jié)構(gòu)芯片電流垂直分布,襯底熱導(dǎo)率高,可靠性高;發(fā)光層背面為金屬反射鏡,表面有粗化結(jié)構(gòu),取光效率高。
1.3 關(guān)鍵技術(shù)及創(chuàng)新性
用Si作GaN發(fā)光二極管襯底,雖然使LED的制造成本大大降低,也解決了專利壟斷問題,然而與藍(lán)寶石和SiC相比,在Si襯底上生長GaN更為困難,因為這兩者之間的熱失配和晶格失配更大,Si與GaN的熱膨脹系數(shù)差別也將導(dǎo)致GaN膜出現(xiàn)龜裂,晶格常數(shù)差會在GaN外延層中造成高的位錯密度;另外Si襯底LED還可能因為Si與GaN之間有0.5 V的異質(zhì)勢壘而使開啟電壓升高以及晶體完整性差造成p型摻雜效率低,導(dǎo)致串聯(lián)電阻增大,還有Si吸收可見光會降低LED的外量子效率。
因此,針對上述問題,深入研究和采用了發(fā)光層位錯密度控制技術(shù)、化學(xué)剝離襯底轉(zhuǎn)移技術(shù)、高可靠性高反光特性的p型GaN歐姆電極制備技術(shù)及鍵合技術(shù)、高出光效率的外延材料表面粗化技術(shù)、襯底圖形化技術(shù)、優(yōu)化的垂直結(jié)構(gòu)芯片設(shè)計技術(shù),在大量的試驗和探索中,解決了許多技術(shù)難題,最終成功制備出尺寸1 mm×1 mm,350 mA下光輸出功率大于380 mW、發(fā)光波長451 nm、工作電壓3.2 V的藍(lán)色發(fā)光芯片,完成課題規(guī)定的指標(biāo)。采用的關(guān)鍵技術(shù)及技術(shù)創(chuàng)新性有以下幾個方面。
(1)采用多種在線控制技術(shù),降低了外延材料中的刃位錯和螺位錯,改善了Si與GaN兩者之間的熱失配和晶格失配,解決了GaN單晶膜的龜裂問題,獲得了厚度大于4 μm的無裂紋GaN外延膜。
(2)通過引入AIN,AlGaN多層緩沖層,大大緩解了Si襯底上外延GaN材料的應(yīng)力,提高了晶體質(zhì)量,從而提高了發(fā)光效率。
(3)通過優(yōu)化設(shè)計n-GaN層中Si濃度結(jié)構(gòu)及量子阱/壘之間的界面生長條件,減小了芯片的反向漏電流并提高了芯片的抗靜電性能。
(4)通過調(diào)節(jié)p型層鎂濃度結(jié)構(gòu),降低了器件的工作電壓;通過優(yōu)化p型GaN的厚度,改善了芯片的取光效率。
(5)通過優(yōu)化外延層結(jié)構(gòu)及摻雜分布,減小串聯(lián)電阻,降低工作電壓,減少熱產(chǎn)生率,提升了LED的工作效率并改善器件的可靠性。
(6)采用多層金屬結(jié)構(gòu),同時兼顧歐姆接觸、反光特性、粘接特性和可靠性,優(yōu)化焊接技術(shù),解決了銀反射鏡與p-GaN粘附不牢且接觸電阻大的問題。
(7)優(yōu)選了多種焊接金屬,優(yōu)化焊接條件,成功獲得了GaN薄膜和導(dǎo)電Si基板之間的牢固結(jié)合,解決了該過程中產(chǎn)生的裂紋問題。
(8)通過濕法和干法相結(jié)合的表面粗化,減少了內(nèi)部全反射和波導(dǎo)效應(yīng)引起的光損失,提高LED的外量子效率,使器件獲得了較高的出光效率。
(9)解決了GaN表面粗化深度不夠且粗化不均勻的問題,解決了粗化表面清洗不干凈的難題并優(yōu)化了N電極的金屬結(jié)構(gòu),在粗化的N極性n-GaN表面獲得了低阻且穩(wěn)定的歐姆接觸。
2 Si襯底LED封裝技術(shù)
2.1 技術(shù)路線
采用藍(lán)光LED激發(fā)YAG/硅酸鹽/氮氧化物多基色體系熒光粉,發(fā)射黃、綠、紅光,合成白光的技術(shù)路線。
工藝流程:在金屬支架/陶瓷支架上裝配藍(lán)光LED芯片(導(dǎo)電膠粘結(jié)工藝)→鍵合(金絲球焊工藝)→熒光膠涂覆(自動化圖形點膠/自動噴射工藝)→Si膠封裝(模具灌膠工藝)→切筋→測試→包裝。
2.2 主要封裝工藝
Si襯底的功率型GaN基LED封裝采用仿流明的支架封裝形式,其外形有朗柏型、矩形和雙翼型。其制作過程為:使用導(dǎo)熱系數(shù)較高的194合金金屬支架,先將LED芯片粘接在金屬支架的反光杯底部,再通過鍵合工藝將金屬引線連接LED芯片與金屬支架電極,完成電氣連接,最后用有機(jī)封裝材料(如Si膠)覆蓋芯片和電極引線,形成封裝保護(hù)和光學(xué)通道。
這種封裝對于取光效率、散熱性能、加大工作電流密度的設(shè)計都是最佳的。其主要特點包括:熱阻低(小于10 ℃/W),可靠性高,封裝內(nèi)部填充穩(wěn)定的柔性膠凝體,在-40~120℃范圍,不會因溫度驟變產(chǎn)生的內(nèi)應(yīng)力,使金絲與支架斷開,并防止有機(jī)封裝材料變黃,引線框架也不會因氧化而沾污;優(yōu)化的封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計使光學(xué)效率、外量子效率性能優(yōu)異,其結(jié)構(gòu)見圖2。
2.3 關(guān)鍵技術(shù)及創(chuàng)新性
功率型LED的熱特性直接影響到LED的工作溫度、發(fā)光效率、發(fā)光波長、使用壽命等,現(xiàn)有的Si襯底的功率型GaN基LED芯片設(shè)計采用了垂直結(jié)構(gòu)來提高芯片的取光效率,改善了芯片的熱特性,同時通過增大芯片面積,加大工作電流來提高器件的光電轉(zhuǎn)換效率,從而獲得較高的光通量,也因此給功率型LED的封裝設(shè)計、制造技術(shù)帶來新的課題。功率LED封裝重點是采用有效的散熱與不劣化的封裝材料解決光衰問題。為達(dá)到封裝技術(shù)要求,在大量的試驗和探索中,分析解決相關(guān)技術(shù)問題,采用的關(guān)鍵技術(shù)和創(chuàng)新性有以下幾點。
(1)通過設(shè)計新型陶瓷封裝結(jié)構(gòu),減少了全反射,使器件獲得高取光效率和合適的光學(xué)空間分布。
(2)采用電熱隔離封裝結(jié)構(gòu)和優(yōu)化的熱沉設(shè)計,以適合薄膜芯片的封裝要求。
(3)采用高導(dǎo)熱系數(shù)的金屬支架,選用導(dǎo)熱導(dǎo)電膠粘結(jié)芯片,獲得低熱阻的良好散熱通道,使產(chǎn)品光衰≤5%(1 000 h)。
(4)采用高效、高精度的熒光膠配比及噴涂工藝,保證了產(chǎn)品光色參數(shù)可控和一致性。
(5)多層復(fù)合封裝,降低了封裝應(yīng)力,實施SSB鍵合工藝和多段固化制程,提高了產(chǎn)品的可靠性。
(6)裝配保護(hù)二極管,使產(chǎn)品ESD靜電防護(hù)提高到8 000 V。
3 產(chǎn)品測試結(jié)果
3.1 Si襯底LED芯片
通過優(yōu)化Si襯底表面的處理和緩沖層結(jié)構(gòu),成功生長出可用于大功率芯片的外延材料。采用Pt電極作為反射鏡,成功實現(xiàn)大功率芯片的薄膜轉(zhuǎn)移。采用銀作為反射鏡,大大提高了反射效率,通過改進(jìn)反射鏡的設(shè)計并引入粗化技術(shù),提高了光輸出功率。改進(jìn)了Ag反射鏡蒸鍍前p型GaN表面的清洗工藝和芯片焊接工藝,改善了銀反射鏡的歐姆接觸,量子阱前引入緩沖結(jié)構(gòu)。
提高了芯片發(fā)光效率,優(yōu)化量子阱/壘界面生長工藝,發(fā)光效率進(jìn)一步提高,通過改進(jìn)焊接技術(shù),減少了襯底轉(zhuǎn)移過程中芯片裂紋問題,芯片制備的良率大幅度提高,且可靠性獲得改善。通過上述多項技術(shù)的應(yīng)用和改進(jìn),成功制備出尺寸1 mm×1 mm,350 mA下光輸出功率大于380 mW的藍(lán)色發(fā)光芯片,發(fā)光波長451 nm,工作電壓3.2 V,完成課題規(guī)定的指標(biāo)。表1為芯片光電性能參數(shù)測試結(jié)果。
注:測試條件為350 mA直流,Ta=25℃恒溫。
3.2 Si襯底LED封裝
根據(jù)LED的光學(xué)結(jié)構(gòu)及芯片、封裝材料的性能,建立了光學(xué)設(shè)計模型和軟件仿真手段,優(yōu)化了封裝的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計。通過封裝工藝技術(shù)改進(jìn),減少了光的全反射,提高了產(chǎn)品的取光效率。改進(jìn)導(dǎo)電膠的點膠工藝方式,并對裝片設(shè)備工裝結(jié)構(gòu)與精度進(jìn)行了改進(jìn),采用電熱隔離封裝結(jié)構(gòu)和優(yōu)化的熱沉設(shè)計,降低了器件熱阻,提高了產(chǎn)品散熱性能。采用等離子清洗工藝,改善了LED封裝界面結(jié)合及可靠性。
針對照明應(yīng)用對光源的光色特性的不同要求,研究暖白、日光白、冷白光LED顏色的影響因素:芯片參數(shù)、熒光粉性能、配方、用量,并通過改進(jìn)熒光膠涂覆工藝,提高了功率LED光色參數(shù)的控制能力,生產(chǎn)出與照明色域規(guī)范對檔的產(chǎn)品。藍(lán)光和白光LED封裝測試結(jié)果見表2。表中:φ為光通量;K為光效;P為光功率;R為熱阻;μ為光衰;I為飽和電流。
4 結(jié)語
Si襯底的GaN基LED制造技術(shù)是國際上第三條LED制造技術(shù)路線,是LED三大原創(chuàng)技術(shù)之一,與前兩條技術(shù)路線相比,具有四大優(yōu)勢:
第一,具有原創(chuàng)技術(shù)產(chǎn)權(quán),產(chǎn)品可銷往國際市場,不受國際專利限制。
第二,具有優(yōu)良的性能,產(chǎn)品抗靜電性能好,壽命長,可承受的電流密度高。
第三,器件封裝工藝簡單,芯片為上下電極,單引線垂直結(jié)構(gòu),在器件封裝時只需單電極引線,簡化了封裝工藝,節(jié)約了封裝成本。
第四,由于Si襯底比前兩種技術(shù)路線使用的藍(lán)寶石和SiC價格便宜得多,而且將來生產(chǎn)效率更高,因此成本低廉。
經(jīng)過三年的科技攻關(guān),課題申請發(fā)明專利12項、實用新型專利7項,該技術(shù)成功突破了美國、日本多年在半導(dǎo)體發(fā)光芯片(LED)方面的專利技術(shù)壁壘,打破了目前日本日亞公司壟斷藍(lán)寶石襯底和美國CREE公司壟斷SiC襯底半導(dǎo)體照明技術(shù)的局面,形成了藍(lán)寶石、SiC、Si襯底半導(dǎo)體照明技術(shù)方案三足鼎立的局面。因此采用Si襯底GaN的LED產(chǎn)品的推出,對于促進(jìn)我國擁有知識產(chǎn)權(quán)的半導(dǎo)體LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展有著重大意義。
編輯:jq
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