功率器件Power Cycling測(cè)試與數(shù)據(jù)后處理分析

日前，貝思科爾舉辦了《功率器件Power Cycling測(cè)試與數(shù)據(jù)后處理分析》線上直播活動(dòng)。

本次直播主要針對(duì)各種先進(jìn)封裝工藝的功率器件和模塊的快速發(fā)展，分析該領(lǐng)域功率器件模塊的Rth熱測(cè)試和PC可靠性測(cè)試需求和發(fā)展趨勢(shì)，分享Siemens MicRed Power Tester功率循環(huán)測(cè)試解決方案以及一些案例，并利用專業(yè)的數(shù)據(jù)后處理軟件對(duì)這些案例分析和總結(jié)。

主要內(nèi)容：

1，分析功率器件（單管,平面式IGBT模塊,SiC Mosfet模塊）測(cè)試需求；

2，Rth熱測(cè)試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析；

3，PCs/min測(cè)試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析。

部分講義截圖

貝思科爾（BasiCAE），專注于為國(guó)內(nèi)高科技電子、半導(dǎo)體、通信等行業(yè)提供先進(jìn)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）、工程仿真分析（CAE）、半導(dǎo)體器件熱阻（Rth）及功率循環(huán)（Power Cycling）熱可靠性測(cè)試，以及研發(fā)數(shù)據(jù)信息化管理的解決方案和產(chǎn)品服務(wù)。