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AEC-Q101認(rèn)證機(jī)構(gòu)

什么是AEC-Q101認(rèn)證？

AEC-Q101主要對(duì)汽車分立器件，元器件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求， AEC-Q101認(rèn)證將會(huì)是汽車級(jí)半導(dǎo)體企業(yè)的首選。 AEC-Q101認(rèn)證包含了離散半導(dǎo)體元件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件，目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。

AEC-Q101認(rèn)證的必要性

AEC-Q101認(rèn)證為汽車級(jí)半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試，主要對(duì)汽車分立器件，元器件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求，如：車用光電耦合器：用于車用隔離件、接口轉(zhuǎn)換器，光電耦合器（TLX9304、TLX9378、TLX9376），觸摸屏控制盤，整卷分立器件等。

半導(dǎo)體企業(yè)要想打入汽車領(lǐng)域，成為各Tier1大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門票：第一張門票即符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/TS 16949規(guī)范(Quality Management System)。第二張就是AEC-Q101認(rèn)證了。如果成功完成AECQ文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了AECQ認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AECQ認(rèn)證。

半導(dǎo)體企業(yè)如何做AEC-Q101認(rèn)證？

AEC-Q101認(rèn)證包含了離散半導(dǎo)體元件（如晶體管，二極管等）最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件，目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。根據(jù) AECQ101 認(rèn)證規(guī)范，離散半導(dǎo)體的最低溫度的范圍應(yīng)為-40℃ ~+125℃ ，所有 LED 的最小范圍應(yīng)為 40℃ 到85℃ 。

哪些器件需要做AEC-Q101認(rèn)證？

要求通過(guò)AEC-0101標(biāo)準(zhǔn)的汽車半導(dǎo)體分立器件有半導(dǎo)體二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管;特種器件及傳感器;壓力敏感器件、磁敏器件(含霍爾器件及霍爾電路)、氣敏器件、濕敏器件、離子敏感器件、聲敏感器件、射線敏感器件、生物敏感器件、靜電感器件等敏感器件、硅基功率半導(dǎo)體器件、寬禁帶功率半導(dǎo)體器件、汽車半導(dǎo)體器件專用零件。

AEC - Q101認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

AEC - Q101 Rev - C: 分立半導(dǎo)體元件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（包含測(cè)試方法）

AEC - Q101-001 - Rev-A: 人體模式靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-002 - Rev-A: 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦線切應(yīng)力測(cè)試

AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性測(cè)試方法

AEC - Q101-005 - Rev-A: 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

AEC-Q101測(cè)試項(xiàng)目分類

- 各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試：

如性能測(cè)試、外觀、參數(shù)驗(yàn)證、物理尺寸、熱阻、短路耐量等；

- 環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)：按照軍用電子器件環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)和汽車電子通用環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行器件的應(yīng)力實(shí)驗(yàn)，如高溫反偏、高溫棚偏壓、溫度循環(huán)、高壓蒸煮、HAST、高溫高濕反偏、高溫高濕工作、間歇工作壽命、功率溫度循環(huán)、常加速、振動(dòng)、沖擊、氣密性等；

- 工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)：針對(duì)封裝、后續(xù)電子組裝工藝，以及使用可靠性進(jìn)行的相應(yīng)元器件工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)，如ESD、DPA、端子強(qiáng)度、耐溶劑試驗(yàn)、耐焊接熱、可焊性、綁線拉力剪切力、芯片推力、介質(zhì)完整性、無(wú)鉛測(cè)試等。

AEC‐Q101‐Rev‐E 基于失效機(jī)理的汽車用分立半導(dǎo)體器件應(yīng)力測(cè)試鑒定

種類	序號(hào)	應(yīng)力方式	樣品數(shù)量 Sample Size/Lot	批數(shù) Number of Lots
1. 加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試 ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS	1	預(yù)處理 Preconditioning	貼片器件在進(jìn)行 2~10 項(xiàng),及耐焊性測(cè) 試前要實(shí)施預(yù)處理
2	高加速度應(yīng)力測(cè)試 Highly Accelerated Stress Test	77	3（注 B）
3	高溫高濕反向偏壓 High Humidity High Temp. Reverse Bias	77	3（注 B）
4	無(wú)高加速度應(yīng)力測(cè)試 Unbiased HAST	77	3（注 B）
5	壓力鍋 Autoclave	77	3（注 B）
6	溫度循環(huán) Temperature Cycling	77	3（注 B）
7	溫度循環(huán)熱試驗(yàn) Temperature Cycling Hot Test	77	3（注 B）
8	溫度循環(huán)分層試驗(yàn) TC Delamination Test	77	3（注 B）
9	間歇工作壽命 Intermittent Operational Life	77	3（注 B）
10	功率溫度循環(huán) Power Temperature Cycling	77	3（注 B）
2. 加速壽命周期模擬測(cè)試– ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS	1	高溫反向偏壓 High Temperature Reverse Bias	77	3（注 B）
2	交流阻斷電壓 AC blocking voltage	77	3（注 B）
3	穩(wěn)態(tài)工作 Steady State Operational	77	3（注 B）
4	高溫柵偏壓 High Temperature Gate Bias	77	3（注 B）
3.封裝組裝完整性測(cè)試 PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS	1	破壞性物理分析 Destructive Physical Analysis	2	1（注 B）
2	尺寸 Physical Dimension	30	1
3	焊線拉力 Wire Bond Pull Strength	最少 5 個(gè)器件的 10 條焊線
4	焊線剪切 Wire Bond Shear Strength
5	晶片剪切 Die Shear	5	1
6	端子強(qiáng)度 Terminal Strength	30	1
7	耐溶劑性 Resistance to Solvents	30	1
8	耐焊性 Resistance to Solder Heat	30	1
9	熱阻抗 Thermal Resistance	10	1
10	可焊性 Solderability	10	1（注 B）
11	晶須生長(zhǎng)評(píng)價(jià) Whisker Growth Evaluation	-	-
12	恒定加速度 Constant Acceleration	30	1（注 B）
13	變頻振動(dòng) Vibration Variable Frequency	項(xiàng)目 12~15 是密封封裝器件連續(xù)的測(cè) 試(參考注釋 H)
14	機(jī)構(gòu)沖擊 Mechanical Shock
15	氣密性 Hermeticity
4.晶片制造可靠性測(cè)試 DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS	1	介電性 Dielectric Integrity	5	1
5. 電性驗(yàn)證測(cè)試 – ELECTRICAL VERIFICATION TESTS	1	外觀 External Visual	all	all
2	應(yīng)力測(cè)試前后功能參數(shù) Pre- and PostStress Electrical Test	all	all
3	參數(shù)驗(yàn)證 Parametric Verification	25	3（注 A）
4	靜電放電人體模式 ESD HBM Characterization	30	1
5	靜電放電帶電器件模式 ESD CDM Characterization	30	1
6	鉗位感應(yīng)開關(guān) Unclamped Inductive Switching	5	1
7	短路特性 Short Circuit Characterization	10	3（注 B）

審核編輯黃昊宇

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