一、無(wú)源晶振和有源晶振測(cè)試結(jié)果對(duì)比

1．無(wú)源晶振測(cè)試

??LR35使用無(wú)源晶振常溫頻偏測(cè)試結(jié)果為：1.5KHz左右

??但是在高低溫速率1的條件下存在丟包或者無(wú)法進(jìn)行透?jìng)鲉?wèn)題，前期通過(guò)更換不同大小的晶振以及調(diào)整匹配電容減小頻偏，效果不理想，高低溫還是丟包大。

2．有源晶振測(cè)試

??有源晶振常溫頻偏測(cè)試為：0.375KHz

??高溫85度頻偏測(cè)試為：0.75KHz，如下圖所示，丟包也在正常范圍內(nèi)；


??在低溫-40度丟包也在正常范圍內(nèi)；在這里插入圖片描述

二、62.5K帶寬下最大頻偏偏差通信測(cè)試

??通過(guò)更換不同大小晶振以及調(diào)試匹配電容，以達(dá)到最大頻偏偏差；
??第一組：一個(gè)使用-10ppm，另一個(gè)使用+10ppm，并調(diào)節(jié)使用+10pppLR30模塊匹配電容為12pf和10pf；測(cè)試頻偏結(jié)果如下：

??頻偏偏差為15.25KHz，測(cè)試通信可以進(jìn)行透?jìng)鳎?br /> ??第二組：同樣使用±10ppm晶振，調(diào)節(jié)+10ppm晶振匹配電容為2個(gè)10pf，測(cè)試頻偏結(jié)果如下：

??兩者偏差為：16.125KHz，測(cè)試通信無(wú)法進(jìn)行透?jìng)鳎?br /> ??第三組：操作步驟同上，使得兩者頻偏偏差為：15.375KHz，測(cè)試通信可以進(jìn)行透?jìng)鳎?br /> ??第四組：操作步驟同上，使得兩者頻偏偏差為：17.15KHz，測(cè)試通信無(wú)法進(jìn)行透?jìng)鳎?br /> ??因匹配電容以及晶振原因無(wú)法進(jìn)行詳細(xì)頻偏偏差測(cè)試，只能測(cè)試大概范圍；
??結(jié)論如下：在62.5KHz帶寬下，可以進(jìn)行通信的最大頻偏偏差為15K左右；

三、開(kāi)發(fā)總結(jié)

??1、通過(guò)上面對(duì)比測(cè)試，有源晶振在高低溫測(cè)試時(shí)，能有效的控制頻偏范圍，從而數(shù)據(jù)能夠穩(wěn)定進(jìn)行傳輸。
??2、62.5K帶寬下能進(jìn)行透?jìng)鞯念l偏偏差范圍為：不超過(guò)帶寬的四分之一。