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AOI對(duì)電池片的外觀缺陷和顏色分選

jt_rfid5 ? 來源:今日光電 ? 2023-05-31 11:13 ? 次閱讀

NO 1. AOI 測(cè)試作用

AOI(Automated Optical Inspection)的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),在生產(chǎn)過程中,對(duì)電池片的外觀缺陷和顏色進(jìn)行分選。 e4185f6c-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

NO 2. AOI 檢測(cè)原理

AOI 原理有光學(xué)的反射原理、光成像原理和檢測(cè)算法。 e4297b30-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

NO 3.AOI 檢測(cè)硬件系統(tǒng)

3.1 現(xiàn)場(chǎng)實(shí)物圖

e4464184-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

3.2AOI 檢測(cè)硬件

e44fea9a-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

1. 相機(jī);

2. 白色墊板:電池片停留的位置,能夠有效濾除雜亂背景,更好的進(jìn)行電池片圖像的提??;

3. 光源控制器;

4. 相機(jī)連接線及光源延長(zhǎng)線出口;

5. 機(jī)箱:內(nèi)部表面涂抹白色粗糙物質(zhì)以增強(qiáng)光的漫反射,增強(qiáng)光照強(qiáng)度的均勻性;

6. LED光源:在電池片停留位置的四周放置四個(gè)光源對(duì)電池片進(jìn)行打光,增強(qiáng)電池片亮度,讓相機(jī)更好的提取電池片圖像;

7. 側(cè)門板。

NO 4.AOI 檢測(cè)軟件系統(tǒng)

4.1 圖像處理

e464bc7c-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

4.2 顏色檢測(cè)

1. 檢測(cè)原理

顏色檢測(cè)是通過將系統(tǒng)采集的RGB圖片變換到HSV色彩空間來確定檢測(cè)物體的色彩。

2.RGB色彩空間

當(dāng)我們?cè)诿枋龌蚨x一種顏色時(shí),大多數(shù)時(shí)候都會(huì)使用RGB色彩空間(RGBColorSpace)。因?yàn)樗旧习巳祟愃苷J(rèn)識(shí)的所有顏色,我們看到的所有顏色都是通過該色彩空間的R、G、B各通道按照不同的比例混合而成。

e478b95c-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

3. HSV方法

HSV是一種將RGB色彩空間中的點(diǎn)在倒圓錐體中的表示方法。HSV即色調(diào)(Hue)、飽和度(Saturation)、明度(Value),又稱HSB(B即Brightness)。

e485d290-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

4.3 顏色分類

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4.4 電池片缺陷檢測(cè)

1. 缺陷檢測(cè)原理

通過模板匹配法,這是一種基本的識(shí)別方法,研究某一特定對(duì)象物的圖案位于圖像的什么地方,進(jìn)而識(shí)別對(duì)象物。

2. 缺陷檢測(cè)分類

① 結(jié)構(gòu)檢測(cè):缺失缺陷、V型缺陷、邊緣缺陷等;

② 印刷缺陷檢測(cè):印刷偏移、粗線、斷柵等;

③ 色彩偏差:臟污、手指印、色差等;

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4.5 結(jié)構(gòu)/印刷缺陷檢測(cè)

1. 檢測(cè)原理

利用完好電池片的幾何圖像與待檢電池片的幾何圖像進(jìn)行匹配并對(duì)比,有較大的像素差就說明該待檢電池片是崩邊或者缺損的。

相機(jī)采集的彩色圖像灰度化并放大之后,我們可以明顯地看到電池片邊緣的像素是呈階梯狀分布的,再經(jīng)過二值化之后,該邊緣的像素也會(huì)產(chǎn)生階梯狀的分布,這對(duì)使用模板匹配方法時(shí)是存在精度誤差的。

e4d59e2e-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

4.6 斷柵缺陷檢測(cè)

e4e5bec6-fcbe-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

4.7 色彩偏差檢測(cè)

1. 色彩偏差檢測(cè):主要分為識(shí)別和判定倆個(gè)階段;

2. 識(shí)別:首先進(jìn)行分區(qū)域掃描,灰度像素值之間差異較大區(qū)域?yàn)橛腥毕輩^(qū)域;

3. 判定:對(duì)缺陷區(qū)域內(nèi)的所有點(diǎn)進(jìn)行灰度差分運(yùn)算,如果某點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的差分值大于某一設(shè)定值,則將該點(diǎn)標(biāo)記為缺陷點(diǎn),當(dāng)該區(qū)域內(nèi)所有點(diǎn)測(cè)量結(jié)束后,缺陷點(diǎn)的數(shù)目大于預(yù)先按照要求設(shè)定的數(shù)目,則所有被標(biāo)記點(diǎn)組成缺陷區(qū)域。

審核編輯:彭靜

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原文標(biāo)題:【光電智造】AOI 顏色&缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

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