華瑞高推出的TEM小室為芯片類高頻電磁兼容測試助力！

近日，根據(jù)HuaweiCentral網(wǎng)站的報道，華為自研麒麟A2即將量產(chǎn)，作為麒麟A1的迭代產(chǎn)品，其尺寸為4.3mm×4.4mm，集成了藍(lán)牙處理單元、音頻處理單元、低功耗的應(yīng)用處理器和獨(dú)立的電源管理單元。適用于無線耳機(jī)、頭戴式耳機(jī)、頸戴式耳機(jī)、智能音箱、智能眼鏡和智能手表等設(shè)備。

按照華為的規(guī)劃，麒麟A1首發(fā)于華為真無線藍(lán)牙耳機(jī)FreeBuds 3。它已經(jīng)廣泛用于華為真無線耳塞、無線頭戴、頸掛式無線耳機(jī)、智能眼鏡、智能手表等產(chǎn)品。華為的耳機(jī)、手表，大概率都有這款芯片的功勞。所以，不出意外，麒麟A2會在麒麟A1的基礎(chǔ)上繼續(xù)調(diào)優(yōu)、精進(jìn)，依然會用于耳機(jī)、手表等可穿戴設(shè)備。

此類小尺寸芯片的電磁兼容性測試主要涉及到以下兩個方面：

1） 電磁發(fā)射：主要研究 IC 芯片產(chǎn)生的騷擾信號以傳導(dǎo)/輻射方式對其它器件的影響。 IC 發(fā)射是由于內(nèi)部快速的電壓/電流變化產(chǎn)生的， 這些變化在 IC 芯片內(nèi)/外部激勵出射頻電流， 并以傳導(dǎo)方式通過芯片管腳在 PCB 上形成傳導(dǎo)回路，這些回路可看成發(fā)射環(huán)天線， 并輻射電場與磁場。

2） 電磁抗擾度：主要研究環(huán)境電磁騷擾信號以傳導(dǎo)或輻射方式對 IC 芯片的影響。 在外界干擾存在的條件下， 研究 IC 芯片的抗擾能力， 提高其對電磁騷擾的承受能力， 可有效保證集成電路工作的可靠性。

同理， 小尺寸IC芯片的測量標(biāo)準(zhǔn)也分為電磁發(fā)射與抗擾度兩個方面。

目前出版的 IEC61697 系列標(biāo)準(zhǔn)與 IEC62132 系列標(biāo)準(zhǔn)分別涉及到 IC 芯片的電磁發(fā)射與抗擾度測量。

深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司推出的高頻TEM小室HTM-8G，完美的解決了此類小尺寸芯片的電磁兼容性測試。集成電路安裝在一個用螺栓固定的測試夾具上，安裝完成后，可在9K-8GHZ的范圍內(nèi)進(jìn)行符合IEC 61967-2/-8、SAE 1752-3和IEC 62132-8的測試。

我們推出的高頻TEM小室同時也可用于抗擾度測試，只需要輸入0.1毫瓦的功率就可以實(shí)現(xiàn)每米14伏的電場，使得我們的芯片類EMC高頻測試不再受到限值。

深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司作為一家專業(yè)的電磁兼容測試設(shè)備廠家，我們有著相關(guān)豐富的電磁兼容測試的經(jīng)驗(yàn)，歡迎致力于電磁兼容測試的朋友多多溝通交流！