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雜散電感對碳化硅功率器件動(dòng)態(tài)測試的影響

青銅劍技術(shù) ? 來源:青銅劍技術(shù) ? 2023-06-30 09:50 ? 次閱讀

電感是導(dǎo)體的一種特性,會(huì)阻礙電流的變化。電感阻礙電流的變化并不會(huì)消耗電能,而是以磁場/電磁感應(yīng)的方式存儲(chǔ)釋放能量,以達(dá)到阻礙電流變化的目的。

導(dǎo)體的電感主要由自感和互感組成。自感是導(dǎo)體或線圈自身的電感量,和導(dǎo)體的大小、形狀有關(guān)?;ジ袆t是其他導(dǎo)體或線圈對自身的影響,也就是其他可以產(chǎn)生磁場的物體對自身的影響,與所處位置、導(dǎo)體線圈中間是否有鐵芯等因素有關(guān)。導(dǎo)體電感與流通電流大小、變化率無關(guān),和溫度也幾乎無關(guān)。它是導(dǎo)體本身及所處位置形成的一個(gè)特定物理量。

雜散電感是一種非專門設(shè)計(jì)的、寄生的、附帶的電感,不是我們想要的。功率模組的雜散電感主要來自元件本身雜感(主要是母線電容功率模塊內(nèi)部雜感)和連接導(dǎo)體雜感(回路雜感,比如母線電容到功率模塊之間以及元件引線雜感)。

眾所周知,碳化硅功率器件具有開關(guān)頻率高的特點(diǎn),開關(guān)頻率高會(huì)導(dǎo)致電流變化更快。電感的特性是阻礙電流的變化,電流變化越快,其阻礙效果越強(qiáng)。通過公式UL=-L*di/dt可以推出,雜散電感過高對功率器件運(yùn)行最主要的影響是會(huì)導(dǎo)致Vds峰值過高以及電壓電流更長更劇烈的拖尾震蕩。前者主要影響設(shè)計(jì)余量,增加過壓擊穿風(fēng)險(xiǎn)。后者將增加電磁干擾,對損耗及損耗計(jì)算造成影響。

在功率模組設(shè)計(jì)中,為避免回路雜散電感的影響,我們可以通過改變導(dǎo)體的形狀位置、合理布置來減小雜感,或者在選用電容和功率器件時(shí)予以余量考慮。對于功率器件動(dòng)態(tài)測試來說,一個(gè)低雜感的測試工裝,可以更清晰更準(zhǔn)確地測試出碳化硅器件的動(dòng)態(tài)性能。青銅劍技術(shù)最新的低雜感功率模塊測試工裝可做到低于20nH的雜散電感,對于碳化硅的高頻動(dòng)態(tài)測試具有良好效果。

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青銅劍技術(shù)低雜感工裝的雙脈沖實(shí)測波形

對于功率器件應(yīng)用測試而言,測試功率器件在不同的回路雜感下是否能安全正常的工作是一項(xiàng)非常重要的工作。我們當(dāng)然希望回路雜感越小越好,甚至不存在。但是電感是導(dǎo)體的一種固有特性,實(shí)際工作回路中一定會(huì)有雜感,只是高和低的區(qū)別。

在功率模組的設(shè)計(jì)過程中,可以通過仿真來提前評(píng)估功率模組的雜感以及功率器件的運(yùn)行情況?;蛘咴诠β誓=M實(shí)際設(shè)計(jì)組裝完成后,進(jìn)行模組雙脈沖測試來實(shí)際測試是否能安全正常運(yùn)行以及回路雜感大小。但這兩個(gè)方法都不完美,前者要考慮數(shù)據(jù)的真實(shí)性,后者則可能耽誤設(shè)計(jì)時(shí)間。青銅劍技術(shù)最新設(shè)計(jì)的可調(diào)雜感測試工裝,可以有效解決此問題。通過這款工具,可在功率模塊動(dòng)態(tài)測試中,模擬不同的回路雜感進(jìn)行測試,獲取真實(shí)有效的數(shù)據(jù),評(píng)估該功率模塊應(yīng)對不同雜感的工作能力,對功率模組的設(shè)計(jì)提供有效的數(shù)據(jù)支撐。

有功率器件動(dòng)態(tài)測試需求的朋友,如您對低雜感測試工裝和可調(diào)雜感測試工裝感興趣,歡迎聯(lián)系青銅劍技術(shù),我們可以提供定制化的功率器件動(dòng)態(tài)測試設(shè)備設(shè)計(jì)服務(wù)。

審核編輯:湯梓紅

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原文標(biāo)題:雜散電感對碳化硅功率器件動(dòng)態(tài)測試的影響

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