導(dǎo)通電阻測試就是用來檢測導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法,是指兩個導(dǎo)體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比,通俗的說就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引腳導(dǎo)通性測試是一個必要的步驟,用于驗證和檢測芯片引腳之間的連接是否正確,以確保芯片的正常工作。
具體測試過程與方法
芯片引腳導(dǎo)通性測試的目的是檢測芯片引腳之間的電氣連通是否良好,測試可以幫助工程師們確定芯片是否正常,以及在產(chǎn)品中使用期間是否會出現(xiàn)連接問題。
導(dǎo)通電阻測試
首先,在進行芯片引腳導(dǎo)通性測試之前,工程師們需要準備好測試所需的設(shè)備和工具。有測試臺柜、測試儀器、測試座、測試夾具治具、測試程序等。在選擇測試設(shè)備和工具時,需要考慮測試的精度和穩(wěn)定性,以確保測試結(jié)果的可靠性。同時,還需要根據(jù)芯片的設(shè)計特點和測試要求來確定適合的測試方法和策略。
其次,芯片引腳導(dǎo)通性測試的過程需要根據(jù)具體的芯片設(shè)計和連接結(jié)構(gòu)來確定,這些測試步驟包括引腳電壓測試、引腳電流測試、引腳開關(guān)測試等。
在進行引腳電壓測試時,測試儀器會通過接觸引腳并施加一定的電壓,然后檢測是否有電流通過引腳。如果有電流通過,則說明引腳連通正常;如果沒有電流通過,則說明引腳存在連接問題。引腳電壓測試可以幫助工程師們了解芯片內(nèi)部各個模塊的工作狀態(tài)。引腳電阻測試是用來檢測芯片引腳之間的電阻情況。
最后,測試儀器會通過接觸引腳并施加一定的電流,然后測量引腳電壓,通過測量電壓降和電流值,根據(jù)歐姆定律,可以計算出引腳之間的電阻大小。引腳電阻測試可以幫助工程師們確定引腳連接是否存在異常。
ATECLOUD-IC測試系統(tǒng)如何進行導(dǎo)通電阻測試?
使用ATECLOUD進行芯片導(dǎo)通電阻測試的步驟如下:
連接測試設(shè)備,登錄ATECLOUD智能云測試平臺。
創(chuàng)建測試項目,項目名稱為導(dǎo)通電阻測量。
在右側(cè)添加本次測試需要用到的測試儀器數(shù)字萬用表,電子負載,可編程直流電源,并對其型號進行配置。ATECLOUD平臺支持市場主流品牌商儀器,支持20+儀器種類,支持2000+儀器型號,用戶可直接在儀器庫進行儀器名稱的搜索即可添加。
搭建測試工步,ATECLOUD云測試平臺采用圖標拖拽測試流程代替編程語言,讓用戶可以快速上手,快速進行測試工步的搭建工作。
啟動測試,輸入產(chǎn)品編號后,啟動測試,即可看到隨時間變化數(shù)字萬用表與電子負載自動測量電壓值與電流值,系統(tǒng)自動根據(jù)歐姆定律計算出電阻值,通過數(shù)據(jù)洞察功能,數(shù)值模式可自由切換圖表模式,即可實時顯示電阻值的曲線圖。
導(dǎo)出測試報告,測試報告靈活定義,可實現(xiàn)報告自動取數(shù),報告自動生成。在測試報告需要重新設(shè)計時,可快速自定義修改,脫離對開發(fā)的依賴,提高效率,降低成本!
ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)
關(guān)于納米軟件
納米軟件作為國內(nèi)知名的測試儀器軟件服務(wù)開發(fā)商,在測試行業(yè)深耕十余年,專注于電源模塊與IC芯片測試,為上千家用戶提供可靠的測試系統(tǒng)及解決方案。此外納米還開發(fā)設(shè)計了國內(nèi)首款智能云測試平臺ATECLOUD,填補了國內(nèi)測試軟件行業(yè)的空白。
審核編輯:湯梓紅
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