我們以ST的LM339DT為例,來了解下比較器選型:
對于圖中1:此LM339DT有3種封裝類型,共14個引腳,我們選擇適合自己的;
對于圖中2:此芯片支持單電源和雙電源供電,單電源以最低2V到最高36V,或者雙電源最低正負(fù)1V到最高正負(fù)18V,即芯片GND接負(fù)電源,VCC接正電源;通常我們用單電源供電,比如5V,12V,15V,18V,24V;我們根據(jù)我們設(shè)計電路中供電選擇合適的電壓;
對于圖中3:這個芯片的損耗電流在1.1mA左右;
對于圖中4:此芯片輸入偏置電流典型值為25nA,我們可以根據(jù)這個值來設(shè)計輸入端的分壓電阻,設(shè)計基準(zhǔn)就是前級電路電流至少大于偏置電流1個數(shù)量級,保證前級分壓穩(wěn)定性;
對于圖中5:此芯片的輸入失調(diào)電流和輸入電壓,這2個參數(shù)可以解釋芯片內(nèi)部的對稱性,失調(diào)參數(shù)越小,比較器越精準(zhǔn);
對于圖中6:告訴我們此芯片在飽和導(dǎo)通輸出低電平時,輸出并不是0V,而是250mV;
對于圖中7:我們知道這個芯片是集成了4路獨(dú)立的精密比較器;
我們再看下圖:下面是此芯片附帶的芯片內(nèi)部框圖,我們?nèi)绻胍钊肓私膺@個芯片的功能,我們可以研究內(nèi)部設(shè)計電路;基本每個手冊都有;
我們再看下極限參數(shù):
- 雙電源供電最高正負(fù)18V,單電源供電最大36V;
- 內(nèi)部晶圓到外界環(huán)境的熱阻,三個不同封裝的都有,單位為℃/W,意思是每上升1W,芯片溫度上升的度數(shù);我們可以根據(jù)這個參數(shù)來估算在實(shí)際電路中芯片的內(nèi)部結(jié)溫;
- 內(nèi)部晶圓到外殼的熱阻,我們可以用熱電偶測量芯片表面實(shí)際溫度,再通過在電路中實(shí)際消耗功率來估算芯片內(nèi)部結(jié)溫;
- 芯片的儲存溫度范圍,在存儲時我們要根據(jù)各個芯片的儲存要求來控制倉庫內(nèi)的溫濕度;
- 芯片的內(nèi)部結(jié)溫最高不超過150℃;
- 此芯片在焊接時,要求260℃,焊接時間不超過10s;
- 此芯片的ESD靜電等級;
我們再看最后一個比較重要的就是響應(yīng)時間:
就是我們在輸入電壓時,和參考電壓比較后,電壓從0上升到高的時間;或者從高到0的時間,這個我們需要關(guān)注下,在低頻中不會影響我們的輸出結(jié)果,但是在高頻中我們就要考慮輸出波形的完整度問題;
今天就到這里,謝謝閱讀支持;
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