近日,Introspect Technology宣告全球首發(fā)GDDR7顯存測試系統(tǒng),支持密集并行的72通道、40 Gbps的PAM3 ATE-on-Bench測試。這將助力顯存及GPU生產(chǎn)商以卓越速度實(shí)現(xiàn)新設(shè)備上市。
據(jù)悉,Introspect已成功交付M5512 GDDR7顯存測試系統(tǒng),此乃全球首個(gè)正規(guī)解決方案,專門針對JEDEC全新的JESD239圖形雙倍數(shù)據(jù)速率(GDDR7)SGRAM規(guī)范。此系統(tǒng)使得工程師與產(chǎn)品商可以輕松應(yīng)對GDDR7顯存設(shè)備的啟動、協(xié)議排查錯誤、信號特性分析以及全面的讀/寫功能壓力檢測等工作,無需借助其他工具。
固態(tài)技術(shù)協(xié)會JEDEC于本月6日發(fā)布了JESD239 GDDR7顯存標(biāo)準(zhǔn)。相較GDDR6而言,JESD239 GDDR7的帶寬增加至兩倍,每部設(shè)備最多可達(dá)到驚人的192GB/s。JESD239 GDDR7開創(chuàng)性地運(yùn)用了脈幅調(diào)制定義接口(Pulse Amplitude Modulation,PAM)來實(shí)現(xiàn)高速操作?;赑AM3的接口表現(xiàn)出色,提升了信號噪聲比(SNR),同時(shí)也提升了能源利用效率。其獨(dú)特之處在于,它能在兩個(gè)循環(huán)中傳輸3位數(shù)據(jù),遠(yuǎn)超過傳統(tǒng)NRZ接口的兩比特表現(xiàn),極大地提高了其每周期的數(shù)據(jù)傳輸率和整體性能。
M5512 GDDR7顯存測試系統(tǒng)作為桌面級測量儀器,具備72個(gè)高性能引腳,每個(gè)引腳均能在PAM3模式中實(shí)現(xiàn)40Gbps的交換速率。每個(gè)引腳均配有雙工電路用以完成讀寫操作,還具備完備的模擬功能組件。值得一提的是,AMD、鎂光、英偉達(dá)、三星、SK海力士相繼宣布對GDDR7標(biāo)準(zhǔn)表示支持。繼三星在英偉達(dá)GTC 2024大會上展示GDDR7顯存后,系列顯存顆粒K4VAF325ZC-SC32與K4VAF325ZC-SC28現(xiàn)已登陸三星半導(dǎo)體官網(wǎng)上線,分別可支持28Gbps/32Gbps的速率 and 16Gb的單顆容量。
SK海力士方面透露目前正在致力于研發(fā)更高速度的顯存模組,目標(biāo)設(shè)為了更為強(qiáng)大的40Gbps。業(yè)內(nèi)預(yù)測,首批采用GDDR7顯存的產(chǎn)品或?qū)⒂谀陜?nèi)問世,其中包括備受期待的英偉達(dá)RTX 50系列顯卡。
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