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硅單晶不同晶向下的不同位錯(cuò)表現(xiàn)介紹

中科院半導(dǎo)體所 ? 來(lái)源:晶格半導(dǎo)體 ? 2024-04-03 10:08 ? 次閱讀

本文介紹了硅單晶不同晶向下的不同位錯(cuò)表現(xiàn)。

<111>晶向:位錯(cuò)腐蝕坑的形狀主要呈三角形腐蝕坑

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<100>晶向:位錯(cuò)腐蝕坑的形狀主要呈正方形腐蝕坑

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<110>晶向:位錯(cuò)腐蝕坑的形狀主要呈立方體腐蝕坑

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在硅單晶面上,不同的腐蝕劑和不同的腐蝕時(shí)間也會(huì)影響位錯(cuò)坑的狀態(tài)。下圖是<111>面腐蝕坑,由三角行的變成圓形的凹坑。其主要原因是因?yàn)楦g劑和腐蝕時(shí)間的不同使得晶體中各個(gè)方向的腐蝕速度不同造成的。

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審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:硅單晶不同晶向下的位錯(cuò)表現(xiàn)

文章出處:【微信號(hào):bdtdsj,微信公眾號(hào):中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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