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詳解盤(pán)中孔工藝與空洞的關(guān)系

jf_17722107 ? 來(lái)源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-05-27 09:00 ? 次閱讀

PCB設(shè)計(jì)中,過(guò)孔(via)是一種常見(jiàn)的連接方式,它可以將不同層的線(xiàn)路相連,或者提供元器件的焊接位置。過(guò)孔有多種類(lèi)型,其中一種是盤(pán)中孔(via in pad),即將過(guò)孔打在SMD或BGA焊盤(pán)上,然后用樹(shù)脂塞住孔并在表面電鍍一層銅,使得焊盤(pán)上看不到孔。

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圖1.BGA焊盤(pán)盤(pán)中孔

盤(pán)中孔的優(yōu)缺點(diǎn)

盤(pán)中孔(Vid in Pad)是HDI(高密度互聯(lián))板的基本架構(gòu),其優(yōu)勢(shì)明顯:降低板間距離及信號(hào)傳輸距離,對(duì)降低信號(hào)干擾及損耗有益;電鍍填銅實(shí)心孔可以有效降低孔內(nèi)寄生信號(hào)及寄生電感,利于高頻信號(hào)的傳輸;有效減低成品板厚、提高單位面積內(nèi)的布線(xiàn)密度等。

但是盤(pán)中孔也有一些缺點(diǎn),比如成本高,制作周期長(zhǎng),容易產(chǎn)生氣泡等。其中最嚴(yán)重的問(wèn)題是空洞(void),即在焊點(diǎn)內(nèi)部形成的氣泡或空隙。空洞會(huì)影響焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度和熱傳導(dǎo)性能,導(dǎo)致焊接不良或失效。因此,在設(shè)計(jì)和制造盤(pán)中孔時(shí),需要注意避免或減少空洞的產(chǎn)生。

空洞的產(chǎn)生原因:

1.樹(shù)脂塞孔不充分或不均勻。樹(shù)脂塞孔是盤(pán)中孔的關(guān)鍵工藝之一,它需要將過(guò)孔完全填充并固化,以防止錫膏流入過(guò)孔。如果樹(shù)脂塞孔不充分或不均勻,會(huì)導(dǎo)致過(guò)孔內(nèi)部有殘留的空氣或樹(shù)脂收縮造成的縫隙,這些空間會(huì)在焊接時(shí)被錫膏填充,并形成空洞。
2.電鍍蓋帽不平整或不牢固。電鍍蓋帽是在樹(shù)脂塞孔后,在焊盤(pán)表面鍍上一層銅,以增加焊接面積和潤(rùn)濕性。如果電鍍蓋帽不平整或不牢固,會(huì)導(dǎo)致錫膏與銅層之間有間隙或分離現(xiàn)象,這些間隙或分離處也會(huì)形成空洞。
3.錫膏本身含有氧氣或其他雜質(zhì)。錫膏是用來(lái)連接元器件和PCB的金屬材料,它通常含有一定比例的助焊劑和其他添加劑。這些助焊劑和添加劑在高溫下會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或揮發(fā),產(chǎn)生氧氣或其他氣體。
4.焊接溫度不合適。焊接溫度是影響錫膏流動(dòng)性和潤(rùn)濕性的重要因素。如果溫度過(guò)高或加熱時(shí)間過(guò)長(zhǎng),會(huì)導(dǎo)致錫膏過(guò)度氧化或揮發(fā),產(chǎn)生大量氣體;如果溫度過(guò)低或加熱時(shí)間過(guò)短,會(huì)導(dǎo)致錫膏流動(dòng)性差或凝固過(guò)快,阻礙氣體排出。

如何避免盤(pán)中孔的空洞問(wèn)題

1.優(yōu)化樹(shù)脂塞孔工藝。樹(shù)脂塞孔工藝需要控制好樹(shù)脂的類(lèi)型、粘度、溫度、壓力、時(shí)間等參數(shù),以保證樹(shù)脂能夠充分且均勻地填充過(guò)孔,并在固化后不產(chǎn)生收縮或開(kāi)裂。
2.優(yōu)化電鍍蓋帽工藝。電鍍蓋帽工藝需要控制好電鍍液的成分、溫度、濃度、電流、時(shí)間等參數(shù),以保證電鍍層能夠平整且牢固地覆蓋在焊盤(pán)上,并與樹(shù)脂和基板有良好的附著力。同時(shí),需要選擇合適的減銅方法,以去除多余的銅和保持表面平整。
3.選擇和使用合適的錫膏。錫膏的選擇和使用需要考慮其與元器件和PCB的匹配性、潤(rùn)濕性、氧化性、揮發(fā)性等特性,以減少氣體的產(chǎn)生和殘留。
4.優(yōu)化焊接溫度和時(shí)間。焊選擇合適的回流溫度和時(shí)間,以保證錫膏充分潤(rùn)濕和流動(dòng)。

福英達(dá)錫膏

深圳福英達(dá)能夠生產(chǎn)高品質(zhì)、高性能、高可靠性的錫膏,適用于各種PCB設(shè)計(jì)和制造工藝,包括盤(pán)中孔、微孔等。

審核編輯 黃宇

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