使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對DUT進(jìn)行EMI測試實驗方案

實驗背景：

在電子設(shè)備的設(shè)計與制造流程中，電磁干擾（EMI）占據(jù)著舉足輕重的地位，是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運作時可能釋放出高強度的電磁輻射，進(jìn)而對周邊設(shè)備的穩(wěn)定運行構(gòu)成潛在威脅。我們借助EMI掃描儀、近場探頭以及頻譜分析儀等尖端工具，來精準(zhǔn)地識別并鎖定這些干擾源頭。通過集成高效能的測試設(shè)備，實現(xiàn)對電子設(shè)備電磁輻射特性的全面剖析。

實驗?zāi)康模?/strong>1、識別設(shè)備或電路板上的電磁干擾源2、測量干擾的頻率和強度3、定位潛在的干擾區(qū)域并評估其對周邊設(shè)備的影響

實驗設(shè)備：OI-EASU432型EMI掃描儀和軟件：作為高精度的電磁輻射測量與分析工具，該掃描儀能夠精確操控探頭位置與掃描軌跡，確保對被測設(shè)備（DUT）的全面覆蓋。通過自動化掃描與先進(jìn)的軟件控制，我們能夠顯著減少人工干預(yù)，提升測試效率與精度。OI-ICSET40GHz無源近場探頭組：作為EMI表面掃描的核心組件，這些探頭能夠敏銳捕捉DUT表面的局部電磁場強度，無論是電場還是磁場，均能依據(jù)實際需求靈活選擇。它們將捕捉到的信號傳輸至頻譜分析儀進(jìn)行進(jìn)一步處理。FSV3044頻譜分析儀：頻譜分析儀用于實時測量和分析近場探頭采集到的電磁信號的頻率和強度，為后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和分析提供支持。

實驗測試設(shè)備連接：根據(jù)需要選擇電場探頭或磁場探頭，將近場探頭安裝在掃描儀的探頭支架上，確保其能準(zhǔn)確接觸或靠近DUT的表面。探頭的校準(zhǔn)和配置由測試軟件控制，確保整個掃描過程中的數(shù)據(jù)一致性。將探頭信號通過掃描儀或直接連接至頻譜分析儀，并通過軟件進(jìn)行設(shè)備配置（如頻率范圍、分辨率帶寬等）。將DUT放置在掃描儀的工作區(qū)域，確保其在正常工作狀態(tài)下接受掃描測試。

實驗步驟：1.設(shè)備安裝與校準(zhǔn)：安裝好近場探頭，并確保掃描儀與頻譜分析儀正常連接到測試軟件，被測裝置應(yīng)通電并進(jìn)行運行檢查，以確保設(shè)備正常運行。2.掃描與頻譜分析：在測試軟件中設(shè)定掃描路徑、頻率范圍和數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動自動掃描與頻譜分析。3.數(shù)據(jù)采集與實時監(jiān)測：測試軟件實時采集和處理掃描與頻譜數(shù)據(jù)，并以圖形方式顯示在用戶界面上。4.數(shù)據(jù)分析：軟件自動分析采集的數(shù)據(jù)，識別并標(biāo)記異常干擾源。5.報告生成與管理：測試軟件支持自動生成格式化的測試報告，并提供強大的數(shù)據(jù)管理功能，支持不同測試項目的數(shù)據(jù)分類。